硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统，其用以检测一硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常，本发明专利技术首先依照硬盘的容量获得其总磁道数Ｎ；设定磁头第一次搜寻时的磁头摆动的振幅为Ｎ，然后依照上述设定驱动磁头在硬盘上做钟摆式搜寻以驱动硬盘状态显示灯闪烁；以及最后判断每次硬盘状态显示灯的闪烁是否与每次搜寻相对应。本发明专利技术有效降低了硬盘状态显示灯的闪烁频率，更易于检测人员观察其工作状态是否良好，从而提高了对硬盘状态显示灯测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种硬盘状态显示灯的测试方法和测试系统，特别涉及一种使检测人员更易于观察显示灯工作状态的硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统。
技术介绍
硬盘是计算机极重要的一部分，所有的数据都会保存在硬盘中，一旦硬盘出现错误，造成数据遗失或损坏，其损失会比整个计算机报废的损失还要大。硬盘上的所有信息都存储在磁道(Track)中，磁道是硬盘盘片表面上不同周长的同心圆，与树的年轮非常相似。在硬盘进行读写时，磁头臂在音圈马达(Voice Coil Motor)的驱动下从硬盘的最外缘向最内缘径向移动，以带动与之相连的磁头进行搜寻，硬盘盘片在中轴马达的带动下高速旋转，由读写磁头进行数据读写的操作。读写磁头在磁盘上不同磁道间搜寻花费的时间称为搜寻时间，它是决定储存时间的重要因素。在搜寻过程中，磁头臂在硬盘上方进行径向运动，磁头到达指定磁道之前，计算机机壳外部的发光二极管(Light Emitting Diode，LED)状态为暗，磁头到达指定磁道时，LED灯的状态为亮，因此在硬盘进行读写操作时，LED灯看上去在不断的闪烁，表明硬盘正处于工作状态，闪烁的快慢与磁头从所在磁道到达指定磁道所用的时间即搜寻时间有关，磁头到达指定磁道所用的时间越长，LED灯的闪烁频率越慢，反之则闪烁得越快。用户或检测人员可以很直观地了解到当前硬盘的工作状态，并及时了解硬盘是否正常工作，因此，对显示硬盘状态的LED的测试是硬盘测试的一个重要环节。通常，测试显示硬盘状态的LED是采用顺次搜寻读写以驱动LED闪烁，测试人员可通过判断每次搜寻时LED是否正常闪烁来判断LED是否能准确显示硬盘的工作状态，由于顺次读写硬盘是逐道搜寻，搜寻时间很短，LED灯闪烁频率约为20赫兹左右，略低于肉眼所能观察分辨的极限频率24赫兹，非常不利于观察，测试人员经常会误认为LED灯没有闪烁，容易造成对测试结果的错误判断，而且，测试中频繁读写对硬盘来说也是一种不必要的损耗。因此，关键问题是如何采用一种能够让肉眼易于准确判断的方法对硬盘状态显示灯进行测试，这也是业界一直致力解决的技术瓶颈。
技术实现思路
为了解决上述公知技术中的问题与缺点，本专利技术的目的在于提供一种能够简单、便利及精确地检测硬盘状态显示灯的测试方法及其测试系统。因此，为达到上述目的，本专利技术所公开的一种硬盘状态显示灯的测试方法，其用以检测硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常，其测试方法包含如下步骤依照硬盘的容量获得其总磁道数N；设定磁头搜寻的最大摆动振幅为N个磁道，并设定磁头第一次搜寻时的磁头摆动的摆动振幅为最大摆动振幅，以后每次搜寻的摆动振幅依次递减；依照所述设定驱动磁头在硬盘上做钟摆式搜寻以驱动硬盘状态显示灯闪烁；以及判断每次硬盘状态显示灯的闪烁是否与每次搜寻相对应。根据本专利技术的硬盘状态显示灯的测试方法，其中该磁头摆动的摆动振幅在每次搜寻时递减一个磁道。根据本专利技术的硬盘状态显示灯的测试方法，其中该磁头从该硬盘一第一磁道开始搜寻，最终至该硬盘的中间磁道，以完成对该整个硬盘的搜寻。根据本专利技术的硬盘状态显示灯的测试方法，其中当该总磁道数N为偶数时，最终该磁头搜寻至第N/2+1磁道，当该总磁道数N为奇数时，最终该磁头搜寻至第(N+1)/2磁道。本专利技术所公开的一种硬盘状态显示灯的测试系统，其用以检测一硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常，该测试系统包含一磁道总数获取模块，其用于获取硬盘的总磁道数N；一磁头运动设定模块，其依照磁道总数获取模块获取的总磁道数N设定磁头搜寻的最大摆动振幅为N个磁道，并设定磁头第一次搜寻时磁头摆动的摆动振幅为最大摆动振幅，以后每次搜寻的摆动振幅依次递减；以及一磁头控制模块，其依照磁头运动设定模块的设定驱动磁头在硬盘上做钟摆式搜寻以驱动硬盘状态显示灯闪烁。根据本专利技术的硬盘状态显示灯的测试系统，其中该磁头摆动的摆动振幅在每次搜寻时递减一个磁道。根据本专利技术的硬盘状态显示灯的测试系统，其中该磁头控制模块依照所述设定通过控制一音圈马达驱动一磁头臂摆动，并由该磁头臂带动该磁头搜寻。根据本专利技术的硬盘状态显示灯的测试系统，其中该磁头臂带动该磁头从该硬盘一第一磁道开始搜寻，最终至该硬盘的中间磁道，以完成对该整个硬盘的搜寻。