一种用于掉电测试的PCB板制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于掉电测试的PCB板，PCB板上设置连接器U1和掉电检测回路，掉电检测回路通过连接器U1与FPGA主板相连，FPGA主板通过连接器U1为掉电检测回路供电并向其发送掉电信号。所述掉电检测回路包括电压转换芯片和充电电容，电压转换芯片的输入端连接输入电压，输入电压经过电压转换芯片升压后为充电电容充电；电压转换芯片的输入端连接数量可变的电容，通过改变电容数量测试对充电时间的影响；充电电容连接数量可变的负载，用于测试充电电容存储电量的放电时间；充电电容与电压转换芯片的反馈感应输入端相连，用于在掉电时将存储电量降压并为FPGA供电。存储电量降压并为FPGA供电。存储电量降压并为FPGA供电。

【技术实现步骤摘要】
一种用于掉电测试的PCB板


[0001]本技术涉及一种用于掉电测试的PCB板，属于芯片测试领域。

技术介绍

[0002]在芯片设计初期，需要进行掉电测试，从而测试芯片是否支持掉电测试以及所预留电容容量所能支撑的时间。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是提供一种用于掉电测试的PCB板，测试在异常掉电情况下，芯片是否可以在收到断电信息的同时，启动掉电检测回路，利用预留的充电电容存储的电量来完成各种数据的保存。
[0004]为了解决所述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种用于掉电测试的PCB板，PCB板上设置连接器U1和掉电检测回路，掉电检测回路通过连接器U1与FPGA主板相连，FPGA主板通过连接器U1为掉电检测回路供电并向其发送掉电信号；掉电时，掉电电测回路通过连接器U1为FPGA主板供电；
[0005]所述掉电检测回路包括电压转换芯片和充电电容，电压转换芯片的输入端连接输入电压，输入电压经过电压转换芯片升压后为充电电容充电；电压转换芯片的输入端连接数量可变的电容，通过改变电容数量测试对充电时间的影响；
[0006]充电电容连接数量可变的负载，用于测试充电电容存储电量的放电时间；
[0007]充电电容与电压转换芯片的反馈感应输入端相连，用于在掉电时将存储电量降压并为FPGA供电。
[0008]进一步的，充电电容通过电阻R29连接电压转换芯片的FBS引脚，电压转换芯片的BUS引脚输出降压后的3.3V电压，降压后的3.3V电压与地之间并联滤波电容，并且电压转换芯片的BUS引脚与FBR引脚之间连接串联的电容C14和电阻R26，电压转换芯片的BUS引脚与地之间连接串联的电阻R21、R27，电阻R21、R27之间的结点连接至电压转换芯片的FBR引脚，电压转换芯片的BUS引脚与地之间连接串联的电阻R22、R28，电阻R22、R28之间的结点连接至电压转换芯片的FBD引脚。
[0009]进一步的，电压转换芯片的SDA、SCL引脚通过连接器U1与FPGA主板相连，用于接收主板发送的信号。
[0010]进一步的，连接器U1包括U1A、U1B、U1C，U1A连接于掉电检测回路与FPGA之间，U1B连接3.3V和1.8V电源，U1C接地。
[0011]进一步的，还包括存储芯片U2，存储芯片U2内存有工作电压软件，存储芯片U2通过连接器U1连接FPGA，FPGA读取存储芯片U2内的工作电压软件，从而决定测试电压。
[0012]本技术的有益效果：本技术在一款测试子板上，通过更换电解电容，可以直观的测试后面所设计芯片对掉电检测回路的支持以及后续产品化之后，在掉电检测回路所预留电解电容的大小，大大节约了研发成本，缩短研发周期。
附图说明
[0013]图1为U1A、U1B及U2的电路原理图；
[0014]图2为U1C的电路原理图；
[0015]图3为掉电检测回路的电路原理图。
具体实施方式
[0016]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步的说明。
[0017]实施例1
