一种测向链路校准方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及到通信测向领域，尤其涉及一种测向链路校准方法及系统。方法包括：步骤S1，发射机将一校准信号发射至校准单元；步骤S2，校准单元将校准信号通过耦合单元和馈电链路反馈至接收机；步骤S3，接收机根据反馈的校准信号的信号功率，对每条馈电链路接收到的天线信号进行补偿。本发明专利技术的技术方案有益效果在于：提供一种测向链路校准方法及系统，能够：(1)减少天线信号于传输过程中的损失，保证信号质量，提高测向准确性；(2)使电路设计中每个功能部分都精简到最小，减少寄生电容/电感/电阻；(3)使得各个电路间的影响减到最小；(4)使器件结合实际PCB驻波达到最优。结合实际PCB驻波达到最优。结合实际PCB驻波达到最优。

【技术实现步骤摘要】
一种测向链路校准方法及系统


[0001]本专利技术涉及到通信测向领域，尤其涉及一种测向链路校准方法及系统。

技术介绍

[0002]现有技术中，于测向过程中，通常设置馈电链路，用于将天线接收到的信号反馈至测向机，测向机根据反馈的信号进行测向处理。然而，实际生产的每条测向馈电链路具有不同的损耗，导致反馈至测向机的信号出现偏差，进一步导致测向机的测向处理结果与实际不符，准确性较差。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种测向链路校准方法及系统。
[0004]其中，一种测向链路校准方法，应用于测向链路校准系统，所述测向链路校准系统中包括发射机、天线、耦合单元、馈电链路以及接收机，所述天线、所述耦合单元、所述馈电链路以及所述接收机依次连接；
[0005]所述测向链路校准系统还包括一校准单元，所述校准单元连接所述耦合单元；
[0006]所述测向链路校准方法包括：
[0007]步骤S1，所述发射机将一校准信号发射至所述校准单元；
[0008]步骤S2，所述校准单元将所述校准信号通过所述耦合单元和所述馈电链路反馈至所述接收机；
[0009]步骤S3，所述接收机根据反馈的所述校准信号的信号功率，对每条所述馈电链路接收到的天线信号进行补偿。
[0010]优选的，所述步骤S2包括：
[0011]步骤S21，获取所述校准信号，并对所述校准信号进行功分处理，得到多个功率相同且分别对应于所述馈电链路的校准信号；
[0012]步骤S22，将处理后的校准信号通过对应的所述耦合单元和所述馈电链路反馈至所述接收机。
[0013]优选的，所述步骤S3包括：
[0014]步骤S31，获取多个所述处理后的校准信号，并从中选取一标准信号，根据选取出的标准信号生成一比较信号；
[0015]步骤S32，依次获取所述处理后的校准信号与所述比较信号之间的功率差值；
[0016]步骤S33，根据功率差值依次对所述馈电链路接收到的天线信号进行补偿。
[0017]优选的，所述步骤S3还包括：
[0018]步骤S34，对补偿后的所有所述天线信号进行测向处理，得到测向结果。
[0019]优选的，所述发射机发射的所述校准信号为0dbm信号。
[0020]一种测向链路校准系统，包括发射机、天线、耦合单元、馈电链路以及接收机，所述天线、所述耦合单元、所述馈电链路以及所述接收机依次连接；
[0021]所述测向链路校准系统还包括一校准单元，所述校准单元连接所述耦合单元；
[0022]所述测向链路校准系统中：
[0023]所述发射机，用于将一校准信号发射至所述校准单元；
[0024]所述校准单元，用于将所述校准信号通过所述耦合单元和所述馈电链路反馈至所述接收机；
[0025]所述接收机，用于根据反馈的所述校准信号的信号功率，对每条所述馈电链路接收到的天线信号进行补偿。
[0026]优选的，所述校准单元包括：
[0027]功分单元，用于获取所述校准信号，并对所述校准信号进行功分处理，得到多个功率相同且分别对应于所述馈电链路的校准信号；
[0028]输出单元，连接所述功分单元，用于将处理后的校准信号通过对应的所述馈电链路反馈至所述接收机。
[0029]优选的，所述接收机包括：
[0030]一选取单元，用于从获取多个所述处理后的校准信号中选取一标准信号，并根据选取出的标准信号生成一比较信号；
[0031]一计算单元，连接所述选取单元，用于依次获取所述处理后的校准信号与所述比较信号之间的功率差值；
[0032]一补偿单元，连接所述第一计算单元，用于根据功率差值依次对所述馈电链路接收到的天线信号进行补偿。
[0033]优选的，所述接收机还包括：
[0034]一测向单元，连接所述补偿单元，用于对补偿后的所有所述天线信号进行测向处理，得到测向结果。
