光模块老化测试装置制造方法及图纸

本公开提供一种光模块老化测试装置，包括：加热模块，所述加热模块用于对待测试的光模块进行加热，所述光模块包括光发射子模块和光接收子模块；测试信号提供模块，所述测试信号提供模块用于向所述光发射子模块提供测试信号，以供所述光发射子模块转换为光信号，且所述光接收子模块能够将所述光信号转换为电信号；监控模块，所述监控模块用于根据处于工作状态的所述光模块的参数判断所述光模块是否合格。所述光模块老化测试装置可以对所述光模块进行在线老化测试，提高了测试结果的精确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
光模块老化测试装置


[0001]本公开涉及通讯领域，具体地，涉及一种光模块老化测试装置。

技术介绍

[0002]在通讯领域，大量使用光模块、光纤等元器件进行信号转换和传递。为了确保出厂产品为合格品，需要在出厂前对光模块进行高温老化测试。
[0003]常用的光模块老化测试方法包括以下步骤：
[0004]将待测试的光模块放置在温箱或者高温房中；
[0005]通过加热器将温箱或者高温房的空气加热至预定温度；
[0006]预定时间后，将光模块取出，并冷却至室温；
[0007]在室温中对光模块上电，检测光模块是否正常。
[0008]上述光模块老化测试方法为静态测试方法，在高温环境中，光模块并未上电，也部进行业务测试。由于在线实时对光模块进行业务测试，因此无法检测出很多故障，导致劣品外发。
[0009]因此，如何提高老化测试的检测精度成为本领域亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0010]本公开的目的在于提供一种光模块老化测试装置和一种利用该光模块老化测试装置进行的光模块老化测试方法，利用所述光模块老化测试方法对光模块进行老化测试具有较高的检测精度。
[0011]为了实现上述目的，作为本公开的第一个方面，提供一种光模块老化测试装置，包括：
[0012]加热模块，所述加热模块用于对待测试的光模块进行加热，所述光模块包括光发射子模块和光接收子模块；
[0013]测试信号提供模块，所述测试信号提供模块用于向所述光发射子模块提供测试信号，以供所述光发射子模块转换为光信号，且所述光接收子模块能够将所述光信号转换为电信号；
[0014]监控模块，所述监控模块用于根据处于工作状态的所述光模块的参数判断所述光模块是否合格。
[0015]可选地，处于工作状态的所述光模块的参数包括误码率，所述监控模块用于根据所述电信号确定所述光模块的误码率，且所述监控模块用于在所述误码率大于预定值时判定所述光模块不合格。
[0016]可选地，处于工作状态的所述光模块的参数还包括所述光模块的电压、所述光模块中的电流、所述光模块的发射功率、所述光模块的接收功率中的至少一者。
[0017]可选地，所述光模块老化测试装置还包括通信控制模块，所述通信控制模块与所述加热模块、所述测试信号提供模块以及所述监控模块均通信连接；
[0018]所述监控模块用于通过所述通信控制模块向所述加热模块提供加热控制信号，以控制所述加热模块对所述光模块进行加热；
[0019]所述监控模块用于通过所述通信控制模块向所述测试信号提供模块提供所述测试信号，并通过所述通信控制模块获取所述光模块的参数。
[0020]可选地，所述加热模块包括加热控制单元和加热件，所述加热件设置在所述光模块的金属外壳上，所述监控模块用于控制所述加热控制单元按照预设规则向所述加热件提供电压，直至所述加热件达到第一预设温度为止。
[0021]可选地，所述预设规则包括：
[0022]按照第一电压增幅增加提供给所述加热件的电压的绝对值，直至所述光模块的温度达到中间温度；
[0023]按照第二电压增幅增加提供给所述加热件的电压的绝对值，直至所述光模块的温度从所述中间温度达到第一目的温度，其中，所述第一电压增幅大于所述第二电压增幅。
[0024]可选地，所述加热件具有片状结构，所述加热件贴附在所述光模块的金属外壳上。
[0025]可选地，所述加热模块用于通过所述通信控制模块向所述监控模块反馈所述光模块的温度，所述监控模块用于在所述光模块的温度超过第二预定温度时，控制所述加热模块停止加热。
[0026]可选地，所述光模块老化测试装置还包括机框，所述光模块、所述加热模块、所述测试信号提供模块、所述通信控制模块设置在所述机框上。
[0027]可选地，所述光模块老化测试装置还包括冷却模块，所述冷却模块用于对所述光模块老化测试装置中除所述加热模块之外的部分进行冷却。
