用于在光盘记录装置中对光盘确定最优写入功率的方法包括：在第一位置和在第二位置试写作为记录媒体的光盘，该第一位置的写入灵敏度高于该光盘的平均写入灵敏度，该第二位置的写入灵敏度低于平均写入灵敏度，该第二位置的写入灵敏度与平均写入灵敏度的差值的数量和该第一位置的写入灵敏度与平均写入灵敏度的差值的数量相同；在第一位置和第二位置两者上使用同样的写入功率；以及从试写位置的写入特性的平均值中获得该光盘的最优写入功率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种通过使用激光在光盘上执行写入的光盘记录装置。本专利技术尤其涉及一种为在光盘上执行写入而设定了最优写入功率的光盘记录装置，以及一种用来在该光盘记录装置中确定最优写入功率的方法。
技术介绍
在光盘记录中确定并控制最优写入功率的方法中(此后，最优写入功率简写为Po，最优功率控制简写为OPC)，通常Po是通过算术上处理写入特性被计算出来，诸如在写入时反射系数的波动、写入后的不对称、幅度、调制的深度以及通过在适合获得Po的写入功率附近(此后，简写为Pm)选择的几个点上通过试写(test writing)而获得的抖动(此后，该一系列处理简称为Po操作)。然而，直到执行OPC，Pm的确切值才是可用的。为此，以可以估计的足够宽的范围的写入功率执行试写，在由此获得的写入特性的基础上选择Pm，并且使用在由此选择的Pm附近的点的写入特性来执行Po操作。在OPC中，当光盘在旋转时，在光盘的连续的记录轨道中执行试写。用被改变的写入功率来执行试写。然而，在现有技术中，写入功率简单地从最低变化到最高，或者相反。由此导致的问题是写入功率依赖于在光盘上的位置。图1示意性地展示了现有技术中的OPC方法。为了便于解释，在该情况下的示例包括频率为θt的正弦波形式的写入灵敏度波动。在该例中执行试写的功率(此后，数目简写为N)的数目是6，但对于每个实际情况该数目可以变化。P(i)是一系列试写功率，E(i)是一系列通过以P(i)执行试写而获得的写入特性。为了解释的容易理解，在该例中试写功率系列P(i)中的写入功率被设定为随着值i的增加而增加，但是本专利技术并不局限于此。P(i)i0到N-1…(1)P(i)＜P(i+1)…(2) 通常，在OPC中，用被改变的试写功率来在旋转光盘的特定的连续的位置上执行试写。图1展示了从表示为θs的试写起始位置执行试写，写入功率为P(0)到P(5)。接着，使用由此获得的写入特性E(i)执行Po操作。该例展示了{P(1)+P(2)}/2被选择为Pm，并且在Pm附近的写入特性E(1)和E(2)被选择用于Po操作。通过如图所示的这种写入灵敏度波动，Po值将是对应于状态的值，在该状态中，通过Po操作获得的写入灵敏度为高，因为在该Po操作中使用的写入特性E(1)和E(2)是在高写入灵敏度的位置上测量的值。每次执行试写时，写入灵敏度波动和试写起始位置θs之间的相位关系不同。图2展示了这样的例子。当在这样的相位关系下执行OPC时，所获得的Po值是与状态对应的值，在该状态中，写入灵敏度为低，因为写入特性E(1)和E(2)是在低写入灵敏度位置上测量的值。图1和图2的示例展示了现有技术中OPC所具有的问题。特别地，所获得的Po值的改变是由写入灵敏度波动和试写起始位置之间的相位关系决定的，这将导致OPC中具有较低的正确度。图23展示了现有技术中的OPC方法。在光盘1上以基本同心形式排列的圆形的弧线箭头展示了如何在光盘1上形成的螺旋记录轨道上执行试写。在靠近中心的位置上放置的数字分别指示光盘1上的位置。P(i)是写入功率，用它在每个如对应的圆形弧线箭头所示的部分中执行试写。为了便于解释，在写入功率系列中的写入功率的数目(N)在此图中被设定为8，但对于每个实际情况该数目可以变化。同样为了便于解释，写入功率P(i)被设定为随着值i的增加而增加。图24展示了通过OPC获得的在光盘上的位置、写入功率和写入特性之间的关系。这里，E(i)是当以写入功率P(i)的对应的一个来执行试写时的写入特性。如上所述，在OPC中，选择适于获得Po的写入功率Pm，然后选择Po附近的几个点，然后执行Po操作。图24中的示例展示了P(3)被选为Pm，在所选Pm附近的写入功率P(2)、P(3)和P(4)，以及选择了写入特性E(2)、E(3)和E(4)。顺便提及，由于各种原因，在光盘中发生不均匀(uneven)的写入灵敏度。这样的不均匀包括由于记录膜本身的特性引起的不均匀，由于覆盖膜和反射膜的特性引起的不均匀，以及由于指纹产生的污染引起的不均匀。关注在OPC上的影响，还包括由于光盘弯曲和连接误差导致的光盘与光学透镜的相对位置与相对角度的失配引起的外观不均匀(apparent unevenness)。大多数这样的不均匀依赖于在光盘中的位置。为此，在现有技术执行的试写中，即在用写入功率简单地从最大变到最小或者相反的试写中，以Pm附近的写入功率执行写入的区域会变得彼此接近。由此产生的问题是写入功率和不均匀写入灵敏度的位置的一些组合导致测量点的数目发生很大的变化，所述测量点受到了写入灵敏度中不均匀的影响。图25展示了光盘上不均匀写入灵敏度的分布的示例。