本发明专利技术公开了一种光学拾取装置以及光学记录和再现装置。该光学拾取装置具有光源、准直透镜、检测器和分离部件、物镜、光学检测系统、以及光检测器，用于向和从具有多层的光盘记录和读出信息，该光学拾取装置包含：聚光光学元件，用于会聚从所述光盘的多个层反射的光束；前屏蔽部件，用于屏蔽定向到第一区域的光束；以及后屏蔽部件，用于屏蔽定向到第二区域的光束；其中所述第一和第二区域由聚光光学元件的光轴所划分。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学系统、光学拾取装置、和光盘装置，并尤其涉及用于从 光束中提取信号光分量的光学系统、包括该光学系统的光学拾取装置、包括 该光学拾取装置的光盘装置以及光学记录和再现装置。-
技术介绍
近些年来而且持续地，由于数字技术的发展和数据压缩技术的改进，用 于记录计算机程序、音频信息、视频信息(下面成为内容)的光盘(例如， CD (致密盘)和DVD (数字多用途盘))正获得更多的注意。因此，随着光 盘变得价格低廉，用于读出记录在光盘中的信息的光盘装置已经逐渐得到广 泛的使用。要记录在光盘中的信息量逐年增加。因此，期望单个光盘的记录容量的 进一步增加。关于正被开发的用于增加光盘记录容量的措施，例如存在有增 加记录层数目的措施。因此，正在对具有多个记录层的光盘(以下称为多 层盘)和存取这些多层盘的光盘装置进行积极研究。在多层盘中，如果各记录层之间的间距太大，则存在来自目标记录层的 信号受球面像差不利影响的可能性。因此，倾向于减少各记录层之间的间距。 然而，减少各记录层之间的间距导致在各记录层之间的串音(所谓的层间 串音)。因此，从多层盘返回(反射)的光束不仅包含从目标记录层反射的 期望光束(以下称为信号光)，而且还包括从除该目标记录层之外的记录 层反射的大量不想要的光束(以下称为杂光(stray light))。这导致再现信 号的S/N比的下降。例如，图51A和51B是用于描述从双层记录介质中读出信息的操作的示 意图。图51A是示出读取记录在第一记录层MB0中的信息的情况的射线图，而图51B是示出读取记录在第二记录层MB1中的信息的情况的射线图(也 参见图2)。在图50A中，物镜104远离基板表面定位，以便在第一层L'O上形成准 直射束点(fine beam spot )。在图50B中，物镜104更接近基板表面定位，以 便在第二层L'1上形成准直射束点。如图50A和50B所示，当从第一和第二 层L'0和L'1反射的信号光线通过物镜104传输时，它们改变为平行光线，而 且如果检测透镜106布置在固定位置处，则它们在相同的光接收表面108处 会聚并且被检测。图52示出了在减少在双层DVD盘的第一和第二层MB0和MB1之间的 中间层的厚度的情况下、观察从第一层MBO再现的信号的抖动的降级的结果。如图51A中的虛线所示，在从第一层MBO中读出信息的情况下，从第 二层MB1生成杂光。如图51B中的虛线所示，在从第二层MB1中读出信息 的情况下，从第一记录层MBO生成杂光。杂光的一部分与从目标记录层反射 的光束相重叠，并且在光一企测器108处^D险测。这个杂光通常被检测为各种信号的偏移(在Shintani等人所著， Analyses for Design of Drives and Disks for Dual-layer Phase Change Optical Disks的第281 - 283页中进行了更详细的描述)。此外，在减少中间层厚度的情况下，在到达光学4企测单元108之前，在 信号光和杂光之间存在干扰。这个干扰产生了聚焦误差信号、轨道误差信号、 和盘再现信号中的噪声分量(抖动)。例如，在观察^^第一记录层MBO再现 的信号中的抖动中，图52示出了当中间层以小于30(im的厚度形成时，抖动 受到不利的影响。这个现象通常称为串音。