全息存储器介质、全息存储器设备和全息记录设备制造技术

即使当在垂直于包括信号光束和参考光束的光轴的表面的方向（径向倾斜方向）上在全息存储器中产生倾斜误差时，仍然可以通过抑制该倾斜误差而允许所述信号光束和参考光束在相对于该全息存储器的适当角度下进入该全息存储器。预先在全息存储器介质上记录用于指定参考光束在径向倾斜方向上的参考入射角度的参考倾斜全息图。在记录和再现操作期间，把参考光束发射到该参考倾斜全息图的记录位置，并且基于所接收的光状态来检测参考光束的参考入射角度（参考角度Ｓｒ）。驱动用于在径向倾斜方向上移动全息存储器介质的倾斜致动器（１９），以便把参考光束在径向倾斜方向上的入射角度调节到参考角度Ｓｒ。随后，把信号光束和参考光束发射到全息存储器介质，以便执行记录和再现操作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种全息存储器介质、一种全息存储器设备以及一种全息记录设备，其中通过固定在信号光束与参考光束发生干涉时所产生的干涉带而在该全息存储器介质上记录信息，该全息存储器设备用于把信息记录在该全息存储器介质中并且用于从中再现信息，该全息记录设备用于在该全息存储器介质中记录信息。特别地，本专利技术适于校正在所述全息存储器介质和所述参考光束之间所产生的倾斜误差。
技术介绍
一般来说，在全息存储器中，通过固定干涉带而在全息存储器材料层中记录信息，该干涉带是由信号光束和参考光束之间的干涉所产生的。在这种情况下，根据将被记录的信息对该信号光束进行空间光调制。因此，当把所述信号光束和参考光束施加到该全息存储器时，根据将被记录的信息在该全息存储器材料层中产生明暗干涉带。在所述全息存储器材料层中的高度聚合的单体被吸引到将被聚合的所述干涉带的“明亮”区域，从而相应于该干涉带固定了该全息存储器材料层中的折射率分布。结果，信息被记录在全息存储器上。已经知道，在全息存储器中，可以通过相对于所述全息存储器材料层改变参考光束的入射角度而在一个记录区域(记录块)中同时记录多种信息(角度复用)。换句话说，所述参考光束对于不同的信息片段以不同的角度入射，以便对信号光束进行空间调制，从而有可能在相同的记录区域上根据每个不同信息片段的入射角度彼此独立地固定对应于每个不同信息片段的干涉带。在再现期间，以与记录期间施加参考光束的相同角度把参考光束施加到全息存储器材料层。因此，根据该角度的干涉带在参考光束中发生衍射，并且衍射的参考光束被感光器元件所接收，以便再现在该角度下记录的信息。JP 11-16374 A和JP 2000-338846 A各描述了一种基于角度复用的全息存储器设备。在通过角度复用记录信息的情况下，一般来说，在一个表面的平面内方向上改变参考光束相对于全息材料层的入射角度，该表面包括信号光束和参考光束的光轴。因此，即使在再现期间所述全息存储器和参考光束之间在所述平面内方向上出现倾斜误差时，也可以通过根据该倾斜误差控制用于调节参考光束的致动器(检电镜(galvanomirror)等等)来把参考光束相对于全息存储器的入射角度调节到适当的状态。例如，如图12A所示，当在全息存储器材料层中产生干涉带时，即使在再现期间在该全息存储器内的沿着图12A的线X-Y的平面中出现倾斜，也可以如图12B所示地驱动并且控制所述参考光束致动器以便校正参考光束的入射角度，从而使得参考光束以适当的角度入射到全息存储器上。然而，当所述倾斜误差是在垂直于包括信号光束和参考光束的光轴的表面的方向上发生时(也就是说当所述倾斜误差是在图12A和12B所示的X-Z平面的平面内方向上发生时)，无法通过驱动控制用于参考光束的致动器来校正该倾斜误差。在这种情况下，干涉带和参考光束之间的角度不同于记录时的情况下，因此不可能获得适当的再现信号。