图26展示了光盘中位置、写入功率和写入特性之间的关系，所有上述都是通过在光盘上执行的OPC获得的，该光盘具有如图25所示的不均匀写入灵敏度的分布。图25展示了在区域11中存在不均匀写入灵敏度。在该情况下，在受到不均匀写入灵敏度影响的Po操作中使用的所有的写入特性E(2)、E(3)和E(4)，以及使用这些值计算的Po的正确度显著降低。图40示意性地展示了现有技术中的OPC方法。此处，P(i)表示执行试写的写入功率。在光盘1上以基本同心方式排列的圆形的弧线箭头展示了如何在记录轨道上执行试写，在靠近中心的位置上放置的数字(0、1、2、3、4、5…)分别表示在光盘1上的位置。如图所示，在OPC中的试写是在旋转光盘1的连续区域中执行，写入功率是可变的。为了便于解释，如下式所示，写入功率P(i)被设定为随着值i的增加而单调增加。在该情况下，写入功率系列中的写入功率的数目(N)被设定为6，但是在OPC的实际情况中可以使用不同的数目。P(i)i0到N-1其中P(i)＜P(i+1)当执行试写时，写入特性依照盘的写入灵敏度而波动。图41展示了波动如何发生。三个曲线图(1)、(2)和(3)中的每个图的水平轴展示了图40中光盘上的位置。曲线图(1)、(2)和(3)中的垂直轴从上而下分别是写入功率P、写入灵敏度S和写入特性E。从上往下数的第三个曲线图(3)展示了一个例子，其中写入特性从由虚线表示的理论值偏移到由实线表示的实际值，这是由于不均匀写入灵敏度影响了写入特性。由于在OPC中是使用这些写入特性来计算Po的，在现有技术中产生的问题在于不均匀写入灵敏度导致Po的低正确度。该不均匀写入灵敏度不仅包括光盘中记录膜和覆盖层的特性的不均匀，还包括外观不均匀，诸如由于污染和光轴的错配引起的写入功率损失。已经提出了各种方法用来补偿这样的写入灵敏度波动以及不均匀写入灵敏度的影响。然而，在这些方法中，在要执行试写的区域中写入特性的测量在补偿操作之前(例如，查看已经公开的日本专利申请No.2004-253016和已经公开的日本专利申请No.2002-319135)，或区域上写入特性的稳定化在补偿操作之前(例如，查看已经公开的日本专利申请No.2000-251254)。这些方法的缺点在于，由于重复一系列包括特性测量和写入的操作，OPC的进程作为整体将趋于复杂。另一个问题是包括在试写被执行为预处理的区域中的在前写入的方法不适合于不可重写的光盘，例如CD-R(可记录CD)。
技术实现思路
特别地，根据现有技术的OPC，存在的问题是由光盘中写入灵敏度波动和试写起始本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于在光盘记录装置中对光盘确定最优写入功率的方法，包括：在第一位置和在第二位置试写作为记录媒体的光盘，该第一位置的写入灵敏度高于该光盘的平均写入灵敏度，该第二位置的写入灵敏度低于平均写入灵敏度，该第二位置的写入灵敏度与平均写入灵敏度的差值的数量和该第一位置的写入灵敏度与平均写入灵敏度的差值的数量相同，在第一位置和第二位置使用同样的写入功率；以及从试写位置的写入特性的平均值中获得该光盘的最优写入功率。
【技术特征摘要】
JP 2006-4-11 108971/06;JP 2006-4-21 117366/06;JP 21.一种用于在光盘记录装置中对光盘确定最优写入功率的方法，包括在第一位置和在第二位置试写作为记录媒体的光盘，该第一位置的写入灵敏度高于该光盘的平均写入灵敏度，该第二位置的写入灵敏度低于平均写入灵敏度，该第二位置的写入灵敏度与平均写入灵敏度的差值的数量和该第一位置的写入灵敏度与平均写入灵敏度的差值的数量相同，在第一位置和第二位置使用同样的写入功率；以及从试写位置的写入特性的平均值中获得该光盘的最优写入功率。2.如权利要求1所述的用于在光盘记录装置中对光盘确定最优写入功率的方法，其中，基于光盘的写入灵敏度的波动周期来确定第一位置和第二位置。3.如权利要求2所述的用于在光盘记录装置中对光盘确定最优写入功率的方法，其中，基于写入特性的波动获得光盘的写入灵敏度的波动周期，该写入特性通过以恒定的写入功率试写该光盘来获得。4.如权利要求2所述的用于在光盘记录装置中对光盘确定最优写入功率的方法，其中，基于伺服误差信息获得光盘的写入灵敏度的波动周期。5.如权利要求2所述的用于在光盘记录装置中对光盘确定最优写入功率的方法，其中，通过再现先前被写入光盘的写入灵敏度的波动周期的信息获得光盘的写入灵敏度的波动周期的信息。6.如权利要求2所述的用于在光盘记录装置中对光盘确定最优写入功率的方法，其中，在第一轮试写功率系列和第二轮试写功率系列之间提供间隙，使得当重复使用固定长度的试写功率系列时，第一位置和第二位置被以相同的写入功率写入。7.如权利要求2所述的用于在光盘记...
【专利技术属性】
技术研发人员：児玉英隆，
申请(专利权)人：索尼株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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