一种光学仪器的定位系统、方法及光学仪器技术方案

本发明专利技术提供了一种光学仪器的定位系统、方法及光学仪器，光学仪器包括沿着一固定光源的出光方向依次设置的入射狭缝和出射狭缝，定位系统包括：平面镜，固定设置于固定光源的出光口；经纬仪，设置于平面镜的镜面一侧，用于发出光线；平面镜用于反射光线，反射后的光线沿着固定光源的出光方向依次经过入射狭缝和出射狭缝；信号探测器，设置于出射狭缝的出光口并与出射狭缝紧贴，用于检测得到反射后的光线的探测信号。本发明专利技术提供的光学仪器的定位系统、方法及光学仪器通过使用经纬仪发出的可见光替代固定光源发出的射线，省略了使用射线时需事先搭建隔离环境的步骤，不仅节约了时间成本，也节约了人力成本。也节约了人力成本。也节约了人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种光学仪器的定位系统、方法及光学仪器


[0001]本专利技术涉及光学仪器调整
，特别是涉及一种光学仪器的定位系统、方法及光学仪器。

技术介绍

[0002]光学仪器的调试具有极高的精度要求，只有保证光学仪器在合适的位置，从光源发出的射线能够刚好通过仪器接受面，才能测试出正确且准确的信号；而使用射线时往往需要搭建一个隔离室，以避免射线产生的辐射危害工作人员的身体健康。
[0003]在使用较广的光学仪器调试方法中，通常会将测试设备放置在电动位移台上，继而调节测试设备的高度使其与光源的高度一致，并在光源打开后，通过对光源发出的光线进行时时扫描实现仪器的位置调整；然而，上述方法并不适用于无法进行时时扫描的仪器，且使用上述方法不仅准确性欠佳，同时也需付出大量的时间成本和人力成本。
[0004]综上，现有技术中的光学仪器定位方法存在准确性欠佳、时间成本和人力成本高等问题。

技术实现思路

[0005]鉴于以上现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种光学仪器的定位系统、方法及光学仪器，以改善现有技术中的光学仪器定位方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学仪器的定位系统，其特征在于，所述光学仪器包括沿着一固定光源的出光方向依次设置的入射狭缝和出射狭缝，所述定位系统包括：平面镜，固定设置于所述固定光源的出光口；经纬仪，设置于所述平面镜的镜面一侧，用于发出光线；所述平面镜用于反射所述光线，反射后的所述光线沿着所述固定光源的出光方向依次经过所述入射狭缝和所述出射狭缝；信号探测器，设置于所述出射狭缝的出光口并与所述出射狭缝紧贴，用于检测得到反射后的光线的探测信号；调整部件，用于调整所述入射狭缝、所述出射狭缝、所述平面镜、所述经纬仪和所述信号探测器的高度和位置。2.根据权利要求1所述的定位系统，其特征在于，所述调整部件包括：多个升降台，分别设置在所述入射狭缝、所述出射狭缝、所述经纬仪、所述平面镜和所述信号探测器的下方，用于调整所述入射狭缝、所述出射狭缝、所述经纬仪、所述平面镜的高度与所述固定光源相同；电动位移台，设置在所述出射狭缝和所述信号探测器对应的升降台的下方，用于根据所述探测信号移动所述出射狭缝和所述信号探测器。3.根据权利要求2所述的定位系统，其特征在于，所述电动位移台根据所述信号探测器检测出的探测信号移动所述出射狭缝和所述信号探测器。4.根据权利要求1或2所述的定位系统，其特征在于，所述平面镜为倾斜角度可调节的平面镜。5.根据权利要求1或2所述的定位系统，其特征在于，所述经纬仪发出的光线为可见光。6.一种光学仪器的定位方法，其特征在于，所述光学仪器包括固定光源、沿着固定光源的出光方向依次设置的入射狭缝和出射狭缝，所述定位方法包括：根据所述入射狭缝和所述出射狭缝的位置，设置平面镜、经纬仪和信号探测...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱宁，耿继宝，杨兴宇，李朝阳，
申请(专利权)人：安徽创谱仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：