一种多工位的集成芯片测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种多工位的集成芯片测试设备，包括基板、支架、转动板和芯片体，所述基板上表面固定安装安装有支架，所述支架上避免转动安装有转动板，所述转动板上表面等距安装有芯片体，所述支架上表面固定安装有上料机构，所述支架上表面位于转动板的对应位置固定安装有测试机构，所述基板上表面位于转动板的对应位置固定安装有转动机构，所述转动板位于上料机构的对应位置等距安装有限位机构，此多工位的集成芯片测试设备通过上料机构和测试机构的设置实现对本装置自动上下料检测，通过机械手将集成芯片摆放在受料槽上，降低工作人员劳动强度，提高其生产效率，增加其安全性和可靠性，提高架构安装便捷性与使用稳定性，保证其生产效率。保证其生产效率。保证其生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种多工位的集成芯片测试设备


[0001]本技术涉及芯片
，具体为一种多工位的集成芯片测试设备。

技术介绍

[0002]集成芯片是现代数字集成芯片主要使用CMOS工艺制造的。CMOS器件的静态功耗很低，但是在高速开关的情况下，CMOS器件需要电源提供瞬时功率，高速CMOS器件的动态功率要求超过同类双极性器件。因此必须对这些器件加去耦电容以满足瞬时功率要求，现代集成芯片有多种封装结构，对于分立元件，引脚越短，EMI问题越小。因为表贴器件有更小的安装面积和更低的安装位置，因此有更好的EMC性能，所以应首选表贴元件，甚至直接在PCB上安装裸片。
[0003]目前的集成芯片测试装置大都不具备自动上下料装置，工作时需要人工上料，借助人力将集成芯片摆放在受料槽上，增加工作人员劳动强度，费时费力，生产效率低下，安全性和可靠性不高，现在的架构安装便捷性与使用稳定性都有待提高，为此，我们提出一种多工位的集成芯片测试设备。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种安装便捷，方便对集成芯片测试进行自动测试，使用安全性的多工位的集成芯片测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种多工位的集成芯片测试设备，包括基板、支架、转动板和芯片体，所述基板上表面固定安装安装有支架，所述支架上避免转动安装有转动板，所述转动板上表面等距安装有芯片体，所述支架上表面固定安装有上料机构，所述支架上表面位于转动板的对应位置固定安装有测试机构，所述基板上表面位于转动板的对应位置固定安装有转动机构，所述转动板位于上料机构的对应位置等距安装有限位机构。
[0006]优选的，所述上料机构包括支撑座、机械手、连接板和气动吸盘，所述支架上表面固定安装有支撑座，所述支撑座上表面固定安装有机械手，所述机械手输出端转动安装有连接板，所述连接板远离机械手的一端等距安装有气动吸盘。
[0007]优选的，所述测试机构包括马达、固定架、螺纹杆、移动块、伸缩筒、伸缩柱、伸缩弹簧和测试器，所述支架上表面固定安装有固定架，所述固定架内壁转动安装有螺纹杆，所述螺纹杆一端位于固定架的对应位置固定安装有马达，所述螺纹杆外壁啮合安装有移动块，所述移动块下表面固定安装有伸缩筒，所述伸缩筒内壁固定安装有伸缩弹簧，所述伸缩弹簧一端固定安装有伸缩柱，所述伸缩柱远离伸缩筒的一侧固定安装有测试器。
[0008]优选的，所述转动机构包括连接架、电机、转动盘、转轴柱、转动杆、轮槽和限位柱，基板上表面固定安装有连接架，所述连接架内壁固定安装有电机，所述电机输出端固定安装有转轴柱，所述转轴柱外壁固定安装有转动杆，所述转动杆上表面固定安装有限位柱，所述转动杆上表面固定安装有转动盘，所述转动盘外壁位于限位柱的对应位置滑动安装有轮
槽，所述轮槽外壁与转动板固定连接。
[0009]优选的，所述转动盘外壁呈弧形，且转动盘与轮槽结构配合。
[0010]优选的，所述限位机构包括固定筒、安装槽、收缩弹簧、限位板和安装块，所述转动板上表面位于芯片体的对应位置等距固定安装有固定筒，所述固定筒内壁对称开设有安装槽，所述安装槽内壁固定安装有收缩弹簧，所述收缩弹簧一侧固定安装有限位板，所述安装槽内壁对称安装有安装块。
[0011]优选的，所述安装块采用软质材质制成。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0013]通过机械手带动气动吸盘将芯片体放置于固定筒内壁，通过芯片体挤压收缩弹簧，使芯片体克服收缩弹簧的弹力将芯片体进行限位固定，通过电机驱动转动盘带动转动杆转动，使转动盘配合轮槽结构，实现转动杆上表面的限位柱与轮槽进行滑动卡接限位，使轮槽带动转动板往复间歇转动，通过马达驱动螺纹杆转动，将移动块在螺纹杆外壁进行啮合移动，使移动块带动伸缩柱克服伸缩弹簧的弹力，带动测试器在伸缩筒内壁进行缓冲弹性，便于对芯片体进行测试，此装置的设置通过上料机构和测试机构的设置实现对本装置自动上下料检测，通过机械手将集成芯片摆放在受料槽上，降低工作人员劳动强度，省时省力，提高其生产效率，增加其安全性和可靠性，提高架构安装便捷性与使用稳定性，保证其生产效率。
