一种基于双波长激光调制的细颗粒物测量装置制造方法及图纸

技术编号:30492730 阅读:19 留言:0更新日期:2021-10-27 22:21
本实用新型专利技术公开了一种基于双波长激光调制的细颗粒物测量装置,包括半导体激光器、He

【技术实现步骤摘要】
一种基于双波长激光调制的细颗粒物测量装置


[0001]本技术涉及光电检测技术,尤其涉及一种基于双波长激光调制的细颗粒物测量装置。

技术介绍

[0002]细颗粒物又称PM2.5,是环境空气中空气动力学当量直径≤2.5μm的颗粒物。
[0003]消光法是一种基于Mie氏散射理论,是近似地通过散射光的变化实现对待测物精确测量的方法,具有重复性好、测量结果准确的优点。在现有的消光方法基础上,又出现了许多颗粒物粒径和浓度测量的方法,如光阻法、单波长法、双波长法、多波长法等,这些方法为颗粒物在线、实时测量提供了方向。但这些方法多数都存在消光系数测量计算不准确,需要对多种未知数进行估计,计算困难的问题。
[0004]目前,主流的单波长法需要对粒子个数和颗粒浓度做估计,实际计算过程中误差较大。双波长测量法可以更加快速准确的计算颗粒物消光系数,并且在针对PM2.5粒度范围的颗粒进行测量时,可以有效地改善多值问题。

技术实现思路

[0005]一方面为了解决单波长法要在消光方程中对两个未知数进行估计,无法求解的问题;另一方面为了在实验本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双波长激光调制的细颗粒物测量装置,其特征在于,装置包括:半导体激光器(1)、He

Ne激光器(2)、第一光学衰减片(3)、第一分光棱镜(4)、第一偏振片(5)、第二光学衰减片(6)、显微物镜(7)、针孔(8)、准直镜(9)、第二偏振片(10)、平面反射镜(11)、第二分光棱镜(12)、第一凸透镜(13)、第一光阑(14)、第一CCD图像传感器(15)、样品(16)、第二凸透镜(17)、第二光阑(18)、第二CCD图像传感器(19)、计算机(20);第一光路半导体激光器(1)发出激光光束入射到第一光学衰减片(3),第二光路He

Ne激光器(2)发出激光,两个光路通过第一分光棱镜(4)入射到第一偏振片(5),将光束变为线偏振光,再通过第二光学衰减片(6),进入由显微物镜(7)、针孔(8)和准直镜(9)构成的望远镜扩束准直系统,经过扩束准直系统的光线通过起检偏作用的第二偏振片(10),入射至平面反射镜(11),反射光入射到第二分光棱镜(12)中,经过第二分光棱镜(12)的光束被分为水平光和垂直光,通过第二分光棱镜(12)分光的垂直光入射至第一成像系统,其中:所述第一成像系统由第一凸透镜(13)和第一光阑(14)组成;光束通过第一成像系统入射至第一CCD图像传感器(15);通过第二分光棱镜(12)分光的水平光入射至样品(16),样品(16)的散射光入射至第二成像系统...

【专利技术属性】
技术研发人员:房鑫宇于雪莲潘立辉罗如芝吴佳哲宋良峰
申请(专利权)人:哈尔滨理工大学
类型:新型
国别省市:

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