高灵活性芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，具体的说是高灵活性芯片测试治具，包括：固定组件，所述固定组件包括有底座，所述底座内部设置有磁吸槽，所述磁吸槽内部磁力连接有磁吸脚；芯片测试治具本体，所述芯片测试治具本体包括有测试仓，所述测试仓下表面固定连接有磁吸脚；本实用新型专利技术通过转动丝杆可以调整传动板的高度，从而可以调整对芯片的压力，使得操纵人员可以根据需要调整测试治具的压力，通过将芯片放入测试仓内进行压紧操作后完成快速测试，本实用新型专利技术通过测试板进行与芯片进行连接，然后通过USB接口进行数据传输，检测测试芯片的好坏，本实用新型专利技术通过按动按钮，解除卡杆与卡扣的卡紧连接，可以将芯片取出，完成快速测试。完成快速测试。完成快速测试。

【技术实现步骤摘要】
高灵活性芯片测试治具


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体而言，涉及高灵活性芯片测试治具。

技术介绍

[0002]电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路；从1949年到1957年，维尔纳
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雅各比、杰弗里
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杜默、西德尼
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达林顿、樽井康夫都开发了原型，但现代集成电路是由杰克
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基尔比在1958年专利技术的。其因此荣获2000年诺贝尔物理奖，但同时间也发展出近代实用的集成电路的罗伯特
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诺伊斯，却早于1990年就过世；
[0003]在芯片生产中，会存在一些不良品在其中，性能不达标甚至不能使用，所述在生产芯片结束后需要用到测试治具对芯片进行测试。
[0004]但是，上述方案在使用中存在如下缺陷：传统的芯片治具在进行测试时，需要将芯片放入测试治具中进行测试，传统的测试治具在进行固定时间，需要对芯片位置进行校对，耗费时间长，使得芯片测试时间长，而且传统的测试治具常采用按压式对芯片进行固定，可能会对芯片造成损伤，挤压固定的力度也不能进行调节。

