一种功能测试方法、装置、终端设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种功能测试方法、装置、终端设备及存储介质，所述方法包括：确定待测试设备的待测试功能；基于所述待测试功能确定相对应的测试指令；将所述测试指令发送至所述待测试设备，并控制所述待测试设备根据所述测试指令进行功能测试。本申请可以根据待测试功能确定相对应的测试指令，通过测试指令控制待测试设备对待测试功能进行测试，从而实现对多种不同的待测试设备进行测试，使得测试方法能够面向大多数设备。面向大多数设备。面向大多数设备。

【技术实现步骤摘要】
一种功能测试方法、装置、终端设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及功能测试
，具体涉及一种功能测试方法、装置、终端设备及存储介质。

技术介绍

[0002]为了提高设备的使用感，在对生产制造过程中经常需要对设备进行测试，在现有的功能测试中，常用的是利用脚本代码编程，从而对设备进行功能测试，但是测试脚本代码中没有集成所有的测试设备指令，使得测试系统不能面向大多数设备。
[0003]因此，现有技术还有待于改进和发展。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种功能测试方法、装置、终端设备及存储介质，旨在通过提供一种功能测试方法，可以实现对多种不同的设备进行测试。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术所采用的技术方案如下：
[0006]第一方面，本专利技术提供一种功能测试方法，其中，所述方法包括：
[0007]确定待测试设备的待测试功能；
[0008]基于所述待测试功能确定相对应的测试指令；
[0009]将所述测试指令发送至本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功能测试方法，其特征在于，所述方法包括：确定待测试设备的待测试功能；基于所述待测试功能确定相对应的测试指令；将所述测试指令发送至所述待测试设备，并控制所述待测试设备根据所述测试指令进行功能测试。2.根据权利要求1所述的一种功能测试方法，其特征在于，所述确定待测试设备的待测试功能包括：将所述待测试设备中的若干个功能与预设的支持功能列表进行匹配；当所述若干个功能属于所述支持功能列表时，确定所述若干个功能为所述待测试功能。3.根据权利要求1所述的一种功能测试方法，其特征在于，所述基于所述待测试功能确定相对应的测试指令包括：根据所述待测试功能确定与所述待测试功能相对应的功能组件；根据所述功能组件确定与所述功能组件相对应的测试指令。4.根据权利要求3所述的一种功能测试方法，其特征在于，所述根据所述待测试功能确定相对应的功能组件包括：根据预设的对应关系确定与所述待测试功能相对应的图形；在预设的区域内绘制所述图形，得到与所述图形相对应的功能组件。5.根据权利要求1所述的一种功能测试方法，其特征在于，所述将所述测试指令发送至预设的待测试设备，并控制所述待测试设备根据所述测试指令进行功能测试包括：将预设的功能组件拖动至预设的执行区域；在所述执行区域内执行所述功能组件；通过执行所述功能组件将所述测试指令发送至所述待测试设备；基于所述测试指令控制所述待测试设备进行功能测试。6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄新化，
申请(专利权)人：深圳康佳电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：