[0018]本实施例公开一种用于掉电测试的PCB板，PCB板上设置连接器U1和掉电检测回路，掉电检测回路通过连接器U1与FPGA主板相连，FPGA主板模拟被测芯片。FPGA主板通过连接器U1为掉电检测回路供电并向其发送掉电信号；掉电时，掉电电测回路通过连接器U1为FPGA主板供电；
[0019]如图3所示，所述掉电检测回路包括电压转换芯片SYT664和充电电容C21，电压转换芯片的输入端连接输入电压3.3V_in，输入电压3.3V_in经过电压转换芯片SYT664升压后为充电电容C21充电。本实施例中，FPGA主板提供的3.3V电压到达PCB板后通过SYT664升压到32V存储到C21中，将示波器插在电容C21两侧，可以用示波器测试电容C21的充电时间。
[0020]电压转换芯片的输入端连接数量可变的电容，本实施例中，输入端并联电容C23、C855、C856和C857，通过改变电容数量测试对充电时间的影响。
[0021]充电电容连接数量可变的负载，负载模拟实际使用的产品，通过加减负载来测试充电电容存储的电量可以支撑的掉电时间是否满足实际产品使用。
[0022]同时还可以通过更换电容C21的型号（不同耐压，不同容值），来测试不同电容所能提供的电量多少，来测试实际使用时所预留电容的型号（容值，耐压值）。
[0023]充电电容与电压转换芯片的反馈感应输入端相连，用于在掉电时将存储电量降压并为FPGA供电。此举为了模拟掉电后，电容C21是否能正常为芯片供电。
[0024]具体的，充电电容通过电阻R29连接电压转换芯片的FBS引脚，电压转换芯片的BUS引脚输出降压后的3.3V电压，降压后的3.3V电压与地之间并联滤波电容，并且电压转换芯片的BUS引脚与FBR引脚之间连接串联的电容C14和电阻R26，电压转换芯片的BUS引脚与地之间连接串联的电阻R21、R27，电阻R21、R27之间的结点连接至电压转换芯片的FBR引脚，电压转换芯片的BUS引脚与地之间连接串联的电阻R22、R28，电阻R22、R28之间的结点连接至电压转换芯片的FBD引脚。
[0025]本实施例中，电压转换芯片的SDA、SCL引脚通过连接器U1与FPGA主板相连，用于接收主板发送的信号。
[0026]如图1、2所示，连接器U1包括U1A、U1B、U1C，U1A连接于掉电检测回路与FPGA之间，U1B连接3.3V和1.8V电源，U1C接地。
[0027]本实施例中，PCB板还包括存储芯片U2，存储芯片U2内存有工作电压软件，存储芯片U2通过连接器U1连接FPGA，FPGA读取存储芯片U2内的工作电压软件，从而决定测试电压。
[0028]以上描述的仅是本技术的基本原理和优选实施例，本领域技术人员根据本技术做出的改进和替换，属于本技术的保护范围。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于掉电测试的PCB板，其特征在于：PCB板上设置连接器U1和掉电检测回路，掉电检测回路通过连接器U1与FPGA主板相连，FPGA主板通过连接器U1为掉电检测回路供电并向其发送掉电信号；掉电时，掉电电测回路通过连接器U1为FPGA主板供电；所述掉电检测回路包括电压转换芯片和充电电容，电压转换芯片的输入端连接输入电压，输入电压经过电压转换芯片升压后为充电电容充电；电压转换芯片的输入端连接数量可变的电容，通过改变电容数量测试对充电时间的影响；充电电容连接数量可变的负载，用于测试充电电容存储电量的放电时间；充电电容与电压转换芯片的反馈感应输入端相连，用于在掉电时将存储电量降压并为FPGA供电。2.根据权利要求1所述的用于掉电测试的PCB板，其特征在于：充电电容通过电阻R29连接电压转换芯片的FBS引脚，电压转换芯片的BUS引脚输出降压后的3.3V电压，降压后的3.3V电压与地之间并联滤波电容，并且电压转换芯片的BUS引脚与FBR引...

【专利技术属性】
技术研发人员：范宣荣，宗成强，尹相彦，
申请(专利权)人：山东华芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：