光拾取装置制造方法及图纸

技术编号:3051390 阅读:173 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种光拾取装置,具有:光源;物镜;具备第1和第2光学区域的第1光学元件;具备第3和第4光学区域的第2光学元件;入射主光束和副光束并在第1光学元件与第2光学元件之间使主光束聚光的聚光元件;分离通过了第1和第2光学元件的主光束与副光束的偏振光分支光学构件;以及接受主光束的光检测器,通过了第1和第4光学区域的主光束以及第2和第3光学区域的主光束的偏振方向是第1方向,通过了第1和第3光学区域的副光束以及第2和第4光学区域的副光束的偏振方向是与第1方向不同的第2方向,用聚光元件使从信息记录面反射了的光束聚光了时的倍率和物镜的光信息记录介质一侧的数值孔径满足既定的条件。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及适合于使用具有多层的信息记录面的光盘的光拾取装置
技术介绍
由于以DVD为代表的光盘能以高密度记录大量的信息信号,故 在音频、视频、计算机等的多个领域中越来越多地得到了利用。特别 是在最近,为了适应记录容量的进一步增大的要求,开发了设置多层 的信息记录面的光盘,已实现了上市。但是,在设置了多层信息记录面的光盘中的各记录重放面间的距 离减小了的情况下,在记录重放用的光束对某一个记录重放面进行了 聚光时,来自该记录重放面的反射光受到来自邻接的记录重放面的反 射光的影响,存在作为噪声来识别的危险。与此不同,已知有通过组 合具有带有不同的偏振特性的2个区域的2片波长片来抑制噪声的光 拾取装置(参照非专利文献l)。非专利文献1第6次光盘恳谈会程序讲演资料「使用了光子 结晶的多层光盘的层间分离检出J小形哲也著,平成18年3月17日在此,在非专利文献l中公开了的光拾取装置中,从光盘的信息 记录面反射了的光束在通过了第1波长片后,在第1波长片与第2波 长片之间聚光,进而通过第2波长片,在通过偏振光光束分离器时除 去噪声分量,只使正规的信号入射到光检测器上。然而,在非专利文 献l的光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对具有多层的信息记录面的光信息记录介质进行信息的记录和/或重放的光拾取装置,其特征在于具有:光源;将来自光源的光束聚光在上述光信息记录介质的多层的信息记录面的某一层上的物镜;以夹住光轴的方式具备第1光学区域和第2光学区域的第1光学元件;以夹住光轴的方式具备第3光学区域和第4光学区域的第2光学元件;入射:作为从来自上述光源的光束被聚光了的光信息记录介质的信息记录面反射了的光束的主光束和作为从光信息记录介质的多层的信息记录面反射了的光束中上述主光束以外的光束的副光束,并在上述第1光学元件与上述第2光学元件之间使上述主光束聚光的聚光元件;分离通过了上述第1光学元件和上述第2光学元件的上述主光束与...

【技术特征摘要】
JP 2006-7-26 2006-2034061.一种对具有多层的信息记录面的光信息记录介质进行信息的记录和/或重放的光拾取装置,其特征在于具有光源;将来自光源的光束聚光在上述光信息记录介质的多层的信息记录面的某一层上的物镜;以夹住光轴的方式具备第1光学区域和第2光学区域的第1光学元件;以夹住光轴的方式具备第3光学区域和第4光学区域的第2光学元件;入射作为从来自上述光源的光束被聚光了的光信息记录介质的信息记录面反射了的光束的主光束和作为从光信息记录介质的多层的信息记录面反射了的光束中上述主光束以外的光束的副光束,并在上述第1光学元件与上述第2光学元件之间使上述主光束聚光的聚光元件;分离通过了上述第1光学元件和上述第2光学元件的上述主光束与上述副光束的偏振光分支光学构件;以及接受上述主光束的光检测器,上述光拾取装置通过经上述物镜将来自上述光源的光束聚光在光信息记录介质的多层的信息记录面的某一层上来进行信息的记录和/或重放,上述主光束在通过上述第1光学元件和上述第2光学元件时,上述第1光学区域和上述第4光学区域对通过了上述第1光学区域和上述第4光学区域的主光束给予第1方向的偏振方向,上述第2光学区域和上述第3光学区域对通过了上述第2光学区域和上述第3光学区域的主光束给予第1方向的偏振方向,上述副光束在通过上述第1光学元件和上述第2光学元件时,上述第1光学区域和上述第3光学区域对通过了上述第1光学区域和上述第3光学区域的副光束给予第2方向的偏振方向,上述第2光学区域和上述第4光学区域对通过了上述第2光学区域和上述第4光学区域的副光束给予第2方向的偏振方向,上述主光束在通过了上述第1光学元件后,在上述第1光学元件与上述第2光学元件之间被聚光,并通过上述第2光学元件进而经偏振光分支光学构件入射到光检测器上,另一方面,上述副光束在通过了上述第1光学元件后,在上述第1光学元件与上述第2光学元件之间不被聚光,因而通过上述第2光学元件入射到偏振光分支光学构件上的副光束进而被上述偏振光分支光学构件分支而不入射到上述光检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:长井史生
申请(专利权)人:柯尼卡美能达精密光学株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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