光盘装置和光盘记录方法制造方法及图纸

技术编号:3060591 阅读:132 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种光盘装置和光盘记录方法,其中在将数据记录到有机染料型记录媒体比如CD-R(可记录光盘)上时,通过有选择性地使用在激光束扫描的方向上从在背面的区域C和D中获得的光通量检测结果SO(C+D),本发明专利技术能够控制写光通量。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及,并可以用于例如在有机染料型记录媒体比如CD-R(可记录光盘)上记录数据。即使在写速度较高的情况下,本专利技术通过有选择性地使用在激光束扫描的方向上从在背面的区域中获得的光通量检测结果仍然能够精确地监测例如形成在光盘中的凹坑的形状。
技术介绍
迄今,在光盘装置中,通过产生再现信号并通过处理该再现信号再现记录在光盘上的数据,由于通过预定的光接收元件处理通过接收从光盘中获得的返回光获得的光接收结果,所以该再现信号的信号电平根据在光盘中形成的凹坑行变化。相反,在光盘装置中写数据的过程中,通过监测再现信号的电平监测形成在光盘中的凹坑的形状,并基于该监测结果适当地控制光束通量。附图1所示为这种类型的光盘装置的方块图。在光盘装置1中,光学拾取器2以激光束辐射光盘3,接收返回激光束并输出光接收结果。在此,在光学拾取器2中,半导体激光4发射激光束,光栅5衍射激光束以产生第0和第±1阶的衍射光束。分束器6透射并反射从光栅5中射出的第0和第±1阶的衍射光束并将它们分为两束。光接收元件7接收通过分束器6透射的光束并输出激光束光通量检测结果。在光盘装置1中,通过激光束通量检测结果控制半导体激光4的驱动,由此防止激光束通量随着温度和经过的时间的变化而变化。准直透镜8使通过分束器6反射的激光束作为平行光束射出。反光镜9通过反射从准直透镜8射出的激光束使光束朝光盘3射出,物镜10使从反光镜9中获得的激光束聚焦在光盘3的信息记录表面上。因此,在光学拾取器2中,通过光盘3获得返回光束,并且返回激光束在相反的方向上在激光束的光路中传播并通过分束器6透射。调节透镜11根据通过分束器6透射的返回激光束校正象散性。光接收元件12接收从调节透镜11中射出的返回激光束。在光盘装置1中,通过信号处理电路13处理从光接收元件12中获得的光接收结果以产生各种控制操作所要求的再现信号RF和信号TE和FE。更具体地说,如附图2所示,将光栅5设定为,在光盘装置1中,在仅通过跟踪操作第0阶衍射光束(即主光束)的束点SPM扫描光盘3的记录轨道时,第±1阶衍射光束(即副束)的束点SP1和SP-1分别设定在光盘3的内和外周边方向上偏移大约1/2轨道间距P/2的位置上,并分别扫描在圆周方向上的前向位置和后向位置。与此相对应,在光接收元件12中,返回主束和返回副束由相应的光接收表面12M、12S1和12S-1接收。在此,接收返回主束的光接收表面12M通过在光盘3的周向和径向方向上的分隔线被划分为四部分。输出从以这种方式划分的相应的区域A至D中获得的光接收结果。相反,接收它们相应的副束的光接收表面12S1和12S-1中的每个分别通过在光盘3的周向上的分隔线划分为两部分。输出从以这种方式划分的相应的区域E和F以及G和H中获得的光接收结果。在信号处理电路13通过电流-电压转换已经处理了从光接收元件7中获得的光接收结果和从光接收元件12的相应的区域A至H中获得的光接收结果后,它将从光接收元件7中获得的光接收结果输出给光通量控制电路14(参见附图1),而它通过预定的计算处理从相应的区域A至H中获得的光接收结果以产生跟踪误差信号TE、聚焦误差信号FE和再现信号RF。下文通过用于表示光接收表面的区域的参考字符A至H表示在电流-电压转换之后的光接收结果。通过使用((A+D)-(B+C))-k((F-E)+(H-G))计算产生跟踪误差信号TE。在此,k是预定的系数。由此光盘装置1产生跟踪误差信号TE,这称为DPP方法。通过使用((A+C)-(B+D))计算产生聚焦误差信号FE。在计算中,将从接收返回主束的光接收表面12M的对角线方向上的区域中获得的光接收结果相加,并计算在这些和之间的差值。通过使用(A+C+B+D)执行计算产生再现信号RF。在计算中,将从接收返回主束的光接收表面12M中获得的每个光接收结果相加。通过这些计算,在光盘装置1(参见附图1)中,基于跟踪误差信号TE和聚焦误差信号FE,通过伺服电路15移动物镜10,因此可以实施跟踪控制和聚焦控制。再现信号处理电路16处理再现信号RF,以使在光盘3中记录的数据可以被再现。在另一方面,光通量控制电路14基于通过信号处理电路13获得的从光接收元件7中获得的光接收结果控制驱动器17的操作以自动地调节光束通量,以使激光束通量不随着温度和经过的时间变化而改变。在写数据时,光通量控制电路14基于写脉冲WP的时序采样再现信号RF以检测根据形成在光盘3中形成的凹坑的大小变化的返回光通量。