从光盘恢复盘管理信息的方法和设备技术

本发明专利技术提供一种一次写入型光记录介质和用于向该一次写入型光记录介质存储和从该一次写入型光记录介质恢复缺陷管理信息的方法和装置。该记录介质包括至少一个记录层，以及在该记录层上的数据区。该数据区包括至少一个备用区和用户数据区。该备用区包含至少一个替换簇，每个该替换簇在其中存储相应缺陷簇的地址信息。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种一次写入型光盘以及用于从一次写入型光盘恢复盘管理信息的方法和设备。
技术介绍
光盘被广泛地用作记录大量数据的光学介质。近来，在光盘当中，一种新型高清晰度数字视频盘(HD-DVD)类型的记录介质，如蓝光盘，正在开发中。高清晰度视频数据和高清晰度音频数据都能够写入并长时间保存在这种蓝光盘上。这种蓝光盘，即下一代HD-DVD技术，能够比现有的DVD存储更多的数据。通常，这种蓝光盘厚1.2mm且直径12cm，并具有0.1mm厚度的可通过波长405nm的蓝紫激光的光传输层，其比现有的使用波长650nm的红色激光的DVD更精密。该蓝光盘的多种草拟标准正在准备之中。在这方面，一次写入型蓝光盘(BD-WO)的各种草拟标准的筹备是继可重写蓝光盘之后的。BD-WO是一种只允许在其区域内记录一次的一次写入型蓝光盘，而BD-RE是一种允许在其区域内记录、擦写和重复记录的可重写蓝光盘。图1示意性地示出了BD-RE的记录区的结构。图1中的蓝光盘具有一个记录层，其从盘的内圆周开始，依次提供导入区、数据区域、导出区。数据区具有分别位于数据区域内圆周部分的内备用区域(ISA0)和位于数据区域外圆周部分的外备用区域(OSA0)，以及供用户数据写入/记录的位于数据区中部的用户区。如果在数据写入中间检测到BD-RE数据区域中的缺陷区，则执行替换写入操作，该操作是将缺陷区中的数据转移到备用区中。之后，缺陷区的位置之类的相关信息以及已用的替换区域的相关信息，都作为缺陷区的管理信息被写入到导入/出区的缺陷管理区(DMA1DMA2，DMA3，及DMA4)中，用于缺陷管理。然而，由于在一次写入型光盘中，在特定区域上仅可以进行一次写入操作，因而管理好如下信息就尤为重要，即，表示一个区域是否具有写入其上的数据的位置信息，表示能够写入数据的盘区域的位置的位置信息，表示缺陷区的位置的缺陷区信息，等等。在正在开发的一次写入型光盘例如BD-WO的统一标准中，在缺陷管理信息被损坏或未写入的情况下，提供缺陷管理信息并恢复缺陷管理信息的方法需要建立统一的标准。如果在没有恢复丢失的盘管理信息的情况下将数据写入盘中，则会出现很多问题，例如根据先前的不正确的管理信息写入数据，以及获得不正确的盘上可记录区域的位置。
技术实现思路
由此，本专利技术涉及一种一次写入型光记录介质，以及向/从光盘存储和恢复盘管理信息的方法和装置，其充分地消除了由现有技术的局限和缺点所引起的一个或多个问题。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明中描述，经过以下检验或从本专利技术的实践中学习，上述特征和优点对于本领域的普通技术人员来说是显而易见的。可以如说明书及其权利要求和附图中所特别指出的结构来实现和获得本专利技术的目的和其他优点。根据本专利技术的一个方面，提供一种记录介质，其包括至少一个记录层；及在该至少一个记录层上的数据区，该数据区包括至少一个备用区和用户数据区，该至少一个备用区包含至少一个替换簇，该至少一个替换簇的每个都包含对应缺陷簇的地址信息。根据本专利技术的另一方面，提供一种记录介质，其包括至少一个记录层；及在该至少一个记录层上的数据区，该数据区域包括至少一个备用区和用户数据区，该至少一个备用区存储替换数据，该替换数据替换缺陷数据；其中该替换数据进一步包含对应缺陷数据的地址信息，且该替换数据和缺陷数据由预定单元进行存储。