技术实现思路
本专利技术旨在解决上述问题。本专利技术的一个目的是能够通过校正倾斜误差而在全息存储器中适当地记录信息或者适当地从中再现信息，即使当该倾斜误差是在垂直于包括信号光束和参考光束的光轴的平面的方向上出现在全息存储器中时也是如此。本专利技术的第一方面涉及一种全息存储器介质，基于全息图原理在该全息存储器介质上记录参考信息，所述参考信息用于指定参考光束的入射角度或者参考光束和信号光束的入射角度。在本专利技术的第一方面中，可以通过在一个区域内对根据角度改变的多种信号模式进行多重记录而把所述参考信息记录在全息存储器介质上，同时，所述角度在预定方向上改变。更具体来说，可以通过在预定方向上改变参考光束和信号光束的入射角度而把参考信息记录在全息存储器介质上，以便在所述区域内对多种信号模式进行多重记录，同时，所述参考光束和信号光束在包括参考光束和信号光束的光轴的表面的平面内方向上的入射角度被保持。此外，在本专利技术的第一方面中，可以通过在一个区域内记录一种信号模式而把参考信息记录在全息存储器介质上，同时，在预定方向上的角度被保持。更具体来说，可以通过在预定方向上保持参考光束和信号光束的入射角度而把参考信息记录在全息存储器介质上，以便在所述区域内记录该种信号模式，同时，所述参考光束和信号光束在包括参考光束和信号光束的光轴的表面的平面内方向上的入射角度被保持。此外，在本专利技术的第一方面的全息存储器介质中，可以基于全息图原理在彼此不同的位置处记录第一参考信息和第二参考信息，第一参考信息用于指定所发射的激光束在第一方向上的入射角度，第二参考信息用于指定所发射的激光束在不同于第一方向的第二方向上的入射角度。更具体来说，第一方向是包括参考光束和信号光束的光轴的表面的平面内方向，第二方向是这样一个表面的平面内方向，该表面垂直于包括参考光束和信号光束的光轴的表面。在这种情况下，可以通过在第一区域内对根据角度改变的多种信号模式进行多重记录而把第一参考信息记录在全息存储器介质上，同时，所述角度在第一方向上改变；并且可以通过在第二区域内对根据角度改变的多种信号模式进行多重记录而把第二参考信息记录在全息存储器介质上，同时，所述角度在第二方向上改变。本专利技术的第二方面涉及一种全息存储器设备，其用于在全息存储器介质上记录信息和/或从该全息存储器介质中再现信息，该全息存储器介质包括用于指定参考光束在预定方向上的入射角度或者参考光束和信号光束在预定方向上的入射角度的参考信息，该参考信息基于全息图原理被记录。根据本专利技术的第二方面的全息存储器设备的特征在于其包括检测装置，其通过把参考光束发射到参考信息的记录位置来检测由该参考信息指定的该参考光束的入射角度；角度调节装置，其基于由该检测装置检测到的入射角度来调节所述参考光束相对于该全息存储器介质的入射角度或者所述参考光束和信号光束相对于该全息存储器介质的入射角度。根据本专利技术的第二方面的一个模式，通过在一个区域内对根据角度改变的多种信号模式进行多重记录而把参考信息记录在全息存储器介质上，同时，所述角度在预定方向上改变。在这种情况下，所述检测装置检测由所述参考信息指定的所述参考光束的入射角度，这是基于光电检测器的光接收状态与所述多种信号模式之间的对应关系而实现的，所述光电检测器的光接收状态是当在预定方向上改变的入射角度下把参考光束发射到所述参考信息的记录位置时所获得的光接收状态。此外，根据本专利技术的第二方面的另一个模式，通过在一个区域内记录一种信号模式而把参考信息记录在全息存储器介质上，同时，在预定方向上的角度被保持。在这种情况下，当在该预定方向上改变的入射角度下把参考光束发射到所述参考信息的记录位置时，所述检测装置检查所述光电检测器的光接收状态，并且把与该光电检测器中的最大接收光量相关的入射角度检测为由该参考信息指定的该参考光束的入射角度。