一种工装设备以及测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种工装设备以及测试系统，工装设备包括：容纳部，用于容纳可更换部件，所述可更换部件上具有芯片，所述芯片包括若干电接口；测试部，设有若干用于与所述电接口接触的触针；第一驱动部，当向所述第一驱动部输入预定信号时，所述第一驱动部使所述测试部沿第一既定路径靠近或远离所述容纳部。与现有技术相比，本发明专利技术通过设置第一驱动部，驱动测试部到达所述第一既定路径的第二位置，使得触针与芯片的电接口接触，替代了现有的手动推动把手使测试头的触针与芯片的电接口接触的工装设备。可以自动完成测试头的移动，对芯片的操作完成后，也能够自动复位到最初位置，方便对下一个可更换部件进行维修，相对于人工操作大大增加工作的效率。增加工作的效率。增加工作的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种工装设备以及测试系统


[0001]本专利技术涉及打印设备
，特别是一种工装设备以及测试系统。

技术介绍

[0002]打印系统具有为系统提供印刷材料的可更换部件。可更换部件包括容纳印刷材料的盒或鼓，以及安装在盒或鼓上的芯片。芯片用于存储包括印刷材料更新剩余量、属性、生产日期等信息数据，以及存储用于打印系统认证可更换部件安全性的认证数据。当可更换部件销售到市场上后，往往会因为各种原因，需要对可更换部件上的芯片进行检测，或者更新芯片内的数据。此时可更换部件已经不在工厂中，没有工厂的专业设备，就需要一个能够对可更换部件上的芯片进行操作的简易设备。
[0003]现有的一种方式，简易设备中设有与芯片进行电连接的触针，简易设备通过触针和芯片建立电连接，进而检测芯片，或更新芯片内的数据。需要人工将可更换部件放入到简易设备中，并且维持触针与芯片的电连接，这样人操作起来很累，而且还容易接触不稳定。
[0004]本专利技术提供一种新的工装设备，方便对芯片进行检测、数据更新等操作。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种工装设备以及测试系统，以解决现有技术中的技术问题，它能够方便对芯片进行检测、数据更新等操作。
[0006]本专利技术提供了一种工装设备，包括：
[0007]容纳部，用于容纳可更换部件，所述可更换部件上具有芯片，所述芯片包括若干电接口；
[0008]测试部，设有若干用于与所述电接口接触的触针；
[0009]第一驱动部，设置在所述容纳部和所述测试部上，当向所述第一驱动部输入预定信号时，所述第一驱动部使所述测试部沿第一既定路径靠近或远离所述容纳部。
[0010]如上所述的一种工装设备，其中，优选的是，所述第一驱动部包括第一电磁铁以及第一吸附部，所述第一电磁铁设置在所述容纳部上以及所述第一吸附部设置在所述测试部上，或者所述第一电磁铁设置在所述测试部上以及所述第一吸附部设置在所述容纳部上；
[0011]当向所述第一电磁铁输入所述预定信号时，所述第一电磁铁产生吸附力，吸附所述第一吸附部，以驱动所述测试部靠近所述容纳部，使所述触针与所述电接口接触。
[0012]如上所述的一种工装设备，其中，优选的是，当向所述第一电磁铁输入预定信号时，所述第一电磁铁可产生排斥力，以驱动所述测试部远离所述容纳部，使所述触针与所述电接口脱离接触。
[0013]如上所述的一种工装设备，其中，优选的是，所述容纳部以及测试部之间设有第一弹性恢复部，当所述第一电磁铁失去磁性时，所述第一弹性恢复部释放弹性恢复力，驱动所述测试部远离所述容纳部，使所述触针与所述电接口脱离接触。
[0014]如上所述的一种工装设备，其中，优选的是，还设有导向构件，所述测试部包括测
试头以及测试支架，所述触针设于所述测试头上，所述测试头可升降的设置于所述测试支架上，所述测试支架可沿第一既定路径往复移动的设置于所述导向构件上。
[0015]如上所述的一种工装设备，其中，优选的是，所述容纳部的两侧还设有固定部，所述固定部可沿与所述第一既定路径垂直的第二既定路径靠近或远离所述可更换部件，以夹持或释放所述可更换部件。
[0016]如上所述的一种工装设备，其中，优选的是，所述固定部与所述测试部之间连接有联动部，当所述测试部移动至使所述触针与所述电接口接触时，所述固定部移动至夹持住所述可更换部件的位置。
