一种锗多晶电阻率测试装置制造方法及图纸

技术编号:30669170 阅读:20 留言:0更新日期:2021-11-06 08:50
本实用新型专利技术公开了一种锗多晶电阻率测试装置,涉及锗加工用结构技术领域。本实用新型专利技术包括测量平台、活动件和测试件,测量平台上中部连接有固定平台,活动件包括第一滑道、端面固定滑块、端面移动滑块和支撑移动滑块,固定平台上一侧第一滑道的前后端相对应连接有端面固定滑块和端面移动滑块,并在其上中部两侧阻尼连接有支撑移动滑块,测试件包括第二滑道、探头移动滑块和测试头,固定平台上另一侧第二滑道上端通过探头移动滑块滑动连接有支撑立柱,支撑立柱一侧上部夹座的前端通过支撑横杆连接有测试头。本实用新型专利技术通过设置活动件和测试件,具有提高测试精准度,适用于多长度锗测试定位的优点。锗测试定位的优点。锗测试定位的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种锗多晶电阻率测试装置


[0001]本技术属于锗加工用结构
,特别是涉及一种锗多晶电阻率测试装置。

技术介绍

[0002]锗是一种化学元素,锗单质是一种灰白色准金属,有光泽,质硬,属于碳族,化学性质与同族的锡与硅相近,不溶于水、盐酸、稀苛性碱溶液,溶于王水、浓硝酸或硫酸,具有两性,故溶于熔融的碱、过氧化碱、碱金属硝酸盐或碳酸盐,在空气中较稳定,而锗在加工过程中,需对其进行电阻率的测量,但它在实际使用中仍存在以下弊端:
[0003]1、现有的电阻率测试装置,一般通过定长度固定结构进行锗的定位,适用不了多长度尺寸锗的测试定位;
[0004]2、现有的电阻率测试装置,一般直接通过人为把控测试头进行锗的测试,精准度不高。
[0005]因此,现有的锗多晶电阻率测试装置,无法满足实际使用中的需求,所以市面上迫切需要能改进的技术,以解决上述问题。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种锗多晶电阻率测试装置,通过设置活动件和测试件,解决了现有电阻率测试装置,一般通过定长度固定结构进行锗的定位,适用不了多长度尺寸锗的测试定位,同时,现有的电阻率测试装置,一般直接通过人为把控测试头进行锗的测试,精准度不高的问题。
[0007]为解决上述技术问题,本技术是通过以下技术方案实现的:
[0008]本技术为一种锗多晶电阻率测试装置,包括测量平台、活动件和测试件,所述测量平台上中部连接有固定平台,所述活动件包括第一滑道、端面固定滑块、端面移动滑块和支撑移动滑块,且固定平台上一侧第一滑道的前后端相对应连接有端面固定滑块和端面移动滑块,并在其上中部两侧阻尼连接有支撑移动滑块,所述测试件包括第二滑道、探头移动滑块和测试头,且固定平台上另一侧第二滑道上端通过探头移动滑块滑动连接有支撑立柱,所述支撑立柱一侧上部夹座的前端通过支撑横杆连接有测试头,且支撑立柱上中部等距离贯穿开设的连接孔内中部贯穿夹座连接有连接柱,所述第二滑道中部等距离贯穿开设有定位孔。
[0009]进一步地,所述测量平台底中部通过紧固螺栓螺纹连接有支座,且支座底中部固定连接有防滑块,固定平台通过上一侧中部的L型块与第二滑道间连接,由紧固螺栓进行支座结构的连接,进行该装置的支撑固定,而通过防滑块与地面的接触摩擦,提升支座防滑性,以及通过L型块进行第二滑道的连接。
[0010]进一步地,所述固定平台上中部套接连接有刻度尺,且固定平台通过上一侧端部的支块与第一滑道间连接,测量平台通过两侧上中部的连接件与固定平台间连接,由刻度
尺进行移动距离读数,而通过支块以及连接件进行第一滑道、固定平台的结构连接。
[0011]进一步地,所述连接件包括铰链和连接板,且测量平台两侧上中部铰链的上端连接有连接板,所述连接板通过正两侧中部的螺柱与固定平台间连接,且连接板正中部连接有活动把手,由铰链进行连接板的结构活动连接,而通过螺柱进行连接板与固定平台的连接,用于测量平台、固定平台间的连接,以及通过活动把手进行连接板开合作业,实现固定平台的拆装。
[0012]进一步地,所述第一滑道一侧中部等距离开设有限位孔,且限位孔内中部贯穿端面移动滑块连接有限位柱,端面移动滑块、端面固定滑块以及支撑移动滑块底中部为向下凸起设置,由限位柱在限位孔内中部结构的连接,进行移动后端面移动滑块结构的定位,而将端面移动滑块、端面固定滑块以及支撑移动滑块底中部为向下凸起设置,用于其滑动时力的施加。
[0013]进一步地,所述探头移动滑块后上中部与L型板内侧上中部的伸缩杆间活动连接,且L型板内侧下部固定连接有定位柱,定位柱贯穿定位孔内中部设置,由定位柱与定位孔间的连接,对连接有伸缩杆的L型板进行定位,而通过伸缩杆进行探头移动滑块滑动时力的施加。
[0014]本技术具有以下有益效果。
[0015]本技术通过设置活动件,具有适用于多长度锗测试定位固定,满足使用需求的效果,解决了现有的电阻率测试装置,一般通过定长度固定结构进行锗的定位,适用不了多长度尺寸锗测试定位的问题,活动件包括的阻尼连接的支撑移动滑块进行锗的支撑作业,通过对端面移动滑块施加推动的力,由其在第一滑道上端的滑动,进行其长度调节,以确保进行相适应长度锗的测试定位,以满足测试使用需求。
[0016]本技术通过设置测试件,具有通过采用等距离测试法,提高测试精准度的效果,解决了现有的电阻率测试装置,一般直接通过人为把控测试头进行锗的测试,精准度不高的问题,测试件包括的第二滑道中部等距离贯穿开设有定位孔,在外界控制端的作用下,可通过伸缩杆进行测试头的定距离位移,以通过多次定距离测试,提高测试精准度,而测试头可通过连接柱、连接孔进行上下高度调节,满足不同厚度锗的测试需求。
[0017]当然,实施本技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本技术外观俯视结构示意图;
[0020]图2为本技术万贯仰视结构示意图;
[0021]图3为本技术测试件组成结构示意图;
[0022]图4为本技术连接件组成结构示意图。
[0023]附图中,各标号所代表的部件列表如下:
[0024]1、活动件;101、第一滑道;102、端面固定滑块;103、端面移动滑块;104、支撑移动
滑块;2、测试件;201、第二滑道;202、探头移动滑块;203、定位柱;204、定位孔;205、测试头;206、夹座;207、连接孔;208、连接柱;3、测量平台;4、固定平台;5、连接件;501、铰链;502、连接板;503、螺柱;504、活动把手;6、紧固螺栓;7、支座;8、防滑块;9、L型块;10、刻度尺;11、限位柱;12、限位孔;13、L型板;14、伸缩杆;15、支撑立柱;16、支撑横杆;17、支块。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0026]请参阅图1

