质量分析装置制造方法及图纸

技术编号:30660487 阅读:44 留言:0更新日期:2021-11-06 08:33
本发明专利技术涉及质量分析装置,第1喷雾部(201)使第1试样带电的同时将其喷雾至第1空间(20)内。第2喷雾部(202)使第2试样带电的同时将其喷雾至第1空间(20)内或与第1空间(20)连通的第2空间(21)内。判定部(62)判定有无来自第2喷雾部(202)的第2试样的喷雾。气体供给部(74)对第1空间(20)内供给气体。控制部(63)控制来自气体供给部(74)的气体的供给。控制部(63)在由判定部(62)判定为有来自第2喷雾部(202)的第2试样的喷雾的情况下,使从气体供给部(74)向第1空间(20)内的气体的供给开始。1空间(20)内的气体的供给开始。1空间(20)内的气体的供给开始。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】质量分析装置


[0001]本专利技术涉及质量分析装置。

技术介绍

[0002]作为对液体试样中所含的成分进行分析的装置的一例,已知有质量分析装置(例如,参照下述专利文献1及2)。质量分析装置具备离子源及质量分析部。在离子源中,试样中的成分在离子化室内被离子化。被离子化的试样中的成分在质量分析部中根据质荷比被分离,检测被分离的各成分。
[0003]例如在专利文献1所公开的质量分析装置中,在离子源设置有2个探针。一个探针是使分析对象试样成为带电的微小液滴而向离子化室内喷雾的主探针。另一个探针是使质量校正用的标准试样成为带电的微小液滴而向离子化室内喷雾的副探针。
[0004]在专利文献2中,作为液相色谱仪质量分析装置中使用的离子化探针的一例,公开了将流动相的流量抑制在nL/min水平到μL/min水平的纳升ESI和微升ESI。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1:国际公开第WO2017/056173号
[0008]专利文献2:国际公开第WO2019/053847号...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种质量分析装置,其特征在于,具备:第1喷雾部,对第1空间内喷雾第1试样;第2喷雾部,对所述第1空间内或与所述第1空间连通的第2空间内喷雾第2试样;判定部,判定有无来自所述第2喷雾部的所述第2试样的喷雾;气体供给部,对所述第1空间内供给防止喷雾的所述第2试样或来自该第2试样的离子到达所述第1喷雾部的气体;控制部,控制来自所述气体供给部的气体的供给,所述控制部在由所述判定部判定为有来自所述第2喷雾部的所述第2试样的喷雾的情况下,使从所述气体供给部向所述第1空间内的气体的供给开始。2.如权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,所述气体供给部将用于使所述第1试样雾化的喷雾气体从所述第1喷雾部供给至所述第1空间内,所述控制部在由所述判定部判定为有来自所述第2喷雾部的所述第2试样的喷雾的情况下,使从所述第1喷雾部向所述第1空间内的喷雾气体的供给开始。3.如权利要求1所述的质量分析装置,其特征在于,所述气体供给部将用...

【专利技术属性】
技术研发人员:工藤朋也
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:

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