[0028]在利用光模块老化测试装置对光模块进行老化测试时，对光模块上电，并通过测试信号提供模块向所述光发射子模块提供测试信号，以使得光模块处于工作状态。在工作状态中，光发射子模块可以将测试信号转换为光信号，并通过光纤将光信号传输至光接收子模块，再由该光接收子模块将光信号转换为电信号。
[0029]通过加热模块对处于工作状态的光模块进行加热，可以使得工作状态的光模块达到老化测试环境。监控模块可以根据老化环境中光模块的各项参数判断该光模块是否合格。换言之，本公开所提供的光模块老化测试装置具有在线实施监控测试的功能，能够判断光模块在老化环境中是否能够正常工作，从而能够更准确地判断光模块是否为合格产品。
附图说明
[0030]附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：
[0031]图1是本公开所提供的光模块老化测试装置的模块示意图。
具体实施方式
[0032]以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。
[0033]本公开提供一种光模块老化测试装置，如图1所示，该光模块老化测试装置包括加热模块210、测试信号提供模块220和监控模块230。该光模块老化测试装置用于对光模块
100进行老化测试，其中，光模块100包括通过光纤连接的光发射子模块和光接收子模块。光发射子模块能够将接收到的电信号转换为光信号，光接收子模块能够将接收到的光信号转换为电信号。
[0034]加热模块210用于对待测试的光模块100进行加热，测试信号提供模块220用于向所述光发射子模块提供测试信号，以供所述光发射子模块转换为光信号，且所述光接收子模块能够将所述光信号转换为电信号，监控模块230用于根据处于工作状态的所述光模块的参数判断光模块100是否合格。
[0035]在利用光模块老化测试装置对光模块100进行老化测试时，对光模块100上电，并通过测试信号提供模块200向所述光发射子模块提供测试信号，以使得光模块100处于工作状态。在工作状态中，光发射子模块可以将测试信号转换为光信号，并通过光纤将光信号传输至光接收子模块，再由该光接收子模块将光信号转换为电信号。
[0036]通过加热模块210对处于工作状态的光模块100进行加热，可以使得工作状态的光模块100达到老化测试环境。监控模块230可以根据老化环境中光模块100的各项参数判断该光模块100是否合格。换言之，本公开所提供的光模块老化测试装置具有在线实施监控测试的功能，能够判断光模块100在老化环境中是否能够正常工作，从而能够更准确地判断光模块100是否为合格产品。
[0037]在本公开中，对用于判断光模块100是否合格的参数不做特殊限定。作为一种可选实施方式，处于工作状态的光模块100的参数包括误码率，相应地，监本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光模块老化测试装置，包括：加热模块，所述加热模块用于对待测试的光模块进行加热，所述光模块包括光发射子模块和光接收子模块；测试信号提供模块，所述测试信号提供模块用于向所述光发射子模块提供测试信号，以供所述光发射子模块转换为光信号，且所述光接收子模块能够将所述光信号转换为电信号；监控模块，所述监控模块用于根据处于工作状态的所述光模块的参数判断所述光模块是否合格。2.根据权利要求1所述的光模块老化测试装置，其中，处于工作状态的所述光模块的参数包括误码率，所述监控模块用于根据所述电信号确定所述光模块的误码率，且所述监控模块用于在所述误码率大于预定值时判定所述光模块不合格。3.根据权利要求1所述的光模块老化测试装置，其中，处于工作状态的所述光模块的参数还包括所述光模块的电压、所述光模块中的电流、所述光模块的发射功率、所述光模块的接收功率中的至少一者。4.根据权利要求1至3中任意一项所述的光模块老化测试装置，其中，所述光模块老化测试装置还包括通信控制模块，所述通信控制模块与所述加热模块、所述测试信号提供模块以及所述监控模块均通信连接；所述监控模块用于通过所述通信控制模块向所述加热模块提供加热控制信号，以控制所述加热模块对所述光模块进行加热；所述监控模块用于通过所述通信控制模块向所述测试信号提供模块提供所述测试信号，并通过所述通信控制模块获取所述光模块的参数。5.根据权利要求4所述的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦强，汪红军，陈晨，吉昌，刘红卫，成锐，黄睿，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：