4所示,本技术为一种锗多晶电阻率测试装置,包括测量平台3、活动件1和测试件2,测量平台3上中部连接有固定平台4,活动件1包括第一滑道101、端面固定滑块102、端面移动滑块103和支撑移动滑块104,且固定平台4上一侧第一滑道101的前后端相对应连接有端面固定滑块102和端面移动滑块103,并在其上中部两侧阻尼连接有支撑移动滑块104,测试件2包括第二滑道201、探头移动滑块202和测试头205,且固定平台4上另一侧第二滑道201上端通过探头移动滑块202滑动连接有支撑立柱15,支撑立柱15一侧上部夹座206的前端通过支本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种锗多晶电阻率测试装置,包括测量平台(3)、活动件(1)和测试件(2),其特征在于:所述测量平台(3)上中部连接有固定平台(4),所述活动件(1)包括第一滑道(101)、端面固定滑块(102)、端面移动滑块(103)和支撑移动滑块(104),且固定平台(4)上一侧第一滑道(101)的前后端相对应连接有端面固定滑块(102)和端面移动滑块(103),并在其上中部两侧阻尼连接有支撑移动滑块(104),所述测试件(2)包括第二滑道(201)、探头移动滑块(202)和测试头(205),且固定平台(4)上另一侧第二滑道(201)上端通过探头移动滑块(202)滑动连接有支撑立柱(15),所述支撑立柱(15)一侧上部夹座(206)的前端通过支撑横杆(16)连接有测试头(205),且支撑立柱(15)上中部等距离贯穿开设的连接孔(208)内中部贯穿夹座(206)连接有连接柱(207),所述第二滑道(201)中部等距离贯穿开设有定位孔(204)。2.根据权利要求1所述的一种锗多晶电阻率测试装置,其特征在于,所述测量平台(3)底中部通过紧固螺栓(6)螺纹连接有支座(7),且支座(7)底中部固定连接有防滑块(8),固定平台(4)通过上一侧中部的L型块(9)与第二滑道(201)间连接。3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:崔丁方彭明清廖吉伟王侃李恒方陈知江何兴军子光平缪彦美袁外琼黄秀英陈芮朱家义周雪娟
申请(专利权)人:云南驰宏国际锗业有限公司
类型:新型
国别省市:

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