一种光学扫描仪误差调节工具制造技术

技术编号:30654265 阅读:21 留言:0更新日期:2021-11-04 01:19
本发明专利技术公开了一种光学扫描仪误差调节工具,其特征在于:其包括:固定基座;承载盘,横向固定在所述固定基座的上端面中部;调节支架,竖直固定在所述固定基座的上端面一侧;上连调节组件,可相对横向滑动的设置在所述调节支架上;主扫描头,竖直安装在所述上连调节组件的下端面中部;以及侧扫描头,为左右对称设置的两组,各所述侧扫描头均对应安装在所述上连调节组件的两侧位置,并与所述主扫描头进行配合扫描工作。扫描工作。扫描工作。

【技术实现步骤摘要】
一种光学扫描仪误差调节工具


[0001]本专利技术属于扫描仪设备
,具体是一种光学扫描仪误差调节工具。

技术介绍

[0002]平台式扫描仪已成为现今大多数使用者用来将一些文件数据扫描转换成图像文件数据的一种电子产品,光学扫描仪可使使用者相当轻松方便地将文件数据输入计算机整理存盘或进一步在计算机中进行图像处理。然而,由于多种因素的影响,扫描图像总是存在着各种各样的畸变,影响测量扫描精度;光学扫描仪产生的图像畸变分为色彩失真与几何误差;其中,几何误差一般产生于扫描物体上的点在图像上的几何位置发生改变,具体包括一些像素聚焦间距误差;间距纵横比误差以及扫描起点误差等;而现有技术中的对于光学扫描仪的几何误差调节难度较高,需经多次校准测试,且仅存在水平粗调效果,调节扫描精度效果一般,难以实现横纵比例调节功能,因此,本领域技术人员提供了一种光学扫描仪误差调节工具,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

