一种薄膜测厚仪制造技术

本发明专利技术公开了一种薄膜测厚仪,包括主箱体，主箱体上端面上固定连接有前后对称的标记块底座，前后侧标记块底座内侧面上均固定连接有前后对称的测厚箱体固定块，主箱体上端面还固定连接有两个位于标记块底座右侧且前后对称的压紧轮支撑座，本发明专利技术通过量程放大杆带动金属触头抵接于弧形金属杆上的不同位置，使指针转动腔指向对应数值，从而方便的使用者观察度数，同时通过量程放大杆的杠杆作用，即使薄膜厚度发生较小的改变，使用者也能从指针转动腔上观察到薄膜厚度较为明显的变化，可绕量程放大杆转动的测厚滚柱座，使得薄膜表面的凸起或凹陷能通过滚柱检测到，并且可同时驱动标记块向下碰触薄膜，从而标记薄膜凸起位置，方便后续的修补作业。后续的修补作业。后续的修补作业。

【技术实现步骤摘要】
一种薄膜测厚仪


[0001]本专利技术涉及测厚仪相关
，具体为一种薄膜测厚仪。

技术介绍

[0002]薄膜测厚仪，一种用于测量量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料厚度的仪器，其中机械接触式薄膜测量仪因其结构简单，价格便宜而被应用的较为广泛，但是目前的机械接触式测量仪一般只具备测量薄膜厚度的功能，其无法很好的检测薄膜表面的平整度，若薄膜表面不平整有凸起或凹陷等瑕疵，则薄膜厚度测量结果也会因其受到影响。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种薄膜测厚仪，用于克服现有技术中的上述缺陷。
[0004]根据本专利技术的一种薄膜测厚仪，包括主箱体，所述主箱体上端面上固定连接有前后对称的标记块底座，前后侧所述标记块底座内侧面上均固定连接有前后对称的测厚箱体固定块，所述主箱体上端面还固定连接有两个位于所述标记块底座右侧且前后对称的压紧轮支撑座，所述主箱体设有开口向上的传送带腔，所述传送带腔前端壁内转动配合连接有左右对称且向后延伸贯穿所述传送带腔至所述传送带腔后端壁内的带轮，所述带轮上转动配合本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜测厚仪，包括主箱体，其特征在于：所述主箱体上端面上固定连接有前后对称的标记块底座，前后侧所述标记块底座内侧面上均固定连接有前后对称的测厚箱体固定块，所述主箱体上端面还固定连接有两个位于所述标记块底座右侧且前后对称的压紧轮支撑座，所述主箱体设有开口向上的传送带腔，所述传送带腔前端壁内转动配合连接有左右对称且向后延伸贯穿所述传送带腔至所述传送带腔后端壁内的带轮，所述带轮上转动配合连接有位于所述传送带腔内的带轮轴，左右侧所述带轮轴之间动力配合连接有薄膜传送带，所述传送带腔后侧设有与所述主箱体固定连接且位于右侧所述带轮后侧的电机，右侧所述带轮固定于所述电机前端面。2.根据权利要求1所述的一种薄膜测厚仪，其特征在于：左右所述测厚箱体固定块之间设置有分别与前侧所述测厚箱体固定块后端面以及后侧所述测厚箱体固定块前端面固定连接的测厚箱体，所述测厚箱体内设有开口向右的放大杆转动腔，所述放大杆转动腔前后端壁之间固定连接有放大杆转动轴，所述放大杆转动轴上转动配合有位于所述放大杆转动腔内且向右延伸至外界的量程放大杆，所述放大杆转动腔上下端壁之间固定连接有位于所述量程放大杆左侧的弧形金属杆，所述量程放大杆左端面固定连接有与所述弧形金属杆抵接的金属触头，所述量程放大杆上端面与所述放大杆转动腔上端壁之间固定有复位弹簧。3.根据权利要求2所述的一种薄膜测厚仪，其特征在于：所述测厚箱体内设有位于所述放大杆转动腔左侧且开口向左的指针转动腔，所述量程放大杆右侧末端转动配合有测厚滚柱座，所述测厚滚柱座内设有触点开关滑动腔，所述量程放大杆贯穿所述触点开关滑动腔，所述触点开关滑动腔内滑动配合有与所述量程放大杆螺纹配合连接的螺纹滑块，所述测厚滚柱座左端壁内转动配合有向右延...

【专利技术属性】
技术研发人员：张刘明，
申请(专利权)人：厦门语璃沫贸易有限公司，
类型：发明
国别省市：