IO-Link设备测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种IO

【技术实现步骤摘要】
IO
‑
Link设备测试装置


[0001]本专利技术涉及IO
‑
Link设备
，尤其涉及一种IO
‑
Link设备测试装置。

技术介绍

[0002]IO
‑
Link技术是工业4.0设备层(传感器和执行器)的通讯标准，在2015年成为国际标准IEC61131
‑
9。IO
‑
Link是一种双向点对点通讯，一个接口可传输多种数据，数据包括底层设备(传感器和执行器)的参数、诊断信息、过程数据等。IO
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Link技术通过数字化通信的方式将底层设备(传感器和执行器)与上层的管理系统进行集成，解决了自动化系统中最底层的通讯问题，因此IO
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Link技术也被誉为工业4.0最后一公里技术。可见，对IO
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Link设备进行测试具有相当的实际意义。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的目的在于提出一种IO
‑
Link设备测试装置，以对待测试IO
‑
Link设备进行测试。
[0004]为达到上述目的，本专利技术实施例提出了一种IO
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Link设备测试装置，包括：设备测试工具和主机，所述主机具有多个IO
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Link标准接口，所述IO
‑
Link标准接口用以连接IO
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Link设备，所述设备测试工具用于：连接所述主机，并通过所述主机确定待测试IO
‑
Link设备，以及通过所述主机对所述待测试IO
‑
Link设备进行测试。
[0005]本专利技术实施例的IO
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Link测试设备，设置设备测试工具与主机，该主机设置多个IO
‑
Link标准接口并通过该IO
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Link标准接口与待测试IO
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Link设备连接，进而设备测试工具可以利用该主机对待测试的IO
‑
Link设备进行测试。由此，可以实现对待测试IO
‑
Link设备进行测试。
[0006]本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0007]图1是本专利技术第一实施例的IO
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Link设备测试装置的结构框图。
[0008]图2是本专利技术一个实施例的IO
‑
Link设备测试装置的工作流程图；
[0009]图3是本专利技术第二实施例的IO
‑
Link设备测试装置的结构框图；
[0010]图4是本专利技术第三实施例的IO
‑
Link设备测试装置的结构框图；
[0011]图5是本专利技术一个示例的IO
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Link设备测试装置的结构示意图；
[0012]图6是本专利技术第一示例的IO
‑
Link设备测试装置的工作流程图；
[0013]图7是本专利技术第二示例的IO
‑
Link设备测试装置的工作流程图；
[0014]图8是本专利技术第三示例的IO
‑
Link设备测试装置的工作流程图；
[0015]图9是本专利技术第四示例的IO
‑
Link设备测试装置的工作流程图；
[0016]图10是本专利技术第五示例的IO
‑
Link设备测试装置的工作流程图。
具体实施方式
[0017]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0018]下面参考附图描述本专利技术实施例的IO
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Link设备测试装置。
[0019]图1是本专利技术一个实施例的IO
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Link设备测试装置的结构框图。
[0020]如图1所示，IO
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Link设备测试装置10包括设备测试工具20、主机30。其中，该主机30具有多个IO
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Link标准接口301，IO
‑
Link标准接口301用以连接IO
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Link设备。
[0021]具体地，上述设备测试工具20用于连接主机30，并通过主机30确定待测试IO
‑
Link设备40，以及通过主机30对待测试IO
‑
Link设备40进行测试。由此，可以实现对待测试IO
‑
Link设备40进行测试。
[0022]其中，上述设备测试工具20内部保存有测试软件，以对待测试IO
‑
Link设备40进行测试；上述主机30内部存储有IO
‑
Link协议，该主机30内还可安装相应的软件以实现主机30对应的功能。
[0023]需要说明的是，上述多个IO
‑
Link标准接口301中的每个标准接口均可与一个待测试IO
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Link设备40连接，也可不与待测试IO
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Link设备40连接。即，上述待测试IO
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Link设备40可以为至少一个。
[0024]在本专利技术的一个实施例中，上述设备测试工具20连接主机30时，具体用于：设备测试工具20接收自动扫描指令，并根据自动扫描指令查找自身的所有COM端口，并随机确定一个可连接主机30的COM端口，并通过该COM端口与主机30连接；或者，设备测试工具20接收手动连接指令，并根据手动连接指令显示自身的所有端口以供选择，接收端口选择指令，并根据端口选择指令确定与主机30连接的COM端口，并通过该COM端口与主机30连接。由此，可以实现设备测试工具20具有自动与手动两种连接主机30的方式。
[0025]在本专利技术的一个实施例中，如图2所示，上述设备测试工具20在通过主机30对待测试IO
‑
Link设备40进行测试时，具体用于：
[0026]S21，查找与待测试IO
‑
Link设备对应的IODD文件，并根据IODD文件对待测试IO
‑
Link设备进行测试参数配置。
[0027]具体地，设备测试工具20获取历史文件，并从历史文件查找IODD文件；或者，设备测试工具20从预设的IODD资源库查找IODD文件；或者，设备测试工具20接收IODD文件选择指令，并根据IODD文件选择指令查找IODD文件。其中，上述查找与待测试IO
‑
Link设备40对应的IODD文件的方法优选为从历史文件中查找IODD文件；例如，可以设置从历史文件中查找IODD文件为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IO
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Link设备测试装置，其特征在于，包括：设备测试工具和主机，所述主机具有多个IO
‑
Link标准接口，所述IO
‑
Link标准接口用以连接IO
‑
Link设备，所述设备测试工具用于：连接所述主机，并通过所述主机确定待测试IO
‑
Link设备，以及通过所述主机对所述待测试IO
‑
Link设备进行测试。2.如权利要求1所述的IO
‑
Link设备测试装置，其特征在于，所述设备测试工具在通过所述主机对所述待测试IO
‑
Link设备进行测试时，具体用于：查找与所述待测试IO
‑
Link设备对应的IODD文件，并根据所述IODD文件对所述待测试IO
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Link设备进行测试参数配置；获取测试需求，并根据所述测试需求选择测试用例；根据所配置的测试参数和所选择的测试用例，通过所述主机对所述待测试IO
‑
Link设备进行测试；其中，所述设备测试工具还用于根据所述主机反馈的测试结果，生成测试报告。3.如权利要求2所述的IO
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Link设备测试装置，其特征在于，所述主机包括USB驱动芯片、单片机和多个IO
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Link物理层驱动芯片，其中，所述USB驱动芯片用于实现所述主机与所述设备测试工具的连接；所述多个IO
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Link物理层驱动芯片与所述多个IO
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Link标准接口一一对应，所述IO
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Link物理层驱动芯片与对应的IO
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Link标准接口连接；所述单片机与所述USB驱动芯片、所述多个IO
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Link物理层驱动芯片分别连接，用于通过所述USB驱动芯片接收所述设备测试工具发送的测试指令，并根据所述测试指令通过所述多个IO
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Link物理层驱动芯片执行与IO
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Link设备的通信，以便所述设备测试工具确定所述待测试IO
‑
Link设备，以及通过所述USB驱动芯片接收所述设备测试工具发送的测试参数和测试用例，以对所述待测试IO
‑
Link设备进行测试，并将测试结果通过所述USB驱动芯片反馈至所述设备测试工具，以便所述设备测试工具生成所述测试报告。4.如权利要求1所述的IO
‑
Link设备测...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾洁洁，张伟，孔令双，吴国进，周松，闫宇，刘聪，
申请(专利权)人：合肥安胜智能电子有限公司，
类型：发明
国别省市：