[0017]如上所述的一种工装设备，其中，优选的是，所述固定部连接有第二驱动部，所述第二驱动部包括第二电磁铁以及第二吸附部，所述第二电磁铁与所述第二吸附部之间产生吸附力或排斥力，驱动所述固定部沿第二既定路径靠近或远离所述可更换部件。
[0018]如上所述的一种工装设备，其中，优选的是，所述容纳部以及所述固定部之间可设有第二弹性恢复部，所述第二弹性恢复部用于驱动所述固定部远离所述可更换部件。
[0019]本专利技术还提供了一种测试系统，包括烧录设备以及前述的工装设备，所述烧录设备通过电路接口与所述工装设备电连接。
[0020]与现有技术相比，本专利技术通过设置第一驱动部，驱动测试部到达所述第一既定路径的第二位置，使得触针与芯片的电接口接触，替代了现有的手动推动把手使测试头的触针与芯片的电接口接触的工装设备。可以自动完成测试头的移动，对芯片的操作完成后，也能够自动复位到最初位置，方便对下一个可更换部件进行维修，相对于人工操作大大增加工作的效率。
附图说明
[0021]图1是本专利技术可更换部件的轴测图；
[0022]图2a是本专利技术的测试部位于第一既定路径的第一端时的结构示意图；
[0023]图2b是本专利技术的测试部位于第一既定路径的第二端时的结构示意图；
[0024]图3是本专利技术的第一种结构的固定部的结构示意图；
[0025]图4是本专利技术的第二种结构的固定部的结构示意图；
[0026]图5a是本专利技术的第一种结构的联动部结构示意图一；
[0027]图5b是本专利技术的第一种结构的联动部结构示意图二；
[0028]图6a是本专利技术的第二种结构的联动部结构示意图一；
[0029]图6b是本专利技术的第二种结构的联动部结构示意图二；
[0030]图7a是本专利技术的第三种结构的联动部结构示意图一；
[0031]图7b是本专利技术的第三种结构的联动部结构示意图二；
[0032]图8a是本专利技术的第四种结构的联动部结构示意图一；
[0033]图8b是本专利技术的第四种结构的联动部结构示意图二。
[0034]图9是本专利技术的测试系统的结构示意图。
[0035]附图标记说明：
[0036]10
‑
可更换部件，11
‑
芯片，12
‑
电接口；
[0037]20
‑
容纳部，21
‑
容纳槽，22
‑
定位条；
[0038]30
‑
测试部，31
‑
测试头，32
‑
触针，33
‑
测试支架，34
‑
导向构件；
[0039]40
‑
第一驱动部，41
‑
第一电磁铁，42
‑
第一吸附部；
[0040]50
‑
固定部；
[0041]60
‑
联动部，611
‑
连接轴，612
‑
第一联动杆，613
‑
第二联动杆，614
‑
第三联动杆，621
‑
第一齿条，622
‑
第二齿条，623
‑
第三齿条，624
‑
齿轮组，631
‑
第一引导件，632
‑
第二引导件，633
‑
第一开口，641
‑
第三引导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工装设备，其特征在于，包括：容纳部，用于容纳可更换部件，所述可更换部件上具有芯片，所述芯片包括若干电接口；测试部，设有若干用于与所述电接口接触的触针；第一驱动部，设置在所述容纳部和所述测试部上，当向所述第一驱动部输入预定信号时，所述第一驱动部使所述测试部沿第一既定路径靠近或远离所述容纳部。2.根据权利要求1所述的工装设备，其特征在于：所述第一驱动部包括第一电磁铁以及第一吸附部，所述第一电磁铁设置在所述容纳部上以及所述第一吸附部设置在所述测试部上，或者所述第一电磁铁设置在所述测试部上以及所述第一吸附部设置在所述容纳部上；当向所述第一电磁铁输入所述预定信号时，所述第一电磁铁产生吸附力，吸附所述第一吸附部，以驱动所述测试部靠近所述容纳部，使所述触针与所述电接口接触。3.根据权利要求2所述的工装设备，其特征在于：当向所述第一电磁铁输入预定信号时还可产生排斥力，以驱动所述测试部远离所述容纳部，使所述触针与所述电接口脱离接触。4.根据权利要求2所述的工装设备，其特征在于：所述容纳部以及测试部之间设有第一弹性恢复部，当所述第一电磁铁失去磁性时，所述第一弹性恢复部释放弹性恢复力，驱动所述测试部远离所述容纳部，使所述触针与所述电接口脱离接触。5.根据权利要求1所述的工装设备，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘卫臣，
申请(专利权)人：珠海艾派克微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：