【技术实现步骤摘要】
一种配电器测试方法
[0001]本专利技术涉及配电器领域,特别涉及配电器测试技术。
技术介绍
[0002]配电器出厂之前需要进行功能性能测试,主要是对内部继电器进行测试,主要分为短路点测试、电阻测试和继电器功能测试。在测试过程中测试数据量大,过程重复,如出现问题需要进行故障诊断和定位,传统的自动化测试方法发现问题后,通常需要手动故障复现及诊断定位,耗费人力,浪费时间。
技术实现思路
[0003]针对上述问题,方便故障复现,减少故障诊断和定位消耗的人工成本和时间,同时将配电器出厂之前测试集中于一体,减少测试时间。本专利技术提出了一种将配电器测试分为自动和手动的测试方法,自动测试部分用于配电器全状态系统检查,手动测试用于故障定位及诊断。同时集中了振动全过程监测,数据存储查询告警及用户管理功能。
[0004]本专利技术的目的是为了将配电器性能测试、振动监测和故障诊断及定位结合于一体,提高配电器生产调试过程中的效率,减少人工干预及判读,方便数据管理,节约人工及时间成本。
[0005]本专利技术公开了一 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种配电器测试方法,其特征在于,该测试方法包括自动测试和手动测试,自动测试是依次自动检测配电器功能的短路点测试、电阻测试和继电器测试,数据自动判读;手动测试可选择短路点测试、电阻测试和继电器测试中的至少一种,并对所选择的测试进行单点测试或整体测试。2.根据权利要求1所述的配电器测试方法,其特征在于,该方法中继电器测试采用断电
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加电
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断电的方式进行三次继电器功能测试。3.根据权利要求1或2所述的配电器测试方法,其特征在于,继电器测试中的有源触点检测是利用光耦隔离脉冲检测,三次检测为高电平
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低电平
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高电平为继电器正常。4.根据权利要求1或2所述的配电器测试方法,其特征在于,继电器测试中的无源触点分为常开和常闭两种;对于所述无源触点的检测是先将无源触点加电,转化为有源触点,再利用光耦隔离脉冲检测;其中,常开触点三次检测为高电平
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低电平
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高电平为继电器正常,常闭触点三次检测为低电平
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高电平
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低电平为继电器正常;所述无源触点还可进行电阻检测。5.根据权利要求1
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5任一所...
【专利技术属性】
技术研发人员:席珺琳,王海涛,王晓鹏,陈金香,赵凯,
申请(专利权)人:北京航天新立科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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