根据本专利技术的另一方面，提供一种管理记录介质上的盘管理信息的方法，该记录介质包括数据区，该数据区包括至少一个备用区和用户数据区，该至少一个备用区包含至少一个替换簇，该方法包括(a)在至少一个替换簇的每个中存储相应缺陷簇的地址信息。根据本专利技术的另一方面，提供一种从记录介质恢复管理信息的方法，该记录介质包括用于在其中记录临时盘定义结构(temporary discdefinition structure，TDDS)信息以及临时缺陷列表(TDFL)信息的临时缺陷管理区，该方法包括从该记录介质中再现第(n-1)个TDDS信息；确定第(n-1)个TDDS信息所指示的区域随后的确定区域是否具有记录；如果该确定区域具有记录，则确定与该确定区域相关联的位置信息；以及基于该确定的位置信息重构第(n)个TDDS信息。根据本专利技术的另一方面，提供一种从记录介质恢复管理信息的方法，该记录介质包括用于在其中记录临时盘定义结构(TDDS)信息以及临时缺陷列表(TDFL)信息的临时缺陷管理区，该记录介质进一步包括至少一个备用区，该备用区具有至少一个替换簇，该至少一个替换簇的每个具有存储在其中的相应的缺陷簇的地址信息和替换簇的地址信息，该方法包括从记录介质中再现第(n-1)个TDFL信息；从确定的替换簇中再现缺陷簇的地址信息和替换簇的地址信息；以及基于再现的地址信息来重构第(n)个TDFL信息。根据本专利技术的另一方面，提供一种用于管理记录介质上的盘管理信息的设备，该记录介质包括数据区，该数据区包括至少一个备用区和用户数据区，该至少一个备用区包含至少一个替换簇，该设备包括用于向记录介质记录数据和从记录介质再现数据的记录/再现单元；以及用于控制记录/再现单元将相应的缺陷簇的地址信息存储到该至少一个的替换簇的每个中的控制单元。根据本专利技术的另一方面，提供一种从记录介质恢复管理信息的设备，该记录介质包括用于在其中记录临时盘定义结构(TDDS)信息以及临时缺陷列表(TDFL)信息的临时缺陷管理区，该设备包括元件的组合，这些元件用于从该记录介质再现第(n-1)个TDDS信息；确定该第(n-1)个TDDS信息所指示的区域随后的确定区域是否具有记录；如果该确定区域具有记录，则确定与该确定区域相关联的位置信息；以及基于该确定的状态信息重构第(n)个TDDS信息。根据本专利技术的另一方面，提供一种从记录介质恢复管理信息的设备，该记录介质包括用于在其中记录临时盘定义结构(TDDS)信息以及临时缺陷列表(TDFL)信息的临时缺陷管理区，该记录介质进一步包括至少一个备用区，该备用区具有至少一个替换簇，该至少一个替换簇的每个具有存储在其中的相应缺陷簇的地址信息和替换簇的地址信息，该设备包括元件的组合，这些元件用于从该记录介质中再现第(n-1)个TDFL信息；从确定的替换簇中再现缺陷簇的地址信息和替换簇的地址信息；以及基于该再现的地址信息重构第(n)个TDFL信息。应该明白的是，本专利技术的前面的一般性描述和下面的详细描述是示例性和解释性的，并意在提供对如权利要求的本专利技术的进一步的解释。附图说明所包括的附图提供对本专利技术的进一步理解，并被结合和构成本申请的一部分，其说明了本专利技术的实施例，并连同说明书一起用来解释本专利技术的原理。在附图中图1示意性地示出了BD-RE上写入区的结构；图2示出了根据本专利技术的一次写入型光盘的结构；图3示出了根据本专利技术可存储在图2的一次写入型光盘上的临时盘管理信息；图4示出了根据本专利技术图2和3的一次写入型光盘的备用区域中替换区的记录单元结构；图5示出了根据本专利技术可存储在图2和3的一次写入型光盘上的临时盘管理信息的内容；图6示出了根据本专利技术第一实施例恢复一次写入型光盘的盘管理信息的方法；图7示出了根据本专利技术在一次写入型光盘上确定已记录或未记录区域的方法；图8示出了根据本专利技术图2和3中的一次写入型光盘中丢失的临时缺陷区域信息的内容；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种记录介质，包括：至少一个记录层；以及在该至少一个记录层上的数据区，该数据区域包括至少一个备用区和用户数据区，该至少一个备用区包含至少一个替换簇，每个该至少一个替换簇包含相应缺陷簇的地址信息。