基于双通道技术的颗粒物检测方法技术

本发明专利技术提供了基于双通道技术的颗粒物检测方法，所述基于双通道技术的颗粒物检测方法为：待测气体分别进入第一检测通道和第二检测通道，在第一检测通道内，利用电容法得到与待测气体对应的电容值C

【技术实现步骤摘要】
基于双通道技术的颗粒物检测方法


[0001]本专利技术涉及颗粒物检测，特别涉及基于双通道技术的颗粒物检测方法。

技术介绍

[0002]现有采用光散射法与β射线法联用的仪器，力求将光散射快速测量的优势与β射线准确度高的优势结合。但在应用中也存在着诸多问题：
[0003]大气环境颗粒物浓度低，光散射在一个点上的散射信号弱，在电路上若信号放大倍数太小则导致检出限过高，反之，又极易受噪声和外界干扰影响。
[0004]光散射法需要光源、透镜、光电检测器等器件，其中的电子器件使用温度基本都在80℃以下，并且光学器件在使用过程中又要避免污染，因此，光散射很难应用于工业锅炉、电厂锅炉等污染源排放的高温、高浓度，甚至具有腐蚀性的烟气颗粒物的测量中。
[0005]在学术上也有使用电容法对颗粒物测量的案例。通过调研发现，学术上基本都是在理想条件下使用这种方法测量颗粒物浓度，其主要问题是：
[0006]1.选用的颗粒物的物质单一；仅仅得出该特定物质的浓度与电容值的关系，无法用在多种物质混合的气体环境。
[0007]2.选用的颗粒本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于双通道技术的颗粒物检测方法，其特征在于，所述基于双通道技术的颗粒物检测方法为：待测气体分别进入第一检测通道和第二检测通道，在第一检测通道内，利用电容法得到与待测气体对应的电容值C
11
，在第二检测通道内，去除待测气体中的颗粒物，之后利用电容法得到与去除颗粒物的待测气体对应的电容值C
22
；利用电容值C
11
和C
22
得到与待测气体中颗粒物对应的电容变化量Q＝C
11
‑
C
22
；利用电容变化量Q和存储的系数K得到所述待测气体中颗粒物的浓度C＝K
·
Q。2.根据权利要求1所述的基于双通道技术的颗粒物检测方法，其特征在于，排出所述第一测量通道的待测气体被滤纸收集，收集颗粒物后的滤纸转移到检测位，利用β射线检测技术检测滤纸上收集的颗粒物，从而获得待测气体中颗粒物的浓度C
β

【专利技术属性】
技术研发人员：代磊，张福旺，刘盈智，郭中原，刘立鹏，薛昱，费杰，卢智易，
申请(专利权)人：聚光科技杭州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：