消除读/写头反电动势读数受温度影响的方法技术

本发明专利技术提出了一种消除反电动势读数受温度影响的方法，该方法包括在测量与控制硬盘读／写头加载速度时通过至少两组的数模转换器（ＡＤＣ）测量值和电流值（Ｉ）的数据点，算出数模转换器测量值相对于音圈磁铁电压（ＶＶＣＭ）的偏差值（ｏｆｆｓｅｔ）和温度影响之下的电阻值（Ｒ）；通过上述数模转换器测量值，电流值，偏差值，和电阻值，算出音圈磁铁（ＶＣＭ）的反电动势（ｂｅｍｆ）；通过该反电动势来监控读／写头加载速度。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及消除温度对电压测量值的影响的方法，具体涉及加载时。
技术介绍
读/写头加载速度的适度控制对于延长读/写头及介质(如硬盘驱动器介质)的使用寿命是至关重要的。如果读/写头加载速度过快，当读/写头离开加/卸载斜坡时可能会碰撞驱动器介质，这是因为悬浮力不是为了处理Z高度的快速变化而设计。如果读/写头加载速度太慢，将增加读/写操作的准备时间。为了监控读/写头加载速度，需要测量音圈磁铁(VCM)的反电动势(bemf)。反电动势可通过测量音圈磁铁两端的电压差得到，该电压差的值等于bemf与VCM电流值乘以电阻值(IR)之和。由于VCM电阻引起的电压相对于bemf是重要的，因此IR的影响不能忽视。更糟的时，电阻R随温度而变化因而IR也发生变化。因此，需要采用适当的方法以弥补反电动势读数受温度的影响。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提出了一种读/写头加载时消除反电动势读数受温度影响的方法。该方法包括通过测量反电动势(bemf)来监控读/写头加载速度，反电动势(bemf)与读/写头线速度(V)的关系式如下Bemf＝Kt*V/L其中，L为读/写头臂的长度；Kt是一个常数。由于音圈磁铁电压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种消除读／写头反电动势读数受温度影响的方法，该方法包括：测量读／写头速度时取得至少两组数模转换器（ＡＤＣ）测量值和电流值（Ｉ）的数据点；通过上述数据点，算出数模转换器测量值相对于音圈磁铁电压（Ｖ↓［ＶＣＭ］）的偏差值（ｏｆ ｆｓｅｔ）和温度影响之下的电阻值（Ｒ）；通过上述数模转换器测量值，电流值，偏差值，和电阻值，算出音圈磁铁（ＶＣＭ）的反电动势（ｂｅｍｆ）；通过该反电动势算出读／写头加载速度。

【技术特征摘要】
1.一种消除读/写头反电动势读数受温度影响的方法，该方法包括测量读/写头速度时取得至少两组数模转换器(ADC)测量值和电流值(I)的数据点；通过上述数据点，算出数模转换器测量值相对于音圈磁铁电压(VVCM)的偏差值(offset)和温度影响之下的电阻值(R)；通过上述数模转换器测量值，电流值，偏差值，...

【专利技术属性】
技术研发人员：常本，
申请(专利权)人：南方汇通微硬盘科技有限公司，
类型：发明
国别省市：52[中国|贵州]