因此，在减少双层记录介质中的 中间层的厚度的情况下，在光学拾取装置中消除或者减少杂光是所期望的。在一个相关技术示例中，可以通过在光学检测系统中提供衍射光栅以便 把信号光和杂光划分为主光和辅助光、利用不同的光检测器检测来自多个层 的杂光、并且计算在信号光和杂光之间的差别，来消除由杂光所导致的偏移 (参见日本公开专利申请2001-273640)。然而，利用这个相关技术示例，不 仅杂光由衍射光栅衍射，而且信号光也经受衍射。这导致在从光盘反射的光 束中包括的信号光分量的损失。此外，这个相关技术不能消除由在到达光学 检测表面之前、在信号光和杂光之间的干扰所导致的光量改变，由此导致信号光的强度发生改变。在另 一个相关技术示例中，可以通过在光学检测系统中提供会聚透镜和小孔(pinhole)来减少杂光的影响(参见日本公开专利申请2003-323736 )。 然而，利用这个相关技术示例，杂光的最强分量可以通过该小孔并且由光检 测器检测到。因此，不能充分防止对杂光的检测。此外，因为通常沿寻轨方 向驱动物镜，所以很可能出现光轴的偏离。在这种情况下，可能由于小孔的 位置而堵塞信号光，由此导致信号光强度的改变。作为另一个相关技术示例，日本已登记的专利2624255提出了一种用于 当从多层盘中读出时减少层间串音的装置。这个装置要求进一步减少其检测器中的小孔的直径，以便减少入射到检 测器上的杂光的分量。然而，减少小孔的直径还导致入射在检测器上的信号 光分量的损失。
技术实现思路
本专利技术的一般目的是提供一种光学系统、光学拾取装置、和光盘装置， 其基本上避免了由相关技术中的限制和缺点所导致的一个或多个问题。本专利技术的特征和优点将在下面的描述中阐明，并部分地将根据该描述和 附图而变得明显，或者可以通过根据该描述中提供的示教的、本专利技术的实践 而得知。本专利技术的目的以及其它特征和优点可以通过在说明书中明确指出的 光学系统、光学拾取装置、和光盘装置而实现和获得，这些光学系统、光学 拾取装置、和光盘装置通过这样的完整、清晰、简明、和确切的术语在说明 书中指出，使得本领域的普通技术人员能够实践本专利技术。为了实现这些及其他优点以及根据本专利技术的目的，如此处体现和广泛描 述的那样，本专利技术提供了 一种用于从包括信号光分量和杂光分量的光束中提 取信号光分量的光学系统，该光学系统包括聚光光学元件，位于光束的光 径上，用于会聚该光束；偏振改变单元，用于改变在穿过聚光光学元件的入 射光束中包括的信号光分量和杂光分量中的至少一个的偏振态；以及提取元 件，用于提取在穿过该偏振改变单元的光束中包括的信号光分量。此外， 一种用于从包括信号光分量和杂光分量的光束中提取信号光分量 的光学系统，该光学系统包括聚光光学元件，位于光束的光径上，用于会 聚该光束；偏振改变单元，包括偏振改变元件和反射部件的组合，用于改变在穿过聚光光学元件的入射光束中包括的信号光分量和杂光分量中的至少一个的偏振态；以及提取元件，用于提取在穿过该偏振改变单元的光束中包括 的信号光分量。此外，本专利技术提供了一种光学拾取装置，包括光源，用于发射光束； 光学系统，包括物镜，用于将该光束会聚到具有多个记录层的光盘中的目标 记录层上；根据本专利技术实施例的光学系统；以及光学检测系统，用于根据所 提取信号光分量的光量而生成信号。此外，本专利技术提供了一种光盘装置，包括根据本专利技术实施例的光学拾 取装置；以及处理装置，用于根据该光学检测系统生成的信号而读出记录在 该光盘中的信息。