一种MINILED色差调配系统技术方案

本发明专利技术公开了一种MINILED色差调配系统，包括应用于CHIP芯片的CHIPWD细分装置，所述CHIPWD细分装置上设置有混合转移模块以及用COB灯板检测分类模块；所述混合转移模块：用于对CHIP芯片进行细分，并且进行混合转移；所述COB灯板检测分类模块：用于扫描CHIP芯片。本发明专利技术所述的一种MINILED色差调配系统，本系统对CHIP芯片进行细分和转移，使得细分后各个区块内部芯片的波长、亮度和电压均达到均衡，均衡后的各个区块的芯片封装在基板上，能够使得COB灯板上区域和区域之间的BIN值均衡，能够避免出现色差的情况，无需增加模组厚度，使得LED做到更薄更精致，产品的成本也大大降低。产品的成本也大大降低。产品的成本也大大降低。

【技术实现步骤摘要】
一种MINI LED色差调配系统


[0001]本专利技术涉及MINI LED领域，特别涉及一种MINI LED色差调配系统。

技术介绍

[0002]LED灯又称发光二极管，由含镓、砷、磷、氮等的化合物制成，随着社会的发展，LED灯的种类越来越多，其中就有MINI LED，MINI LED在生产时需要多个系统配合，其中就有MINI LED色差调配系统。
[0003]现有的MINI LED色差调配系统在使用时存在一定的弊端，现有的MINI LED色差调配系统根据CHIP芯片的BIN值分档直接进行CHIP转移，由于芯片分选过程中机台的机差和将相近数值CHIP排列到一起的原则，导致转移至COB灯板上区域和区域之间的BIN值细微差异导致的色差，需要增加整机模组厚度来解决，致使产品厚度增加，产品无竞争力，更大差异导致的产品报废所产品的成本增加，不满足人们的使用要求，为此，我们提出一种MINI LED色差调配系统。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种MINI LED色差调配系统，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采取的技术方案为：
[0006]一种MINI LED色差调配系统，包括应用于CHIP芯片的CHIP WD细分装置，所述CHIP WD细分装置上设置有混合转移模块以及用COB灯板检测分类模块；
[0007]所述混合转移模块：用于对CHIP芯片进行细分，并且进行混合转移；
[0008]所述COB灯板检测分类模块：用于扫描CHIP芯片，测试CHIP芯片每个点的数据，并分析判断CHIP芯片BIN值均衡性以及对CHIP芯片进行分BIN和分类组合包装。
[0009]优选的，所述混合转移系统采用4盘细分装置，所述COB灯板检测分类模块上设置有光学设备以及MES系统。
[0010]优选的，一种MINI LED色差调配方法，包括以下步骤：
[0011]①
、采用CHIP WD细分装置对CHIP芯片进行4盘细分；
[0012]②
、混合转移系统对细分后的CHIP芯片进行混合转移；
[0013]③
、采用光学设备对混合转移的CHIP芯片进行整体扫描；
[0014]④
、按照扫描数据采用MES系统进行CHIP芯片分BIN，并且进行分类组合包装。
[0015]优选的，所述步骤
②
中4盘细分以及混合转移后，得到混合波长、亮度、电压均衡的区块；
[0016]优选的，所述步骤
③
中光学设备对CHIP芯片进行整体扫描时扫描测试每个点的数据，分析判断CHIP芯片BIN值均衡性。
[0017]与现有技术相比，本专利技术提供了一种MINI LED色差调配系统，具有如下有益效果：
[0018]本系统对CHIP芯片进行细分和转移，使得细分后各个区块内部芯片的波长、亮度
和电压均达到均衡，均衡后的各个区块的芯片封装在基板上，能够使得COB灯板上区域和区域之间的BIN值均衡，能够避免出现色差的情况，无需增加模组厚度，使得LED做到更薄更精致，产品的成本也大大降低，而且本专利的MINI LED色差调配系统结构简单，使用效果好，较为实用。
[0019]该装置中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。
附图说明
[0020]图1为本专利技术一种MINI LED色差调配系统4盘细分后的机构图；
[0021]图2为本专利技术一种MINI LED色差调配系统中光学设备的扫描图；
[0022]图3为本专利技术一种MINI LED色差调配系统中MES系统的使用示意图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0024]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0025]如图1
‑
3所示，一种MINI LED色差调配系统，包括应用于CHIP芯片的CHIP WD细分装置，CHIP WD细分装置上设置有混合转移模块以及用COB灯板检测分类模块；
[0026]混合转移模块：用于对CHIP芯片进行细分，并且进行混合转移；
[0027]COB灯板检测分类模块：用于扫描CHIP芯片，测试CHIP芯片每个点的数据，并分析判断CHIP芯片BIN值均衡性以及对CHIP芯片进行分BIN和分类组合包装。
[0028]混合转移系统采用4盘细分装置，COB灯板检测分类模块上设置有光学设备以及MES系统。
[0029]一种MINI LED色差调配方法，包括以下步骤：
[0030]①
、采用CHIP WD细分装置对CHIP芯片进行4盘细分；
[0031]②
、混合转移系统对细分后的CHIP芯片进行混合转移；
[0032]③
、采用光学设备对混合转移的CHIP芯片进行整体扫描；
[0033]④
、按照扫描数据采用MES系统进行CHIP芯片分BIN，并且进行分类组合包装。
[0034]步骤
②
中4盘细分以及混合转移后，得到混合波长、亮度、电压均衡的区块；
[0035]步骤
③
中光学设备对CHIP芯片进行整体扫描时扫描测试每个点的数据，分析判断CHIP芯片BIN值均衡性。
[0036]需要说明的是，本专利技术公开了一种MINI LED色差调配系统，本系统对CHIP芯片进行细分和转移，使得细分后各个区块内部芯片的波长、亮度和电压均达到均衡，均衡后的各个区块的芯片封装在基板上，能够使得COB灯板上区域和区域之间的BIN值均衡，能够避免出现色差的情况，无需增加模组厚度，使得LED做到更薄更精致，产品的成本也大大降低，而且本专利的MINI LED色差调配系统结构简单，使用效果好，较为实用。
[0037]以上显示和描述了本专利技术的基本原理和主要特征和本专利技术的优点。本行业的技术
人员应该了解，本专利技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本专利技术的原理，在不脱离本专利技术精神和范围的前提下，本专利技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本专利技术范围内。本专利技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MINI LED色差调配系统，其特征在于：包括应用于CHIP芯片的CHIP WD细分装置，所述CHIP WD细分装置上设置有混合转移模块以及用COB灯板检测分类模块；所述混合转移模块：用于对CHIP芯片进行细分，并且进行混合转移；所述COB灯板检测分类模块：用于扫描CHIP芯片，测试CHIP芯片每个点的数据，并分析判断CHIP芯片BIN值均衡性以及对CHIP芯片进行分BIN和分类组合包装。2.根据权利要求1所述的一种MINI LED色差调配系统，其特征在于：所述混合转移系统采用4盘细分装置，所述COB灯板检测分类模块上设置有光学设备以及MES系统。3.根据权利要求2所述的一种MINI LED色差调配方法，其特征在于，包括以下步骤：
①
、采用CHIP W...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱道田，
申请(专利权)人：江苏运鸿辉电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：