水冷老化设备控制系统技术方案

本发明专利技术提供一种水冷老化设备控制系统，包括多个测试单元；测试单元包括多个测试模块；测试模块包括用于放置测试产品的独立的水冷散热块、用于检测水冷散热块的温度的温度传感器、温度控制器、用于调节流入水冷散热块的水流量大小的调水电机、PLC控制器和用于为测试产品供电的考核电源；PLC控制器分别与温度控制器、调水电机和考核电源连接；温度控制器用于根据温度传感器发送的温度向PLC控制器发送温度相关信号；PLC控制器用于根据接收到的信号控制调水电机旋转或不动，或进行报警。本发明专利技术可以实现测试产品的自动温度控制，保证测试产品在预设温度范围内进行老化，本发明专利技术实施例可以提高效率，能够实现对温度的准确控制。能够实现对温度的准确控制。能够实现对温度的准确控制。

【技术实现步骤摘要】
水冷老化设备控制系统


[0001]本专利技术涉及电子产品测试
，尤其涉及一种水冷老化设备控制系统。

技术介绍

[0002]为了检验和提高电源、电阻、芯片、变频器、电控元件、灯具等电子产品的可靠性、稳定性以及安全性，对电子产品进行老化测试已经成为生产制造过程中的一个重要环节。老化测试是指仿真出一种高温、高恶劣条件下的测试环境对高性能电子产品进行长时间烧机，以提高产品安全性、稳定性和可靠性的生产工艺流程。
[0003]目前，对电子产品进行老化考核时，通常通过人工对温度等进行控制，然而，这种方法效率低且对温度的控制准确度较低。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种水冷老化设备控制系统，以解决效率低且对温度和时间的控制准确度较低的问题。
[0005]本专利技术实施例提供了一种水冷老化设备控制系统，包括老化架和多个测试单元；老化架设有多个测试分区，多个测试单元一一对应分设于各测试分区；每个测试单元包括多个测试模块；
[0006]测试模块包括用于放置测试产品的独立的水冷散热块、用于检测水冷散热块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种水冷老化设备控制系统，其特征在于，包括老化架和多个测试单元；所述老化架设有多个测试分区，多个测试单元一一对应分设于各所述测试分区；每个所述测试单元包括多个测试模块；所述测试模块包括用于放置测试产品的独立的水冷散热块、用于检测所述水冷散热块的温度的温度传感器、温度控制器、用于调节流入所述水冷散热块的水流量大小的调水电机、PLC控制器和用于为所述测试产品供电的考核电源；所述PLC控制器分别与所述温度控制器、所述调水电机和所述考核电源连接，所述温度控制器与所述温度传感器连接；所述温度控制器用于接收所述温度传感器检测的温度，并在所述温度小于第一预设温度时，向所述PLC控制器发送温度过低信号，在所述温度大于第二预设温度且小于第三预设温度时，向所述PLC控制器发送温度过高信号，在所述温度不小于所述第三预设温度时，向所述PLC控制器发送超温报警信号，在所述温度不小于所述第一预设温度且不大于所述第二预设温度时，向所述PLC控制器发送温度正常信号；所述PLC控制器用于在接收到所述温度过低信号时，控制所述调水电机向水流量减小的方向旋转预设角度，以减小流入所述水冷散热块的水流量；在接收到所述温度过高信号时，控制所述调水电机向水流量增大的方向旋转所述预设角度，以增大流入所述水冷散热块的水流量；在接收到所述温度正常信号时，控制所述调水电机不动；在接收到所述超温报警信号时，控制所述考核电源断电，并进行报警。2.如权利要求1所述的水冷老化设备控制系统，其特征在于，所述测试单元还包括时间控制器；所述时间控制器，与所述PLC控制器连接，用于在开始进行老化测试时，向所述PLC控制器发送开始考核信号，同时开始第一计时和第二计时，并重复执行在所述第一计时的时长达到第一预设循环时长时，向所述PLC控制器发送停止考核信号，同时重新开始第一计时，在重新开始的第一计时的时长达到第二预设循环时长时，向所述PLC控制器发送开始考核信号，同时重新开始第一计时的步骤，直至所述第二计时的时长达到预设总时长，向所述PLC控制器发送停止考核信号；所述PLC控制器，还用于在接收到所述开始考核信号后，执行所述在接收到所述温度过低信号时，控制所述调水电机向水流量减小的方向旋转预设角度，以减小流入所述水冷散热块的水流量；在接收到所述温度过高信号时，控制所述调水电机向水流量增大的方向旋转...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾亚，杨谦，裴家林，刘烨，
申请(专利权)人：深圳市禹龙通电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：