技术实现思路

[0003]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种光学扫描仪误差调节工具,其包括:
[0004]固定基座;
[0005]承载盘,横向固定在所述固定基座的上端面中部;
[0006]调节支架,竖直固定在所述固定基座的上端面一侧;
[0007]上连调节组件,可相对横向滑动的设置在所述调节支架上;
[0008]主扫描头,竖直安装在所述上连调节组件的下端面中部;以及
[0009]侧扫描头,为左右对称设置的两组,各所述侧扫描头均对应安装在所述上连调节组件的两侧位置,并与所述主扫描头进行配合扫描工作。
[0010]进一步,作为优选,所述调节支架包括:
[0011]支撑架,竖直固定在所述固定基座的上端面;
[0012]螺纹杆,通过轴承可相对转动的平行设置在所述支撑架上,所述支撑架的上端安装有驱动电机,所述驱动电机的输出端与所述螺纹杆相连接固定;
[0013]横轴架,可相对滑动的横向设置在所述支撑架上,所述横轴架的一端套接设置在所述螺纹杆上,并通过螺纹啮合作用与所述螺纹杆连接传动,所述横轴架上还上下对称倾斜固定有侧支杆,所述侧支杆的一端滑动连接在所述支撑架上;以及
[0014]内螺杆,可相对转动的设置在所述横轴架上,所述上连调节组件通过螺纹啮合作用与所述内螺杆连接传动。
[0015]进一步,作为优选,所述上连调节组件包括:
[0016]安装座;
[0017]主轴杆,竖直穿设在所述安装座内,所述安装座内同轴固定的限位环件,所述主轴
杆通过内转子可相对转动的限位设置在所述限位环件中;
[0018]轴向调节装置,设置在所述安装座上并与所述主轴杆相连接;
[0019]侧调节架,左右对称设置在所述主轴杆上位于所述安装座的下方;
[0020]聚焦微调装置,同轴固定在所述主轴杆的下端,所述主扫描头与所述聚焦微调装置相连接固定;以及
[0021]侧向偏调组件,安装在所述侧调节架的一侧,所述侧扫描头的一端与所述侧向偏调组件相连接。
[0022]进一步,作为优选,所述轴向调节装置包括:
[0023]固定件,横向固定在所述主轴杆上;
[0024]伸缩导杆,转动连接在所述安装座上;
[0025]弹性撑架,一端与所述固定件相铰接,所述伸缩导杆同轴固定在所述弹性撑架上;以及
[0026]精调支杆,倾斜铰设在所述主轴杆与所述安装座之间。
[0027]进一步,作为优选,所述弹性撑架被构造成双层式弧形结构,所述弹性撑架内对称连设有侧联轴。
[0028]进一步,作为优选,所述侧调节架包括:
[0029]外导轴,被构造成弧形结构,所述外导轴的一端与所述主轴杆相连接固定;
[0030]内轴件,可相对滑动的限位设置在所述外导轴内;
[0031]卷轮,可相对转动的设置在所述安装座上,所述卷轮上卷设有连接绳件;
[0032]侧轮件,安装在所述内轴件上,所述连接绳件的一端卷设在所述侧轮件上;以及
[0033]内置弹簧,为平行设置的多组,所述内置弹簧的连设在所述外导轴中。
[0034]进一步,作为优选,所述侧向偏调组件包括:
[0035]外支架,与所述侧调节架相连接固定;
[0036]旋转座,安装在所述外支架的一端,所述侧扫描头可相对转动的设置在所述旋转座内;所述外支架与所述旋转座之间连设有微调杆;
[0037]密封轴管;
[0038]伸缩塞件,可相对滑动的密封设置在所述密封轴管内,所述伸缩塞件的一端与所述外支架相铰接;
[0039]下联塞件,可相对滑动的密封设置在所述密封轴管内,所述伸缩塞件的一端与所述侧扫描头相铰接;以及
[0040]连接弹簧,连接在所述伸缩塞件与所述下联塞件之间。
[0041]进一步,作为优选,所述密封轴管上靠近所述下联塞件的一侧连通有输气管。
[0042]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:
[0043]本专利技术中,在固定基座上设置有调节支架,调节支架能够控制驱动主扫描头与侧扫描头的空间扫描定位点;其中,在安装座内转动设置有主轴杆,主轴杆与安装之间连设有轴向调节装置,轴向调节装置能够用于调整光学扫描仪的主体扫描倾角,而为保证调节精度,防止扫描时出现扫描起点误差,由伸缩导杆进行预先伸缩调整,以达到粗调效果,再由精调支杆进行微调,而在其调节过程中,伸缩导杆处于恒定状态,此时,弹性撑架产生负向弹压使得精调支杆在逐步伸缩调整中提供回弹效果,以便于精调支杆对应伸缩调整中能逐
步慢调,从而提高误差调节精度;而在侧扫描头处还对应设置有侧向偏调组件,用于各调整侧扫描头单体扫描角度,此中当侧扫描头偏离扫描聚焦点时,先由微调杆进行伸缩,同时伸缩塞件进行同步伸缩调整,以完成侧扫描头的初步粗调,此时通过输气管抽排输送增压气体,使得下联塞件能够进行长度补偿,以达到精调效果,从而提高误差旋调精度。
附图说明
[0044]图1为本专利技术的结构示意图;
[0045]图2为本专利技术中调节支架的结构示意图;
[0046]图3为本专利技术中上连调节组件的结构示意图;
[0047]图4为本专利技术中轴向调节装置的结构示意图;
[0048]图5为本专利技术中侧调节架的结构示意图;
[0049]图6为本专利技术中侧向偏调组件的结构示意图;
[0050]图中:1固定基座、2承载盘、3调节支架、301支撑架、302螺纹杆、303驱动电机、304横轴架、305侧支杆、306内螺杆、4上连调节组件、401主轴杆、402 安装座、403限位环件、404聚焦微调装置、5主扫描头、6侧扫描头、7轴向调节装置、701弹性撑架、702伸缩导杆、703侧联轴、704精调支杆、8侧调节架、 801外导轴、802内轴件、803卷轮、804侧轮件、805内置弹簧、9侧向偏调组件、901外支架、902旋转座、903微调杆、904密封轴管、905伸缩塞件、906 下联塞件、90本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学扫描仪误差调节工具,其特征在于:其包括:固定基座(1);承载盘(2),横向固定在所述固定基座(1)的上端面中部;调节支架(3),竖直固定在所述固定基座(1)的上端面一侧;上连调节组件(4),可相对横向滑动的设置在所述调节支架(3)上;主扫描头(5),竖直安装在所述上连调节组件(4)的下端面中部;以及侧扫描头(6),为左右对称设置的两组,各所述侧扫描头(6)均对应安装在所述上连调节组件(4)的两侧位置,并与所述主扫描头(5)进行配合扫描工作。2.根据权利要求1所述的一种光学扫描仪误差调节工具,其特征在于:所述调节支架(3)包括:支撑架(301),竖直固定在所述固定基座(1)的上端面;螺纹杆(302),通过轴承可相对转动的平行设置在所述支撑架(301)上,所述支撑架(301)的上端安装有驱动电机(303),所述驱动电机(303)的输出端与所述螺纹杆(302)相连接固定;横轴架(304),可相对滑动的横向设置在所述支撑架(301)上,所述横轴架(304)的一端套接设置在所述螺纹杆(302)上,并通过螺纹啮合作用与所述螺纹杆(302)连接传动,所述横轴架(304)上还上下对称倾斜固定有侧支杆(305),所述侧支(305)的一端滑动连接在所述支撑架(301)上;以及内螺杆(306),可相对转动的设置在所述横轴架(304)上,所述上连调节组件(4)通过螺纹啮合作用与所述内螺杆(306)连接传动。3.根据权利要求1所述的一种光学扫描仪误差调节工具,其特征在于:所述上连调节组件(4)包括:安装座(402);主轴杆(401),竖直穿设在所述安装座(402)内,所述安装座(402)内同轴固定的限位环件(403),所述主轴杆(401)通过内转子可相对转动的限位设置在所述限位环件(403)中;轴向调节装置(7),设置在所述安装座(402)上并与所述主轴杆(401)相连接;侧调节架(8),左右对称设置在所述主轴杆(401)上位于所述安装座(402)的下方;聚焦微调装置(404),同轴固定在所述主轴杆(401)的下端,所述主扫描头(5)与所述聚焦微调装置(404)相连接固定;以及侧向偏调组件(9),安装在所述侧调节架(8)的一侧,所述侧扫描头(6)的一端与所述侧向偏调组件(9)相连接。4...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈龙熊乙锟倪颖倩颜宇彭全张涛
申请(专利权)人:重庆市计量质量检测研究院
类型:发明
国别省市:

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