应用于光模块核心光器件的测试板及其使用方法技术

本发明专利技术涉及光器件测试技术领域，应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，包括以下步骤：步骤S1:搭建光器件测试系统，步骤S2:预热光器件测试系统T时间，进行光器件预热参数测试，输出预热参数，步骤S3:当预热参数不满足设定值时，执行步骤S2，当测试结果满足设定值时，执行步骤S4；步骤S4:校准光器件测试系统，根据校准结果设置测试参数配置文件；步骤S5:根据测试参数配置文件进行待测光器件的性能测试，输出测试结果。考虑预热时间对光器件性能的影响，实现了RX端、TX端的精确校准，减少测试误。减少测试误。减少测试误。

【技术实现步骤摘要】
应用于光模块核心光器件的测试板及其使用方法


[0001]本专利技术涉及光器件测试
，具体涉及应用于光模块核心光器件的测试板及其使用方法。

技术介绍

[0002]光器件(激光器和探测器)是针对光纤通信用户环境而研发的一种光纤传输设备核心器件。该器件采用大规模集成芯片，电路简单，功耗低，可靠性高。在光纤通信广泛进入生活的时代，光器件的生产也有很大的改进。
[0003]通常情况下，光模块的温度越高，其发出的光源功率值将越大。在测试过程中，光模块需要一段时间预热，才能够使发送的光源功率值达到稳定，如果在光模块预热前设置测量时用的参考值，随着光源模块温度的上升，测试结果将会产生增益，从而影响测试结果的准确性测试结果的准确与否，如果参考值设置不当，会使测试结果不准确或者产生负值。
[0004]因此，本专利技术设计了应用于光模块核心光器件的测试板及其使用方法。

