这里公开一种用来控制研磨加工、从而产生一读写头的方法和装置，该读写头包括一具有所需的带高度的初级磁阻读出元件。通过在一读写头里结合一次级磁阻元件获得一种改进的研磨导向件。由于其位置与初级磁阻元件（在磁盘驱动器工作过程中用来读出数据）在同一个读写头上，次级元件位于初级元件的附近，导致初级和次级元件的顶部边缘的对齐只有较小的公差。因此，次级磁阻元件能更可靠地作为初级元件的代替物。作为一种选择，次级磁阻元件可制成与初级元件具有相同的尺寸，从而使次级元件在磁性灵敏度方面等同于初级元件。在研磨过程中，次级磁阻元件的磁性灵敏度被监控，并被用来作为初级磁阻读出元件的磁性灵敏度的替代测量。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本申请涉及硬盘驱动器，特别涉及一种控制研磨加工的装置和方法，以便制造一种包含具有所需带高度的初级磁阻读出元件的读写头。
技术介绍
磁盘驱动器的存储介质是一平的圆盘，它能够保持局部的磁场。存储在磁盘里的数据通过这些局部的磁场找到物理显示。数据以同心的圆形路径、即磁轨的方式布置在磁盘上。局部的磁场可在磁盘非常靠近磁头时通过磁性敏感头检测。在操作过程中，磁盘连续转动，这意味着每次转动，固定在从磁盘中心起的一个给定半径上的磁头将遭遇沿着给定磁轨的每个局部的磁场。附图说明图1显示了一个能够读出和写入局部的磁场于磁盘表面的读写头100。图1所示的读写头100包括由AlTiC(铝，钛和碳化物)晶片材料构成的本体102。与本体102连接的是用标号104共同表示的磁阻读出元件和一写入元件。磁阻读出元件104的电阻在导入磁场时变化。通常，磁阻读出元件104位于其中的磁场越大，其电阻越高。因此，磁阻读出元件104被用来通过定向读出元件104下面的局部的磁场和和观测在元件104里的电阻的变化检测存储在磁盘表面上的局部的磁场。为了检测读出元件104的电阻的变化，一恒定电流通过磁阻读出元件104，并观测横跨元件104的电压。当元件104的电阻由于靠近的磁场的影响增加时，横跨元件104的电压按比例增加。这样，由于横跨读出元件104的电压的相应升高而观测到电阻的变化。被用来检测局部的磁场的恒定电流被传送通过导体106和108，而导体106和108与磁阻元件104的相反两端电接触。导体106和108通向一对线接头110和112，而线接头110和112将导体106和118与一对细长导体114和116连接，该细长导体114和116沿磁头100的整个长度延伸并与检测电路(未画出)连接。读写头100还包括导体118和120，电流通过它们记录在磁盘表面的磁场。导体118和120还通向一对线接头122和124，而线接头122和124将导体118和120与一对细长导体126和128连接，该细长导体126和128沿磁头100的整个长度延伸并与写入电路(未画出)连接。图2显示了一磁阻读出元件104的放大图。从图2中可看到，磁阻读出元件104的底部边缘200沿滑动件的空气支承表面延伸。空气支承表面的作用是制造一空气“垫子”，当读写头100位于转动的磁盘上面时，读写头100漂浮在该气垫上。磁阻读出元件104的顶部边缘用标号204表示。磁阻读出元件104的底部边缘200和顶部边缘204之间的距离叫做“带高度”。磁阻读出元件的带高度是一个重要的变量，因为它确定了磁阻元件对磁场的灵敏度。通常，带高度越小，磁阻元件的灵敏度越高，反之亦然。如图3所示，在加工前，磁阻读出元件具有约100,000的带高度。导体106和108具有大致相同的高度。在制造过程中，磁阻头部被“研磨”，由此减少磁阻读出元件104的带高度，如图2所示，约是500(通常具有±10％的公差)，这取决于产品要求。“研磨”是一个术语，用来描述一个研磨加工，其中，磁阻读出元件104和与其相关的导体106和108通过研磨性泥浆被仔细地磨削，直至达到理想的带高度。研磨加工的目的是减少磁阻读出元件的带高度，直至制造出适当的磁性灵敏度。理想的是，能够在研磨过程中直接测试磁阻读出元件的灵敏度，这样，当达到适当的灵敏度时可停止研磨。不幸的是，为了直接测试读出元件的灵敏度必须使电信号通过磁阻读出元件，这样，磁阻读出元件和研磨性泥浆之间的静电放电的可能性增加。这种静电放电对于读出元件是有害的，因此，最好将这种放电的可能性降至最低。本
的技术人员知道，在研磨过程中，次级电阻元件的电阻可被监控并被用作一代替物以直接检测初级磁阻元件的带高度。当次级磁阻元件的电阻达到预定的水平时，可假定初级磁阻元件的带高度处于适当的范围，而研磨可停止了。为了使用这种通过代替物检测的方案，初级和次级元件应该这样布置在初级和次级元件的灵敏度之间存在已知的关系。图4显示了一未切块的和未研磨的晶片400，它包含两个读写头402和404及一个研磨导向件406。读写头402包含一初级磁阻元件408，而研磨导向件406包含一次级电阻元件410，其电阻与磁阻元件408有已知的关系。在研磨过程中，次级电阻元件410的电阻被监控。当次级电阻元件410的电阻达到一定水平时，就假定初级磁阻元件408的带高度处于适当的范围，而研磨即被停止。为了确保次级电阻元件410的电阻与初级磁阻元件408的带高度处于已知的关系，初级和次级元件的顶部边缘被对齐。因此，在研磨过程中，初级和次级元件的带高度应该相等，而次级元件的电阻应该作为初级元件的带高度的适当的代替物。然而，现有技术中已知的该方案具有若干问题。初级和次级元件408和410之间的距离相当大(大概500微米)。由于这么大的距离，初级元件408和次级元件410的顶部边缘的对齐必定具有大的公差。这种大的公差是不合需要的，因为它降低了准确性，而次级电阻元件410是通过这种准确性来指示初级元件408的带高度的。这样，次级电阻元件410对于初级磁阻元件408来说是一个不可靠的代替物。因此，有必要提供一种手段，以便精确地检测和控制初级磁阻元件的带高度，而又不会使元件经受来自静电放电的危险。