此外，本专利技术提供了 一种用于从包括信号光分量和杂光分量的光束中提 取信号光分量的光学系统，该光学系统包括聚光光学元件，位于光束的光 径上，用于会聚该光束，该聚光光学元件将信号光分量会聚在第一焦点处， 并且将杂光分量会聚在第二焦点处；第一偏振改变元件，位于聚光光学元件 和第二焦点之间，该第二焦点比第一焦点更接近该聚光光学元件定位，本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光学拾取装置，具有光源、准直透镜、检测器和分离部件、物镜、光学检测系统、以及光检测器，用于向和从具有多层的光盘记录和读出信息，该光学拾取装置包含： 聚光光学元件，用于会聚从所述光盘的多个层反射的光束，所述光束包括从多个层中的第ｍ层反射的信号光束Ｌｍ、从多个层中的第ｍ＋１层反射的第一杂光束Ｌｍ＋１、以及从多个层中的第ｍ－１层反射的第二杂光束Ｌｍ－１，所述信号光束Ｌｍ会聚在第一焦点ｆｍ处，所述第一杂光束Ｌｍ＋１会聚在第二焦点ｆｍ＋１处，而且所述第二杂光束Ｌｍ－１会聚在第三焦点ｆｍ－１处； 前屏蔽部件，位于第一焦点ｆｍ和第二焦点ｆｍ＋１之间，用于屏蔽定向到第一区域的光束；以及 后屏蔽部件，位于第一焦点ｆｍ和第三焦点ｆｍ－１之间，用于屏蔽定向到第二区域的光束； 其中所述第一和第二区域由聚光光学元件的光轴所划分。
【技术特征摘要】
JP 2005-3-2 056976/05;JP 2005-3-14 070366/05;JP 201、一种光学拾取装置，具有光源、准直透镜、检测器和分离部件、物镜、光学检测系统、以及光检测器，用于向和从具有多层的光盘记录和读出信息，该光学拾取装置包含聚光光学元件，用于会聚从所述光盘的多个层反射的光束，所述光束包括从多个层中的第m层反射的信号光束Lm、从多个层中的第m+1层反射的第一杂光束Lm+1、以及从多个层中的第m-1层反射的第二杂光束Lm-1，所述信号光束Lm会聚在第一焦点fm处，所述第一杂光束Lm+1会聚在第二焦点fm+1处，而且所述第二杂光束Lm-1会聚在第三焦点fm-1处；前屏蔽部件，位于第一焦点fm和第二焦点fm+1之间，用于屏蔽定向到第一区域的光束；以及后屏蔽部件，位于第一焦点fm和第三焦点fm-1之间，用于屏蔽定向到第二区域的光束；其中所述第一和第二区域由聚光光学元件的光轴所划分。2、 一种光学拾取装置，具有光源、准直透镜、检测器和分离部件、物镜、 光学检测系统、以及光检测器，用于向和从具有多层的光盘记录和读出信息， 该光学拾取装置包含聚光光学元件，用于会聚从所述光盘的多个层反射的光束，所述光束包 括从多个层中的第m层反射的信号光束Lm 、从多个层中的第m+1层反射的 第一杂光束Lm+l、以及从多个层中的第m-l层反射的第二杂光束Lm-l，所 述信号光束Lm会聚在第一焦点fm处，所述第 一杂光束Lm+1会聚在第二焦 点fm+l处，而且所述第二杂光束Lm-l会聚在第三焦点fm-l处；分束部件，比第二焦点fm+l更接近该聚光器部分定位，用于将光束分 裂为由聚光光学元件的光轴划分的第 一和第二区域；前屏蔽部件，位于在第一区域侧的第一焦点fm和第二焦点fm+l之间， 用于屏蔽第一杂光束Lm+l;以及后屏蔽部件，位于在第二区域侧的第一焦点fm和第三焦点fm-l之间， 用于屏蔽第二杂光束Lm-l。3、 一种光学拾取装置，具有光源、准直透镜、检测器和分离部件、物镜、 光学检测系统、以及光检测器，用于向和从具有多层的光盘记录和读出信息，该光学拾取装置包含聚光光学元件，用于会聚从所述光盘的多个层反射的光束，所述光束包括从多个层中的第m层反射的信号光束Lm、从多个层中的第m+l层反射的 第一杂光束Lm+l、以及从多个层中的第m-l层反射的第二杂光束Lm-l,所 述信号光束Lm会聚在第一焦点fm处，所述第一杂光束Lm+l会聚在第二焦 点fm+l处，而且所述第二杂光束Lm-l会聚在第三焦点fm-l处；分束部件，位于第一焦点fm和第二焦点fm+l之间，用于将光束分裂为 由聚光光学...
【专利技术属性】
技术研发人员：小形哲也，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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