附图说明
[0014]图1为本技术的整体结构示意图；
[0015]图2为本技术的上料机构结构示意图；
[0016]图3为本技术的测试机构安装分布结构示意图；
[0017]图4为本技术的限位机构结构示意图；
[0018]图5为本技术的转动机构结构示意图；
[0019]图6为本技术的转动机构安装分布结构示意图。
[0020]图中：1、基板；2、支架；3、上料机构；31、支撑座；32、机械手；33、连接板；34、气动吸盘；4、测试机构；41、马达；42、固定架；43、螺纹杆；44、移动块；45、伸缩筒；46、伸缩柱；47、伸缩弹簧；48、测试器；5、转动机构；51、连接架；52、电机；53、转动盘；54、转轴柱；55、转动杆；56、轮槽；57、限位柱；6、转动板；7、限位机构；71、固定筒；72、安装槽；73、收缩弹簧；74、限位板；75、安装块；8、芯片体。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]所述测试器48与现有集成芯片测试设备的工作原理相同，在此不再赘述。
[0023]请参阅图1，图示中的一种多工位的集成芯片测试设备，包括基板1、支架2、转动板6和芯片体8，所述基板1上表面固定安装安装有支架2，所述支架2上避免转动安装有转动板
6，所述转动板6上表面等距安装有芯片体8。
[0024]请参阅图1，所述支架2上表面固定安装有上料机构3，所述支架2上表面位于转动板6的对应位置固定安装有测试机构4，所述基板1上表面位于转动板6的对应位置固定安装有转动机构5，所述转动板6位于上料机构3的对应位置等距安装有限位机构7，通过上料机构3和测试机构4的设置实现对本装置自动上下料检测，通过机械手32将集成芯片摆放在受料槽上，降低工作人员劳动强度，省时省力，提高其生产效率，增加其安全性和可靠性，提高架构安装便捷性与使用稳定性，保证其生产效率。
[0025]请参阅图2，所述上料机构3包括支撑座31、机械手32、连接板33和气动吸盘34，所述支架2上表面固定安装有支撑座31，所述支撑座31上表面固定安装有机械手32，所述机械手32输出端转动安装有连接板33，所述连接板33远离机械手32的一端等距安装有气动吸盘34，通过机械手32带动气动吸盘34将芯片体8放置于固定筒71内壁。
[0026]请参阅图2和图3，所述测试机构4包括马达41、固定架本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多工位的集成芯片测试设备，包括基板(1)、支架(2)、转动板(6)和芯片体(8)，所述基板(1)上表面固定安装安装有支架(2)，所述支架(2)上避免转动安装有转动板(6)，所述转动板(6)上表面等距安装有芯片体(8)，其特征在于：所述支架(2)上表面固定安装有上料机构(3)，所述支架(2)上表面位于转动板(6)的对应位置固定安装有测试机构(4)，所述基板(1)上表面位于转动板(6)的对应位置固定安装有转动机构(5)，所述转动板(6)位于上料机构(3)的对应位置等距安装有限位机构(7)。2.根据权利要求1所述的一种多工位的集成芯片测试设备，其特征在于：所述上料机构(3)包括支撑座(31)、机械手(32)、连接板(33)和气动吸盘(34)，所述支架(2)上表面固定安装有支撑座(31)，所述支撑座(31)上表面固定安装有机械手(32)，所述机械手(32)输出端转动安装有连接板(33)，所述连接板(33)远离机械手(32)的一端等距安装有气动吸盘(34)。3.根据权利要求1所述的一种多工位的集成芯片测试设备，其特征在于：所述测试机构(4)包括马达(41)、固定架(42)、螺纹杆(43)、移动块(44)、伸缩筒(45)、伸缩柱(46)、伸缩弹簧(47)和测试器(48)，所述支架(2)上表面固定安装有固定架(42)，所述固定架(42)内壁转动安装有螺纹杆(43)，所述螺纹杆(43)一端位于固定架(42)的对应位置固定安装有马达(41)，所述螺纹杆(43)外壁啮合安装有移动块(44)，所述移动块(44)下表面固定安装有伸缩筒(45)，所述伸缩筒(45)内壁固定安装有伸缩弹簧(47)，所述伸...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈益群，晁阳，吴骏才，
申请(专利权)人：深圳群芯微电子有限责任公司，
类型：新型
国别省市：