技术实现思路
按照本专利技术的方法和装置通过这里所述的装置和方法可解决上述的问题和其它的问题。该方法包括使位于读写头上的、准备研磨的初级磁阻读出元件接地。接着，一测试信号通过也位于该读写头上的次级磁阻读出元件。初级和次级磁阻元件的研磨开始。研磨继续进行，直至测试信号显示一所需的特性。本专利技术的另一方面包括一具有初级磁阻读出元件的读写头(在磁盘驱动器工作过程中，用来读出数据，而读写头设置在磁盘驱动器里)。读写头还包括一次级磁阻读出元件，其尺寸与初级磁阻读出元件成比例且位于初级磁阻读出元件附近。通过阅读下面的详细的介绍和参照相关的附图将更清楚地了解表征本专利技术特性的上述的和其它的许多特征和优点。附图的简要说明图1表示现有技术中已知的读写头；图2表示经过研磨后的磁阻读出元件的放大图； 图3表示研磨前的磁阻读出元件的放大图；图4表示一未切块的和未研磨的晶片，它包含两个读写头和一个研磨导向件；图5表示按照本专利技术一个实施例的未研磨的一读写头；图6表示按照本专利技术另一实施例的未研磨的一读写头；图7表示按照本专利技术另一实施例的未研磨的一读写头；图8表示按照本专利技术另一实施例的未研磨的一读写头；图9表示控制用于图5至8所示的实施例的研磨加工的方法。具体实施例方式通过将一次级磁阻元件加入到一读写头获得一改进的研磨导向件。由于其在作为初级磁阻元件(在磁盘驱动器操作过程中用来读出数据)的相同读写头上的位置，次级元件非常靠近初级元件，导致在对齐或结合初级和次级元件的顶部边缘时的较小公差。因此，次级磁阻元件能更可靠地作为初级元件的代替物。作为一种选择，次级磁阻元件可加工成与初级元件同样的尺寸，从而使次级元件在磁性灵敏度方面等于初级元件。图5显示了按照本专利技术一个实施例的一未研磨的读写头500。从图5中可看到，读写头500具有一初级磁阻读出元件502和一次级磁阻元件504。初级磁阻读出元件502位于两导体506和508之间。次级磁阻元件504位于两导体508和510之间。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于磁盘驱动器里的读写头，该读写头包括： 第一磁阻读出元件；以及 第二磁阻读出元件，其尺寸与第一磁阻元件成比例且位于第一磁阻读出元件附近。
【技术特征摘要】
US 2000-5-25 60/207,4651.一种用于磁盘驱动器里的读写头，该读写头包括第一磁阻读出元件；以及第二磁阻读出元件，其尺寸与第一磁阻元件成比例且位于第一磁阻读出元件附近。2.如权利要求1所述的读写头，其特征在于，第二磁阻读出元件具有与第一磁阻读出元件相同的尺寸。3.如权利要求1所述的读写头，其特征在于，第一和第二磁阻读出元件各具有一顶部边缘，其中，第一和第二磁阻读出元件的顶部边缘是共线的。4.如权利要求1所述的读写头，其特征在于，第一磁阻读出元件位于第一对导体之间，第二磁阻读出元件位于第二对导体之间，第一对和第二对导体被加工成具有大致相同的阻抗。5.如权利要求4所述的读写头，其特征在于，第一对导体包括第一导体和第二导体，而第二对导体包括该第二导体和一第三导体。6.如权利要求4所述的读写头，其特征在于，还包括第三对导体，该第三对导体互相接触，并被加工成具有与第一对和第二对导体大致相同的阻抗。7.如权利要求6所述的读写头，其特征在于，第一对导体包括第一导体和第二导体，而第三对导体包括该第二导体和一第三导体。8.如权利要求1所述的读写头，其特征在于，还包括第一磁屏蔽；以及第二磁屏蔽，其中，第一和第二磁阻元件在第一和第二磁屏蔽之间被定位。9.如权利要求1所述的读写头，其特征在于，还包括一磁阻屏蔽，其中，第一和第二磁阻元件设置在该磁阻屏蔽之上。10.一种确定用来制造读写头的研磨的适当量的方法，该读写头包括一具有所需的带高度的初级磁阻读出元件，该方法包括(1)使初级磁阻读出元件接地；(2)使一测试信号通过位于读写头上的次级磁阻读出元件；(3)研磨初级和次级磁阻读出元件；以及(4)继续研磨初级和次级读出元件，直至测试信号显示所需的特性。11.如权利要求10所述的方法，其特征在于步骤(2)包括使一已知的电压的信号通过次级读出元件；以及步骤(4)包括继续研磨初级和次级磁阻读出元件，直至测试信号降至所需的水平的电流。12.如权利要求10所述的方法，其特征在于步骤(2)包括使一已知的电流的信号通过次级读出元件；以及步骤(4)包括继续研磨初级和...
【专利技术属性】
技术研发人员：齐尼埃迪纳布塔古，ES默多克，
申请(专利权)人：西加特技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。