【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及杂散磁场检测方法、杂散磁场检测器以及数据读取/写入装置中的抗杂散磁场的磁盘驱动器,其中,所述数据读取/写入装置磁性读取在记录介质的厚度方向上写入的信号。
技术介绍
参考图14和图15作为例子,用垂直磁盘驱动器来说明传统的记录技术。垂直磁盘驱动器是拥有垂直磁性记录介质、读取/写入磁头等等的磁盘驱动器,并通过垂直磁性记录系统执行读取/写入。与传统的纵向记录系统不同,垂直磁性记录系统形成在记录介质的厚度方向上记录的磁化。在图14中,垂直磁性记录介质10包括记录层101,其在厚度方向上具有磁性各向异性。垂直磁性记录介质10包括以下类型单层磁性记录介质,其仅具有这种记录层101;以及多层垂直磁盘,其具有记录层101和衬底103之间的软下层102(在下文中,磁性记录介质表示多层垂直磁盘,除非另外指定)。记录层101由具有用于保持数据的高磁性矫顽力的垂直磁性膜制成,而软下层102具有这样的特性当向其施加磁场d时产生磁化,但是当从中去除磁场时恢复非磁化状态。读取/写入磁头140使用读取/写入分开类型,其通常分别拥有读取磁头和写入磁头。写入磁头包括以下类型环状磁头,其在也可用于纵向记录系统中的环状部分上具有间隙,且通过从间隙泄漏的磁场执行写入;以及SPT(单磁极类型)磁头,其具有主磁极和返回磁极(在下文中,写入磁头表示SPT磁头,除非另外指定)。对于读取磁头,使用磁阻磁头,其在电阻变化时能够检测到磁场的变化(在下文中称作MR磁头)。下面用一个例子来略述写入操作,在该例子中,装配了SPT(单磁极类型)磁头140和多层垂直磁盘10。磁场磁化主磁极141,该磁场 ...
【技术保护点】
一种磁盘驱动器中的杂散磁场检测器,包括:输入包括磁阻效应元件的读取磁头的输出并从所述输出析取低频成分的装置;以及杂散磁场检测装置,其从所述析取的低频成分检测杂散磁场。
【技术特征摘要】
JP 2004-8-3 2004-2263191.一种磁盘驱动器中的杂散磁场检测器,包括输入包括磁阻效应元件的读取磁头的输出并从所述输出析取低频成分的装置;以及杂散磁场检测装置,其从所述析取的低频成分检测杂散磁场。2.如权利要求1所述的杂散磁场检测器,其中,析取所述低频成分的装置包括DC放大器和频带限制器,所述频带限制器具有通过直流和低频范围的带通特性。3.如权利要求1所述的杂散磁场检测器,其中,当检测到所述杂散磁场超过预定的阈值时,所述杂散磁场检测装置输出信号。4.一种磁盘驱动器,包含磁性记录介质;磁头,其安装有写入磁头和包括磁阻效应元件的读取磁头;主轴电机,其驱动所述磁性记录介质;磁头驱动单元,其相对于所述磁性记录介质驱动所述磁头;以及信号处理单元,其处理所述读取磁头的输出,其中所述信号处理单元包括从所述读取磁头的所述输出析取低频成分的装置;以及杂散磁场检测装置,其从所述析取的低频成分检测杂散磁场,并且当所述杂散磁场检测装置检测到预定大小的所述杂散磁场时,所述磁头驱动单元驱动所述磁头到磁头退避区。5.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,析取所述低频成分的所述装置包括DC放大器和频带限制器,所述频带限制器具有通过直流和低频范围的带通特性。6.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,当检测到所述杂散磁场超过预定的阈值时,所述杂散磁场检测装置输出信号。7.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,在将所述磁头从所述退避区移动到所述磁性记录介质上方之前,所述杂散磁场检测装置检测所述杂散磁场。8.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,当所述杂散磁场检测装置检测到所述预定大小的所述杂散磁场而且所述磁头驱动单元驱动所述磁头到所述磁头退避区时,通知HDD外面的主机施加了所述杂散磁场。9.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,在所述磁性记录介质的内径上布置分配区。10.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,在所述磁性记录介质的所述内径和外圆周上布置分配区。11.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,在所述磁性记录介质的所述内圆周侧提供所述磁头退避区。12.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,所述磁性记录介质在其内径上具有分配区,而且在所述分配区的外侧提供所述磁头退避区。13.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其进一步包含多个磁头退避区,其中,当所述磁头被驱动到磁头退避区时,所述磁头被驱动到所述磁头退避区中的一个,对该磁头退避区而言,所述磁头在那时能够从磁头位置在较短的时间内移到。14.如权利要求4所述的磁盘驱动器,其中,所述磁性记录介质是具有记录层和软下层的多层垂直记录磁盘,而且所述写入磁头是具有主磁极和返回磁极的单磁极类型磁头。15.一种磁盘驱动器中的杂散磁场检测器,包含输入包括磁阻效应元件的读取磁头的输出并从所述输出析取低频成分的装置;杂散磁场检测装置,其从所述析取的低频成分检测杂散磁场;以及估计装置,其估计所述杂散磁场的强度变化。16.如权利要求15所述的杂散磁场检测器,其中,所述估计装置包括存储装置,其存储所述杂散磁场检测装置过去检测的所述杂...
【专利技术属性】
技术研发人员:前田英明,滨口雄彦,菊川敦,铃木干夫,沈丽萍,荒井礼子,
申请(专利权)人:日立环球储存科技荷兰有限公司,
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]
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