技术实现思路

[0005]本技术的主要目的在于提供高灵活性芯片测试治具，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0007]高灵活性芯片测试治具，包括：固定组件，所述固定组件包括有底座，所述底座内部设置有磁吸槽，所述磁吸槽内部磁力连接有磁吸脚；芯片测试治具本体，所述芯片测试治具本体包括有测试仓，所述测试仓下表面固定连接有磁吸脚，所述测试仓表面一侧固定连接有转杆，所述转杆外部活动连接有测试盖，所述测试仓上表面活动连接有测试盖，所述测试盖内部活动连接有丝杆，所述丝杆下端活动连接有传动板。
[0008]作为优选，所述丝杆上端固定连接有转盘，所述转盘上表面固定连接有把手。
[0009]作为优选，所述传动板下端固定连接有第一弹簧组，所述第一弹簧组下端固定连接有压板。
[0010]作为优选，所述测试仓底部固定安装有测试板，所述测试仓远离转杆的有一侧固定安装有USB接口。
[0011]作为优选，所述测试盖靠近USB接口的一侧下表面固定连接有卡扣，所述卡扣卡紧连接有卡杆。
[0012]作为优选，所述卡杆靠近转杆的一侧固定连接有联动杆，所述联动杆通过第二弹簧组活动安装于测试仓外壁内部，所述联动杆远离转杆的一端穿过测试仓外壁固定连接有按钮。
[0013]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0014]本技术通过磁吸槽可以磁吸脚进行磁力链接，使得芯片测试治具本体可以底座进行磁力链接固定，本技术通过转动丝杆可以调整传动板的高度，从而可以调整对芯片的压力，使得操纵人员可以根据需要调整测试治具的压力，通过将芯片放入测试仓内进行压紧操作后完成快速测试，本技术通过测试板进行与芯片进行连接，然后通过USB接口进行数据传输，通过数据线进行传输，检测测试芯片的好坏，本技术通过第二弹簧组使得联动杆可以受力，使得卡杆可以与卡扣进行拉紧连接，使得在进行芯片挤压测试时测试盖不会打开影响测试，通过按动按钮，解除卡杆与卡扣的卡紧连接，可以将芯片取出，完成快速测试。
附图说明
[0015]图1为本技术高灵活性芯片测试治具的整体结构示意图；
[0016]图2为本技术高灵活性芯片测试治具的前视结构示意图；
[0017]图3为本技术高灵活性芯片测试治具的底座整体结构示意图；
[0018]图4为本技术高灵活性芯片测试治具的左视内部结构示意图；
[0019]图5为本技术高灵活性芯片测试治具的图4中A处结构示意图。
[0020]图中：1、固定组件；101、底座；102、磁吸槽；2、芯片测试治具本体；201、测试仓；202、转杆；203、测试盖；204、丝杆；205、转盘；206、把手；207、USB接口；208、按钮；209、传动板；210、第一弹簧组；211、压板；212、测试板；213、磁吸脚；214、卡杆；215、卡扣；216、第二弹簧组；217、联动杆。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]实施例
[0023]如图1
‑
5所示，高灵活性芯片测试治具，包括：固定组件，所述固定组件包括有底座，所述底座内部设置有磁吸槽，所述磁吸槽内部磁力连接有磁吸脚；芯片测试治具本体，所述芯片测试治具本体包括有测试仓，所述测试仓下表面固定连接有磁吸脚，所述测试仓表面一侧固定连接有转杆，所述转杆外部活动连接有测试盖，所述测试仓上表面活动连接有测试盖，所述测试盖内部活动连接有丝杆，所述丝杆下端活动连接有传动板。
[0024]通过上述技术方案，通过底座101可以治具进行固定，通过磁吸槽102可以磁吸脚213进行磁力链接，使得芯片测试治具本体2可以底座101进行磁力链接固定通过转杆202可以开关测试盖203对芯片进行压紧操作，使得芯片可以进行测试操作，通过转动丝杆204可以调整传动板209的高度，从而可以调整对芯片的压力，使得操纵人员可以根据需要调整测试治具的压力，通过将芯片放入测试仓201内进行压紧操作后完成快速测试。
[0025]在本实施例中，丝杆204上端固定连接有转盘205，转盘205上表面固定连接有把手206传动板209下端固定连接有第一弹簧组210，第一弹簧组210下端固定连接有压板211。通过转动把手206可以转盘205可以进行转动，从而带动丝杆204进行转动，使得传动板209可
以进行上升下降操作，使得压板211通过第一弹簧组210进行传动进行上升下降运动，通过弹簧使得芯片在进行挤压固定式具有一定的缓冲，使得在进行测试时芯片可以得到保护。
[0026]在本实施例中，测试仓201底部固定安装有测试板212，测试仓201远离转杆202的有一侧固定安装有USB接口207。通过测试板212进行与芯片进行连接，然后通过USB接口207进行数据传输，通过数据线进行传输，检测测试芯片的好坏。
[0027]在本实施例中，测试盖203靠近USB接口207的一侧下表面固定连接有卡扣215，卡扣215卡紧连接有卡杆214，卡杆214靠近转杆202的一侧固定连接有联动杆217，联动杆217通过第二弹簧组216活动安装于测试仓201外壁内部，联动杆217远离转杆202的一端穿过测试仓201外壁固定连接有按钮208。通过第二弹簧组216使得联动杆217可以受力，使得卡杆214可以与卡扣215进行拉紧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.高灵活性芯片测试治具，其特征在于，包括：固定组件(1)，所述固定组件(1)包括有底座(101)，所述底座(101)内部设置有磁吸槽(102)，所述磁吸槽(102)内部磁力连接有磁吸脚(213)；芯片测试治具本体(2)，所述芯片测试治具本体(2)包括有测试仓(201)，所述测试仓(201)下表面固定连接有磁吸脚(213)，所述测试仓(201)表面一侧固定连接有转杆(202)，所述转杆(202)外部活动连接有测试盖(203)，所述测试仓(201)上表面活动连接有测试盖(203)，所述测试盖(203)内部活动连接有丝杆(204)，所述丝杆(204)下端活动连接有传动板(209)。2.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具，其特征在于：所述丝杆(204)上端固定连接有转盘(205)，所述转盘(205)上表面固定连接有把手(206)。3.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡昌水，
申请(专利权)人：深圳市山特精工有限公司，
类型：新型
国别省市：