此外,光通量控制电路14通过激光束光通量检测结果控制驱动器17的操作以控制形成在光盘3中的凹坑的形状。在再现数据时,驱动器17驱动半导体激光4,因此通过光通量控制电路14的控制操作,半导体激光4发射一定量的激光束。在另一方面,在写数据时,驱动器17驱动半导体激光4,以便基于通过调制要写的数据产生的写脉冲WP将激光束通量间歇地设置在写激光束通量。近年来,这种光盘装置的写速度已经极大地增加了。在光盘装置中,在写速度较高时,相应地增加扫描光盘3的激光束的速度。因此,信息记录表面可靠地经受热变化以便甚至通过增加激光束通量和在较短的时间段内以激光束扫描信息记录表面来形成凹坑。但是,在相关的光盘装置中,在写速度增加时,不能再精确地监测在光盘3中形成的凹坑的形状,因此不再能够适当地控制激光束通量。换句话说,在这种类型的光盘中,由于将光束通量设定在写光束通量上,因此信息记录表面的温度逐渐增加,因此通过增加信息记录表面的温度使信息记录表面的局部部分的温度增加到等于或大于预定温度的温度。因此,信息记录表面的局部部分经受热变化,由此形成凹坑。因为这个原因,在光盘中,将从光束通量设定在写光束通量的时间到形成凹坑的时间中形成时间滞后。在增加写速度时,相对于这种时间滞后增加激光束的扫描速度。因此,在信息记录表面受到热变化之前,激光束的光点移动,因此不再能够精确地监测在光盘3中形成的凹坑的形状。更具体地说,附图3所示为说明通过采样再现信号RF检测的光通量的测量结果的特性曲线,在通过连续地改变写光通量并将写速度的值增加8倍而将所需的数据条记录在CD-R中时。根据测量结果,可以理解的是,在等于或大于预定功率的写功率上,开始凹坑的形成,该凹坑的反射率比脊面的反射率更低,根据凹坑的大小减小光接收结果的信号电平。因此,在这种情况下,可以正确地控制写光通量。在光盘装置中,在写速度进一步增加时,不再注意到通过增加写光通量所造成的光接收结果的信号电平的降低,因此不再能精确地监测在光盘3中形成的凹坑的形状。
技术实现思路
本专利技术已经考虑到上述的几点,并试图提供一种光盘装置以及光盘记录方法,即使在写速度较高的情况下该光盘装置仍然能够精确监测例如形成在光盘中的凹坑的形状。为了克服上述问题,本专利技术应用于基于在光接收元件的多个区域中获得的光接收结果中在激光束的扫描方向上从背面的区域中获得的光接收结果控制写光通量的光盘装置。在光盘中,由于将光束通量设定在写光束通量,因此信息记录表面的温度逐渐地增加,因此,通过增加信息记录表面的温度使信息记录表面的局部部分的温度增加到等于或大于预定的温度的温度。因此,信息记录表面的局部部分经受热变化,由此形成凹坑。因为这个原因,在光盘中,从将光束通量设定在写光束通量的时间本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种光盘装置,其用于通过将进入光盘的激光束通量间歇地设定在写激光束通量来在光盘中形成凹坑或标记行,该光盘装置包括:从激光束中接收返回激光束的光接收元件;基于从光接收元件中获得的光接收结果在物镜上执行跟踪控制操作和聚焦控制操作 的伺服机构,该物镜将激光束聚焦在光盘上;和基于从光接收元件中获得的光接收结果控制写激光束通量的光通量控制装置,其中光接收元件通过输出相应的光接收结果的多个区域接收返回激光束,以及其中光通量控制装置基于光接收结果控制写 激光束通量,该光接收结果是在从光接收元件的多个区域中获得的光接收结果中在以光接收元件的激光束扫描的方向上从在背面的区域中获得的。

【技术特征摘要】
JP 2001-9-13 277458/20011.一种光盘装置,其用于通过将进入光盘的激光束通量间歇地设定在写激光束通量来在光盘中形成凹坑或标记行,该光盘装置包括从激光束中接收返回激光束的光接收元件;基于从光接收元件中获得的光接收结果在物镜上执行跟踪控制操作和聚焦控制操作的伺服机构,该物镜将激光束聚焦在光盘上;和基于从光接收元件中获得的光接收结果控制写激光束通量的光通量控制装置,其中光接收元件通过输出相应的光接收结果的多个区域接收返回激光束,以及其中光通量控制装置基于光接收结果控制写激光束通量,该光接收结果是在从光接收元件的多个区域中获得的光接收结果中在以光接收元件的激光束扫描的方向上从在背面的区域中获得的。2.根据权利要求1所述的光盘装置,其中用主束和副束辐射以激光束辐射的光盘,以及其中光接收元件具有接收返回主束的光接收表面,该光接收表面包括通过在光盘的径向方向和圆周方向上延伸的分隔线划分的多个区域。3.根据权利要求1所述的光盘装置,其中光通量控制装置以根据将激光束通量间歇设定在写激光束通量的时序采样光接收结果以基于采样结果控制写激光束通量。4.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:长良彻冈田均
申请(专利权)人:索尼株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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