技术实现思路

[0005]本专利技术目的在于提供应用于光模块核心光器件的测试板及其使用方法克服现有技术的不足；
[0006]为实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案是：
[0007]一方面，应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，包括以下步骤：
[0008]步骤S1:搭建光器件测试系统，执行步骤S2
[0009]步骤S2:预热光器件测试系统T时间，进行光器件预热参数测试，输出预热参数，其中，所述预热参数包括RX端预热功率值和TX端预热功率值，执行步骤S3；
[0010]步骤S3:当预热参数不满足设定值时，执行步骤S2，当测试结果满足设定值时，执行步骤S4；
[0011]步骤S4:校准光器件测试系统，根据校准结果设置测试参数配置文件，其中，所述测试参数配置文件包括测试项目及测试项目对应的参考值，执行步骤S5；
[0012]步骤S5:根据测试参数配置文件进行待测光器件的性能测试，输出测试结果。
[0013]优选的，步骤S1中，所述光器件测试系统包括PC机、测试板、光器件测试机、待测光器件、光源，所述PC机与所述光器件测试机连接，所述光器件测试机与测试板连接，所述待测试光器件与所述光器件测试机连接，所述光源与所述待测试光器件连接，其中，所述PC机上光器件测试机的上位机测试软件。
[0014]优选的，步骤S2中，进行光器件预热参数测试时，需要设置初始参数配置文件，所述初始参数配置文件根据待预测的光器件的型号设置，所述初始参数配置文件内预存有设定值。
[0015]优选的，步骤S3中，所述T时间的计算公式具体为：
[0016][0017]式中，T为标准时间，λ为RX端设定功率值，β为TX端设定功率值，λ
q
为RX端预热功率值，β
i
为RX端预热功率值。
[0018]优选的，步骤S3中，所述光器件测试系统校准包括RX校准和TX校准。
[0019]优选的，步骤S4中，进行待测光器件的性能测试，输出测试结果的具体方法为：PC机向光器件测试机发送测试指令，光器件测试机进行测试并将测试结果反馈给PC机，PC机显示测试结果，其中，当PC机显示界面显示OK且对应参数位置显示绿色时，表明光器件合格；当PC机显示界面显示NG且对应参数位置显示红色时，则表明光器件不合格。
[0020]另一方面，应用于光模块核心光器件的测试板，包括测试板本体和链接座子，所述链接座子设置在所述测试板本体上，所述链接座子适用于长引脚的5芯插座。
[0021]优选的，所述测试板本体采用四层电路板结构，所述测试板本体的第一层和第四层为信号层，所述测试板的第二层为地线层，所述测试板本体的第三层为电源层，其中，第二层、第三层位于第一层和第四层之间，第二层位于第一层与第三层之间。
[0022]本专利技术的有益效果为：
[0023]本专利技术设计了一种应用于光模块核心光器件的测试板，能够很好的适配短脚光器件的RX信号耦合，保障良好的接触，极大提高短脚光器件的可测性和测试效率，适用于多种速率和封装的光器件接收性能测试，一种应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，考虑预热时间对光器件性能的影响，实现了RX端、TX端的精确校准，减少测试误差，本专利技术大大提高了短脚光器件的可测性和测试效率与精度，既可及时分析各类短脚光器件的性能，提升产品整体质量，还可大量应用于以上短脚光器件的筛选测试和二次利用，极大的降低生产成本和物料的可循环使用。
附图说明
[0024]图1为本专利技术的整体示意图；
[0025]图2为本专利技术光器件测试系统结构示意图；
[0026]图3为本专利技术测试板结构示意图。
具体实施方式
[0027]下面结合本专利技术的附图1～3，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施。
[0028]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“逆时针”、“顺时针”“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0029]一方面，应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，包括以下步骤：
[0030]步骤S1:搭建光器件测试系统，执行步骤S2
[0031]步骤S2:预热光器件测试系统T时间，进行光器件预热参数测试，输出预热参数，其中，所述预热参数包括RX端预热功率值和TX端预热功率值，执行步骤S3；
[0032]步骤S3:当预热参数不满足设定值时，执行步骤S2，当测试结果满足设定值时，执行步骤S4；
[0033]步骤S4:校准光器件测试系统，根据校准结果设置测试参数配置文件，其中，所述测试参数配置文件包括测试项目及测试项目对应的参考值，执行步骤S5；
[0034]步骤S5:根据测试参数配置文件进行待测光器件的性能测试，输出测试结果。
[0035]值得说明的，如图2所示，所述光器件测试系统包括PC机、测试板、光器件测试机、待测光器件、光源，所述PC机与所述光器件测试机连接，所述光器件测试机与测试板连接，所述待测试光器件与所述光器件测试机连接，所述光源与所述待测试光器件连接，其中，所述PC机上光器件测试机的上位机测试软件，光源用于向待测试光器件提供光源。
[0036]值得说明的，步骤S2中，进行光器件预热参数测试时，需要设置初始参数配置文件，所述初始参数配置文件根据待预测的光器件的型号设置，所述初始参数配置文件内预存有设定值。
[0037]值得说明的，步骤S3中，所述T时间的计算公式具体为：
[0038][0039]式中，T为标准时间，λ为RX端设定功率值，β为TX端设定功率值，λ本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1:搭建光器件测试系统，执行步骤S2；步骤S2:预热光器件测试系统T时间，进行光器件预热参数测试，输出预热参数，其中，所述预热参数包括RX端预热功率值和TX端预热功率值，执行步骤S3；步骤S3:当预热参数不满足设定值时，执行步骤S2，当测试结果满足设定值时，执行步骤S4；步骤S4:校准光器件测试系统，根据校准结果设置测试参数配置文件，其中，所述测试参数配置文件包括测试项目及测试项目对应的参考值，执行步骤S5；步骤S5:根据测试参数配置文件进行待测光器件的性能测试，输出测试结果。2.根据权利要求1所述的应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，其特征在于，步骤S1中，所述光器件测试系统包括PC机、测试板、光器件测试机、待测光器件、光源，所述PC机与所述光器件测试机连接，所述光器件测试机与测试板连接，所述待测试光器件与所述光器件测试机连接，所述光源与所述待测试光器件连接，其中，所述PC机上光器件测试机的上位机测试软件。3.根据权利要求1所述的应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，其特征在于，步骤S2中，进行光器件预热参数测试时，需要设置初始参数配置文件，所述初始参数配置文件根据待预测的光器件的型号设置，所述初始参数配置文件内预存有设定值。4.根据权利要求3所述的应用于光模块核心光器件的测试板使用方法，其特征在于，步骤S3中...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄勇，高小燕，廖静，
申请(专利权)人：四川天邑康和通信股份有限公司，
类型：发明
国别省市：