复合式离子源、质谱分析装置和方法制造方法及图纸

技术编号:30430849 阅读:43 留言:0更新日期:2021-10-24 17:23
本发明专利技术提供了复合离子源、质谱分析装置和方法,所述复合离子源包括灯丝、磁铁以及真空紫外灯;第一真空室具有样品进口,所述灯丝设置在所述第一真空室的侧部,灯丝产生的电子在所述磁铁作用下进入所述第一真空室;第二真空室具有离子出口,所述真空紫外灯设置在所述第二真空室的侧部,所述第一真空室和第二真空室间具有连通通道;电子偏转电极用于偏转所述灯丝产生的电子,使得电子远离所述连通通道;反射镜用于反射所述真空紫外灯的出射光,驱动单元通过调整所述反射镜的位置而控制所述出射光进入所述第二真空室与否。本发明专利技术具有分析效率高、准确等优点。准确等优点。准确等优点。

【技术实现步骤摘要】
复合式离子源、质谱分析装置和方法


[0001]本专利技术涉及质谱分析领域,特别涉及复合式离子源、质谱分析装置和方法。

技术介绍

[0002]在质谱分析领域,常见的都为单一离子源的使用,单一离子源都或多或少尤其一定的缺点,如单EI源,其电离能力过强,碎片离子较多,对复杂混合物的分析困难;SPI源是一种软电离源,生成离子基本为分子离子峰,碎片离子少,但定量分析没有EI准确。
[0003]目前,已出现结合EI与SPI两种离子源的复合离子源,这种复合离子源的不足在于:
[0004]1.不是真正的复合离子源;
[0005]结构上将两种离子源设置在一个电离室内,而EI源中的灯丝从通电到稳定工作有7

8秒的时间,SPI源的真空紫外灯起辉时间在2s左右,可见,各自独立工作的两个离子源无法做到快速切换;
[0006]频繁切换中,频繁通断会降低真空紫外灯的寿命。
[0007]2.干扰严重;
[0008]鉴于在结构上是将两种源放在同一个电离室内,当以较高频率做切换时,两个离子源工作可能会互相干扰,如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.复合离子源,所述复合离子源包括灯丝、磁铁以及真空紫外灯,;其特征在于,所述复合离子源还包括:第一真空室,所述第一真空室具有样品进口,所述灯丝设置在所述第一真空室的侧部,灯丝产生的电子在所述磁铁作用下进入所述第一真空室;第二真空室,所述第二真空室具有离子出口,所述真空紫外灯设置在所述第二真空室的侧部,所述第一真空室和第二真空室间具有连通通道;电子偏转电极,所述电子偏转电极用于偏转所述灯丝产生的电子,使得电子远离所述连通通道;反射镜及其驱动单元,所述反射镜用于反射所述真空紫外灯的出射光,所述驱动单元通过调整所述反射镜的位置而控制所述出射光进入所述第二真空室与否。2.根据权利要求1所述的复合离子源,其特征在于,所述样品进口、连通通道和离子出口均处于同一直线上。3.根据权利要求2所述的复合离子源,其特征在于,所述灯丝产生的电子沿着垂直于所述直线的方向前进,或者,进入所述第二真空室的出射光垂直于所述直线。4.根据权利要求1所述的复合离子源,其特征在于,所述复合离子源还包括:第一离子传输单元,通过所述电源调节所述第一离子传输单元的供电电压,使得所述第一离子传输单元用于推动所述第一真空室内的离子朝着或背离所述连通通道移动。5.根据权利要求4所述的复合离子源,其特征在于,所述第一离子传输单元包括第一电极和第二电极,所述第二电极具有允许离子穿过的通孔;所述第一电极、样品进口、第二电极和连通通道依次设置。6.质谱分析装置,所述质谱分析装置包括离子源和质量分析器;其特征在于,所述离子源采用权利要求1

5中任一项所述的复合式离子源,所述复合式离子源出射的离子进入所述质量分析器,所述质量分析器采用飞行时间质量分析器。7.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:王堉伦马乔段炼孙运娄建秋刘立鹏
申请(专利权)人:杭州谱育科技发展有限公司
类型:发明
国别省市:

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