[0035]优选的，所述发射机发射的所述校准信号为0dbm信号。
[0036]本专利技术的技术方案有益效果在于：提供一种测向链路校准方法及系统，能够：(1)减少天线信号于传输过程中的损失，保证信号质量，提高测向准确性；(2)使电路设计中每个功能部分都精简到最小，减少寄生电容/电感/电阻；(3)使得各个电路间的影响减到最小；(4)使器件结合实际PCB驻波达到最优。
附图说明
[0037]图1为本专利技术优选实施方式中，测向链路校准方法的流程示意图；
[0038]图2为本专利技术优选实施方式中，步骤S2的流程示意图；
[0039]图3为本专利技术优选实施方式中，步骤S3的流程示意图；
[0040]图4为本专利技术优选实施方式中，步骤S3进行测向处理的流程示意图；
[0041]图5为本专利技术优选实施方式中，测向链路校准系统的结构示意图；
[0042]图6为本专利技术优选实施方式中，校准单元的结构示意图；
[0043]图7为本专利技术优选实施方式中，接收机的结构示意图；
[0044]图8为本专利技术优选实施方式中，进行测向处理的接收机的结构示意图。
具体实施方式
[0045]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0046]需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0047]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，但不作为本专利技术的限定。
[0048]本专利技术提供一种测向链路校准方法，应用于测向链路校准系统，测向链路校准系统中包括发射机、天线、耦合单元、馈电链路以及接收机，天线、耦合单元、馈电链路以及接收机依次连接；
[0049]测向链路校准系统还包括一校准单元，校准单元连接耦合单元；
[0050]如图1所示，测向链路校准方法包括：
[0051]步骤S1，发射机将一校准信号发射至校准单元；
[0052]步骤S2，校准单元将校准信号通过耦合单元和馈电链路反馈至接收机；
[0053]步骤S3，接收机根据反馈的校准信号的信号功率，对每条馈电链路接收到的天线信号进行补偿。
[0054]具体地，本专利技术中提供一种测向链路校准方法，首先，通过步骤S1控制发射机将校准信号发射至校准单元，随后，通过步骤S2控制校准单元将校准信号通过耦合单元和馈电链路反馈至接收机，最后，通过步骤S3控制接收机根据反馈的校准信号的信号功率，对每条馈电链路接收到的天线信号进行补偿，由此可以实现不同的馈电链路的损耗补偿，使得接收机可以对补偿后的天线信号进行测向处理，从而获取准确的测向结果。
[0055]进一步地，于实际运用中，可设置一测向机，以执本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测向链路校准方法，其特征在于，应用于测向链路校准系统，所述测向链路校准系统中包括发射机、天线、耦合单元、馈电链路以及接收机，所述天线、所述耦合单元、所述馈电链路以及所述接收机依次连接；所述测向链路校准系统还包括一校准单元，所述校准单元连接所述耦合单元；所述测向链路校准方法包括：步骤S1，所述发射机将一校准信号发射至所述校准单元；步骤S2，所述校准单元将所述校准信号通过所述耦合单元和所述馈电链路反馈至所述接收机；步骤S3，所述接收机根据反馈的所述校准信号的信号功率，对每条所述馈电链路接收到的天线信号进行补偿。2.根据权利要求1所述的一种测向链路校准方法，其特征在于，所述步骤S2包括：步骤S21，获取所述校准信号，并对所述校准信号进行功分处理，得到多个功率相同且分别对应于所述馈电链路的校准信号；步骤S22，将处理后的校准信号通过对应的所述耦合单元和所述馈电链路反馈至所述接收机。3.根据权利要求1所述的一种测向链路校准方法，其特征在于，所述步骤S3包括：步骤S31，获取多个所述处理后的校准信号，并从中选取一标准信号，根据选取出的标准信号生成一比较信号；步骤S32，依次获取所述处理后的校准信号与所述比较信号之间的功率差值；步骤S33，根据功率差值依次对所述馈电链路接收到的天线信号进行补偿。4.根据权利要求3所述的一种测向链路校准方法，其特征在于，所述步骤S3还包括：步骤S34，对补偿后的所有所述天线信号进行测向处理，得到测向结果。5.根据权利要求1所述的一种测向链路校准方法，其特征在于，所述发射机发射的所述校准信号为0dbm信号。6.一种测向链路校准系...

【专利技术属性】
技术研发人员：张旭峰，包宇，
申请(专利权)人：上海铂联通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：