一种用于晶体硅切方的辅助检测工具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于晶体硅切方的辅助检测工具，包括装置主体；本实用新型专利技术中，通过第一电动伸缩杆和第二电动伸缩杆的伸缩作用能够分别使得照射板和安装板的位置下降，直至其底端与待检测的晶体硅的顶端相接触而无法继续下降，此时可以通过第一刻度尺和第二刻度尺直观的了解到照射板和安装板所在的位置，若其读出的刻度尺寸一致或者在误差范围之内，表示晶体硅的两侧满足要求，然后开启照射灯，照射灯射出的光线若能够照射到照射板上表示晶体硅的顶面没有凸起，若射出的光线无法照射到照射板上，表示晶体硅的顶面有凸起，需要重新加工，此方式能够对晶体硅多方位检测，提高检测结果的准确性。检测结果的准确性。检测结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于晶体硅切方的辅助检测工具


[0001]本技术属于机械工业
，具体来说，涉及一种用于晶体硅切方的辅助检测工具。

技术介绍

[0002]工业生产中制备的晶体硅为体积较大的立方体，进行后续生产前需将其切割成底面为正方形的直棱柱，并抛光；但是，切割设备和抛光设备的精度有限，大块的多晶硅经切割并抛光后得到的切方常发生侧棱倾斜的情况，即得到的切方为斜棱柱，若侧棱的倾斜程度过大会对切方的后续加工产生影响，造成最终得到的产品不合格，产品的合格率低，故此需要对晶体硅切方的斜度进行检测，以及时回收或重新加工斜度不合格的切方，避免其流入后续生产步骤，进而提高最终产品的合格率。
[0003]现有技术中用于晶体硅切方的辅助检测工具结构简单，检测方式复杂，效率低下。
[0004]针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
[0005]因此为了解决以上问题，本技术提供了一种用于晶体硅切方的辅助检测工具。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种用于晶体硅切方的辅助检测工具，以解决上述背景技术中提出的问题。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于晶体硅切方的辅助检测工具，其特征在于，包括装置主体(1)，所述装置主体(1)的底端固定安装有底板(2)，所述底板(2)的顶端设有第一滑槽(3)，所述第一滑槽(3)的内部安装有双向丝杆(301)，所述双向丝杆(301)的一端螺纹处安装有第一滑块(302)，所述双向丝杆(301)的另一端螺纹处安装有第二滑块(303)，所述第一滑块(302)的顶端固定安装有第一夹板(4)，所述第一夹板(4)的一侧设有第二滑槽(401)，所述第二滑槽(401)的内部安装有第一电动伸缩杆(403)，所述第一电动伸缩杆(403)的一端固定安装有第三滑块(404)，所述第三滑块(404)的一侧固定安装有照射板(405)，所述第二滑块(303)的顶端固定安装有第二夹板(5)，所述第二夹板(5)的一侧设有第三滑槽(501)，所述第三滑槽(501)的内部安装有第二电动伸缩杆(503)，所述第二电动伸缩杆(503)的一端固定安装有第四滑块(504)，所述第四滑块(504)的一侧固定安装有安装板(505)，所述安装板(505)的一侧底端固定安装有照射灯(506)。2.根据权利要求1所述的一种用于晶体硅切方的辅助检测工具，其特征在于，所述第一滑槽(3)的内部一端固定安装有第一固定座(305)，所述双向丝杆(301)的一端与所述第一固定座(305)相连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚宇箭，
申请(专利权)人：杭州碳云数据科技有限公司，
类型：新型
国别省市：