根据本专利技术的硬盘状态显示灯的测试系统，其中当该总磁道数N为偶数时，最终该磁头搜寻至第N/2+1磁道，当该总磁道数N为奇数时，最终该磁头搜寻至第(N+1)/2磁道。根据本专利技术的硬盘状态显示灯的测试系统，其中该硬盘状态显示灯为一发光二极管。在本专利技术的硬盘状态显示灯的测试方法和测试系统中，磁头从最大摆动振幅开始摆动搜寻，且每次搜寻时磁头摆动的摆动振幅都依次递减，这种搜寻方法使得磁头沿径向运动的范围比较大，磁头到达指定磁道的时间比较长，因此硬盘状态显示灯的闪烁频率比较慢，使检测人员用肉眼容易观察判断硬盘状态显示灯的工作状态是否良好，即硬盘状态显示灯能否准确显示硬盘的工作状态，从而提高了对硬盘状态显示灯测试的准确性。附图说明图1为本专利技术硬盘状态显示灯的测试方法的方法流程图；以及图2为本专利技术硬盘状态显示灯的测试系统的系统方块图。其中，附图标记说明如下步骤301获取硬盘的总磁道数N步骤303设定最大摆动振幅为N个磁道并且摆动振幅依次递减步骤305驱动磁头移动至第1磁道步骤307驱动磁头移动至第N磁道步骤309驱动磁头移动至第2磁道步骤311驱动磁头移动至第N-1磁道步骤313依照上述规律，最终将磁头移动到硬盘的中间磁道步骤315判断硬盘显示灯的闪烁是否与每次硬盘搜寻相对应步骤317通过测试步骤319未通过测试500硬盘状态显示灯的测试系统501磁道总数获取模块503磁头运动设定模块505磁头控制模块具体实施方式以下，将结合附图部分对本专利技术的较佳实施方式作详细说明。图1所示为本专利技术实施例的硬盘状态显示灯的测试方法的方法流程图。本专利技术的硬盘状态显示灯的测试方法采用钟摆式搜寻方法，搜寻顺序为先搜寻磁盘磁道的第一道再搜寻最后一道，然后从最后一道到第二道，再到倒数第二道，以此类推，直至磁盘磁道的中间一道，而且硬盘只进行搜寻不进行读写操作，这种搜寻方法由于磁头臂会沿径向方向作大范围的往复运动，磁头到达指定磁道的时间比较长，因此显示灯的闪烁频率比较慢，测试人员容易观察其工作状态。以下将结合图1详细描述本专利技术硬盘状态显示灯的测试方法。首先获取硬盘的总磁道数N(步骤301)，硬盘具有几千至上万不等的磁道，甚至达到几十万个磁道，硬盘的容量越大，总磁道数越多；依照获得的总磁道数N设定钟摆式搜寻的最大摆动振幅为N个磁道，并且从第二次摆动开始每次摆动的摆动振幅依次递减一个磁道，并储存这些设定数据(步骤303)，其中总磁道数N越大，磁道越多，摆动振幅N越大；依照设定的搜寻规律，通过音圈马达驱动磁头移动至第1磁道(步骤305)，通常，硬盘的磁头都是通过音圈马达驱动磁头臂带动其从最外沿向最内沿移动，所以此处的第1磁道是硬盘最外侧的磁道，那么最内侧的磁道则为第N磁道；音圈马达驱动磁头移动至第N磁道(步骤307)，依照已设定的最大摆动振幅N，音圈马达将磁头沿硬盘的径向移动至第N磁道，因为这次摆动是磁头的第一次摆动，所以此次摆动的摆动振幅为最大摆动振幅N；音圈马达驱动磁头移动至第2磁道(步骤309)，磁头到达第N磁道后，将进本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种硬盘状态显示灯的测试方法，其用以检测一硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常，该测试方法包含如下步骤：依照该硬盘的容量获得其总磁道数Ｎ；设定一磁头搜寻的最大摆动振幅为该Ｎ个磁道，并设定该磁头第一次搜寻时磁头摆动的摆动振幅 为该最大摆动振幅，以后每次搜寻的摆动振幅依次递减；依照所述设定驱动该磁头在该硬盘上做钟摆式搜寻以驱动该硬盘状态显示灯闪烁；以及判断每次该硬盘状态显示灯的闪烁是否与每次搜寻相对应。

【技术特征摘要】
1.一种硬盘状态显示灯的测试方法，其用以检测一硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常，该测试方法包含如下步骤依照该硬盘的容量获得其总磁道数N；设定一磁头搜寻的最大摆动振幅为该N个磁道，并设定该磁头第一次搜寻时磁头摆动的摆动振幅为该最大摆动振幅，以后每次搜寻的摆动振幅依次递减；依照所述设定驱动该磁头在该硬盘上做钟摆式搜寻以驱动该硬盘状态显示灯闪烁；以及判断每次该硬盘状态显示灯的闪烁是否与每次搜寻相对应。2.如权利要求1所述的硬盘状态显示灯的测试方法，其特征在于，该磁头摆动的摆动振幅在每次搜寻时递减一个磁道。3.如权利要求1所述的硬盘状态显示灯的测试方法，其特征在于，该磁头从该硬盘一第一磁道开始搜寻，最终至该硬盘的中间磁道，以完成对该整个硬盘的搜寻。4.如权利要求3所述的硬盘状态显示灯的测试方法，其特征在于，当该总磁道数N为偶数时，最终该磁头搜寻至第N/2+1磁道，当该总磁道数N为奇数时，最终该磁头搜寻至第(N+1)/2磁道。5.一种硬盘状态显示灯的测试系统，其用以检测一硬盘的硬盘状态显示灯的工作状态是否正常，该测试系统包含一磁道总数获取模块，其用于获取该硬盘的总磁道数N；一磁...

【专利技术属性】
技术研发人员：周翔，陈玄同，刘文涵，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]