本专利技术的第三方面涉及一种全息记录设备，其包括用于把参考信息记录在包括记录层的全息存储器介质中的记录装置，这是通过参考光束和信号光束在该记录层之间的干涉而进行的，所述参考信息用于指定参考光束在预定方向上的入射角度或者参考光束和信号光束在预定方向上的入射角度。根据本专利技术的第三方面的一个模式，通过在一个区域内对根据角度改变的多种信号模式进行多重记录而把参考信息记录在全息存储器介质上，同时，所述角度在预定方向上改变。此外，根据本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种全息存储器介质，其特征在于，基于全息图原理记录参考信息，所述参考信息用于指定参考光束在预定方向上的入射角度或者所述参考光束和信号光束在预定方向上的入射角度。

【技术特征摘要】
US 2006-3-20 11/3783951.一种全息存储器介质，其特征在于，基于全息图原理记录参考信息，所述参考信息用于指定参考光束在预定方向上的入射角度或者所述参考光束和信号光束在预定方向上的入射角度。2.根据权利要求1的全息存储器介质，其中，通过在一个区域内对根据角度改变的多种信号模式进行多重记录而把所述参考信息记录在该全息存储器介质上，同时，所述角度在所述预定方向上改变。3.根据权利要求2的全息存储器介质，其中，通过在所述预定方向上改变所述参考光束和信号光束的入射角度而把所述参考信息记录在该全息存储器介质上，以便在所述区域内对多种信号模式进行多重记录，同时，所述参考光束和信号光束在包括该参考光束和信号光束的光轴的表面的平面内方向上的入射角度被保持。4.根据权利要求1的全息存储器介质，其中，通过在一个区域内记录一种信号模式而把所述参考信息记录在该全息存储器介质上，同时，在所述预定方向上的角度被保持。5.根据权利要求4的全息存储器介质，其中，通过在所述预定方向上保持所述参考光束和信号光束的入射角度而把所述参考信息记录在该全息存储器介质上，以便在所述区域内记录该种信号模式，同时，所述参考光束和信号光束在包括该参考光束和信号光束的光轴的表面的平面内方向上的入射角度被保持。6.根据权利要求1的全息存储器介质，其特征在于，基于所述全息图原理在彼此不同的位置处记录第一参考信息和第二参考信息，第一参考信息用于指定所发射的激光束在第一方向上的入射角度，第二参考信息用于指定所发射的激光束在不同于第一方向的第二方向上的入射角度。7.根据权利要求1的全息存储器介质，其中，第一方向是包括所述参考光束和信号光束的光轴的表面的平面内方向；以及第二方向是这样一个表面的平面内方向，该表面垂直于包括所述参考光束和信号光束的光轴的表面。8.根据权利要求6或7的全息存储器介质，其中，通过在第一区域内对根据角度改变的多种信号模式进行多重记录而把第一参考信息记录在该全息存储器介质上，同时，所述角度在第一方向上改变；以及通过在第二区域内对根据角度改变的多种信号模式进行多重记录而把第二参考信息记录在该全息存储器介质上，同时，所述角度在第二方向上改变。9.一种全息存储器设备，其用于执行在全息存储器介质中记录信息以及从该全息存储器介质再现信息二者的至少其中之一，该全息存储器介质包括用于指定参考光束在预定方向上的入射角度或者参考光束和信号光束在预定方向上的入射角度的参考信息，该参考信息基于全息图原理而被记录，该全息存储器设备包括检测装置，其通过把所述参考光束发射到该...

【专利技术属性】
技术研发人员：松村吉晋，IR雷德蒙，K马伦兰，
申请(专利权)人：三洋电机株式会社，英菲斯技术公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]