用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置和系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置和系统，该装置包括：PCB和多种TVS器件焊盘；TVS器件焊盘设置在PCB的走线上，每种TVS器件焊盘分别用于封装对应种类的待测试TVS器件。本发明专利技术通过设置多种TVS器件焊盘，使得用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置能够封装多种TVS器件，避免了当有多种封装方式的TVS器件时，需要修改对应的原理图，以及调整PCB Layout文件的情况发生，实现了一次设计PCB Layout文件，可以检测多种封装方式的TVS器件的静电放电防护性能的目的，提高了检测效率，降低了设计成本和物料成本。成本。成本。

【技术实现步骤摘要】
用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置和系统


[0001]本专利技术涉及TVS器件的静电放电(Electro
‑
Static discharge，ESD)测试
，具体涉及一种用于测试瞬态抑制二极管(Transient Voltage Suppressor，TVS)器件的静电放电防护性能的测试装置和系统。

技术介绍

[0002]当前电子类设备，特别是通信类设备，需要在接口或容易出现ESD问题的模块设计TVS器件，用于保护相关电路，保证相关设备在易发生静电的环境中依然能够正常工作。
[0003]相关技术中，首先进行电子类设备的Layout设计，在Layout设计图中上件一种封装的TVS器件。然后根据Layout设计图生产出成品芯片。最后针对成品芯片进行ESD测试，以检测TVS器件的静电放电防护性能。
[0004]然而，由于不同品牌的TVS器件，其封装方式不同，当需要测试别的封装方式的TVS器件时，需要修改对应的原理图，以及调整PCB Layout文件，重新进行PCB生产，这使得相关技术存在测试效率低，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置，其特征在于，包括：PCB和多种TVS器件焊盘；所述TVS器件焊盘设置在所述PCB的走线上；每种所述TVS器件焊盘分别用于封装对应种类的待测试TVS器件。2.根据权利要求1所述的用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置，其特征在于，所述PCB包括多根所述走线；每根所述走线上设置多种所述TVS器件焊盘。3.根据权利要求1所述的用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置，其特征在于，每种所述TVS器件焊盘的数量至少为一个。4.根据权利要求2所述的用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置，其特征在于，每根所述走线的第一端设置I/O端口；所述I/O端口用于与外部通信设备连接。5.根据权利要求4所述的用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置，其特征在于，所述I/O端口的种类为多种；所述走线的阻抗根据所述走线对应的I/O端口确定。6.根据权利要求5所述的用于测试TVS器件的静电放电防护性能的测试装置，其特征在于，每种所述I/O端口的数量至少为一个。7.根据权利要求2所述的用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：郎维良，李凯，邓忠良，
申请(专利权)人：北京同方信息安全技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：