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2003-5-9 60/469,005;KR 2003-5-27 10-2003-0033691.一种记录介质，包括至少一个记录层；以及在该至少一个记录层上的数据区，该数据区域包括至少一个备用区和用户数据区，该至少一个备用区包含至少一个替换簇，每个该至少一个替换簇包含相应缺陷簇的地址信息。2.如权利要求1所述的记录介质，其中该地址信息存储在每个替换簇的确定区域中。3.如权利要求2所述的记录介质，其中该确定区域是每个替换簇的用户控制数据区。4.如权利要求2所述的记录介质，其中该确定区域是每个替换簇的地址区。5.如权利要求1所述的记录介质，其中该地址信息是缺陷簇的第一物理扇区编号。6.如权利要求1所述的记录介质，其中该缺陷簇位于该至少一个备用区和用户数据区的至少一个中。7.如权利要求6所述的记录介质，进一步包括临时缺陷管理区，用于在其中存储有关于缺陷簇和替换簇的缺陷管理信息，其中该缺陷簇的地址信息用于重构丢失的缺陷管理信息。8.如权利要求1所述的记录介质，其中该记录介质是一次写入型光盘。9.如权利要求8所述的记录介质，其中该一次写入型光盘是一次写入型蓝光盘。10.一种记录介质，包括至少一个记录层；以及该至少一个记录层上的数据区，该数据区包括至少一个备用区和用户数据区，该至少一个备用区存储替换数据，该替换数据替换缺陷数据；其中该替换数据进一步包含相应于缺陷数据的地址信息，且该替换数据和缺陷数据由预定单元进行存储。11.一种管理记录介质上的盘管理信息的方法，该记录介质包括数据区，该数据区包括至少一个备用区和用户数据区，该至少一个备用区域包含至少一个替换簇，该方法包括(a)在每个该至少一个替换簇中存储相应于缺陷簇的地址信息。12.如权利要求11所述的方法，其中在存储步骤(a)中，该地址信息存储在该每个替换簇的确定区域中。13.如权利要求12所述的方法，其中在存储步骤(a)中，该确定区域是该每个替换簇的用户控制数据区。14.如权利要求12所述的方法，其中在存储步骤(a)中，该确定区域是该每个替换簇的地址区。15.如权利要求11所述的方法，其中在存储步骤(a)中，该地址信息是缺陷簇的第一物理扇区编号。16.如权利要求11所述的方法，其中在存储步骤(a)中，该缺陷簇位于至少一个备用区域和用户数据区域的至少一个中。17.如权利要求16所述的方法，进一步包括(c)将关于缺陷簇和替换簇的缺陷管理信息存储到记录介质的临时缺陷管理区中。18.如权利要求11所述的方法，进一步包括(d)通过使用存储步骤(a)中存储的缺陷簇的地址信息，恢复丢失的缺陷管理信息。19.如权利要求11所述的方法，其中在存储步骤(a)中，该记录介质是一次写入型光盘。20.如权利要求19所述的方法，其中在存储步骤(a)中，该一次写入型光盘是一次写入型蓝光盘。21.一种从记录介质恢复管理信息的方法，该记录介质包括用于在其中记录临时盘定义结构(TDDS)信息以及临时缺陷列表(TDFL)信息的临时缺陷管理区域，该方法包括从该记录介质中再现第(n-1)个TDDS信息；确定该第(n-1)个TDDS信息所指示的区域随后的确定区域是否具有记录；如果该确定区域具有记录，则确定与这个确定区域相关联的位置信息；以及基于该确定的位置信息重构第n个TDDS信息。22.如权利要求21所述的方法，其中该确定位置信息的步骤是利用来自该确定区域的RF信号来进行的。23.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴容彻，
申请(专利权)人：LG电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]