参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统制造方法及图纸

技术编号:30408040 阅读:30 留言:0更新日期:2021-10-20 11:18
本发明专利技术实施例提供了一种参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统。参数校准方法包括:获取待校准的控制参数;确定与量子芯片相对应的模拟运行误差;基于模拟运行误差,确定与控制参数相对应的校准数据;基于校准数据对控制参数进行校准,获得校准后控制参数,校准后控制参数用于控制量子芯片运行。本实施例提供的技术方案,通过获取待校准的控制参数,确定与量子芯片相对应的模拟运行误差,而后基于模拟运行误差确定校准数据,并基于校准数据对控制参数进行校准,从而有效地实现了能够基于量子芯片所存在的模拟运行误差对控制参数进行校准操作,并可以基于校准后控制参数对量子芯片进行控制,进而保证了对量子芯片进行控制的精确程度。制的精确程度。制的精确程度。

【技术实现步骤摘要】
参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统


[0001]本专利技术涉及量子
,尤其涉及一种参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统。

技术介绍

[0002]量子芯片是指将量子线路集成在基片上,进而承载量子信息处理功能的芯片,在量子计算领域,需要基于芯片参数和控制参数对量子芯片进行控制,以实现量子门操作以及运行量子算法。然而,由于对量子芯片进行控制的部分参数会随时间发生变化,例如:用于对量子芯片进行控制的芯片参数随时间发生变化,并且,经过测量获得的芯片参数也会有误差。因此,针对上述用于对量子芯片进行控制的参数而言,需要进行一系列校准操作,以保证量子芯片运行的精确程度。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供了一种参数校准方法、量子芯片的控制方法、装置及系统,能够基于量子芯片所存在的模拟运行误差对控制参数进行校准操作,而后可以基于校准后控制参数对量子芯片进行控制,进而保证了对量子芯片进行控制的精确程度。
[0004]第一方面,本专利技术实施例提供一种参数校准方法,包括:
[0005]获取待校准的控制参数;
[0006]确定与量子芯片相对应的模拟运行误差;
[0007]基于所述模拟运行误差,确定与所述控制参数相对应的校准数据;
[0008]基于所述校准数据对所述控制参数进行校准,获得校准后控制参数,所述校准后控制参数用于控制所述量子芯片运行。
[0009]第二方面,本专利技术实施例提供一种参数校准装置,包括:
[0010]第一获取模块,用于获取待校准的控制参数;
[0011]第一确定模块,用于确定与量子芯片相对应的模拟运行误差;
[0012]所述第一确定模块,用于基于所述模拟运行误差,确定与所述控制参数相对应的校准数据;
[0013]第一处理模块,用于基于所述校准数据对所述控制参数进行校准,获得校准后控制参数,所述校准后控制参数用于控制所述量子芯片运行。
[0014]第三方面,本专利技术实施例提供一种电子设备,包括:存储器、处理器;其中,所述存储器用于存储一条或多条计算机指令,其中,所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行时实现上述第一方面中的参数校准方法。
[0015]第四方面,本专利技术实施例提供了一种计算机存储介质,用于储存计算机程序,所述计算机程序使计算机执行时实现上述第一方面中的参数校准方法。
[0016]第五方面,本专利技术实施例提供了一种量子芯片的控制方法,包括:
[0017]获取用于控制量子芯片进行运算的第一参数和第二参数,所述第一参数能够随着
所述量子芯片的芯片参数的变化而改变,所述第二参数不会随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变;
[0018]确定与所述第一参数相对应的校准数据,所述校准数据是基于所述量子芯片相对应的模拟运行误差所确定的;
[0019]基于所述校准数据对所述第一参数进行校准,获得校准后第一参数;
[0020]基于所述校准后第一参数和所述第二参数控制所述量子芯片进行运算。
[0021]第六方面,本专利技术实施例提供了一种量子芯片的控制装置,包括:
[0022]第二获取模块,用于获取用于控制量子芯片进行运算的第一参数和第二参数,所述第一参数能够随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变,所述第二参数不会随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变;
[0023]第二确定模块,用于确定与所述第一参数相对应的校准数据,所述校准数据是基于所述量子芯片相对应的模拟运行误差所确定的;
[0024]第二处理模块,用于基于所述校准数据对所述第一参数进行校准,获得校准后第一参数;
[0025]所述第二处理模块,用于基于所述校准后第一参数和所述第二参数控制所述量子芯片进行运算。
[0026]第七方面,本专利技术实施例提供一种电子设备,包括:存储器、处理器;其中,所述存储器用于存储一条或多条计算机指令,其中,所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行时实现上述第五方面中的量子芯片的控制方法。
[0027]第八方面,本专利技术实施例提供了一种计算机存储介质,用于储存计算机程序,所述计算机程序使计算机执行时实现上述第五方面中的量子芯片的控制方法。
[0028]第九方面,本专利技术实施例提供了一种参数校准方法,包括:
[0029]响应于调用参数校准请求,确定参数校准服务对应的处理资源;
[0030]利用所述处理资源执行如下步骤:获取待校准的控制参数;确定与量子芯片相对应的模拟运行误差;基于所述模拟运行误差,确定与所述控制参数相对应的校准数据;基于所述校准数据对所述控制参数进行校准,获得校准后控制参数,所述校准后控制参数用于控制所述量子芯片运行。
[0031]第十方面,本专利技术实施例提供了一种参数校准装置,包括:
[0032]第三确定模块,用于响应于调用参数校准请求,确定参数校准服务对应的处理资源;
[0033]第三处理模块,用于利用所述处理资源执行如下步骤:获取待校准的控制参数;确定与量子芯片相对应的模拟运行误差;基于所述模拟运行误差,确定与所述控制参数相对应的校准数据;基于所述校准数据对所述控制参数进行校准,获得校准后控制参数,所述校准后控制参数用于控制所述量子芯片运行。
[0034]第十一方面,本专利技术实施例提供一种电子设备,包括:存储器、处理器;其中,所述存储器用于存储一条或多条计算机指令,其中,所述一条或多条计算机指令被所述处理器执行时实现上述第九方面中的参数校准方法。
[0035]第十二方面,本专利技术实施例提供了一种计算机存储介质,用于储存计算机程序,所述计算机程序使计算机执行时实现上述第九方面中的参数校准方法。
[0036]第十三方面,本专利技术实施例提供了一种量子芯片的控制方法,包括:
[0037]响应于调用量子芯片的控制请求,确定量子芯片的控制服务对应的处理资源;
[0038]利用所述处理资源执行如下步骤:获取用于控制量子芯片进行运算的第一参数和第二参数,所述第一参数能够随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变,所述第二参数不会随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变;确定与所述第一参数相对应的校准数据,所述校准数据是基于所述量子芯片相对应的模拟运行误差所确定的;基于所述校准数据对所述第一参数进行校准,获得校准后第一参数;基于所述校准后第一参数和所述第二参数控制所述量子芯片进行运算。
[0039]第十四方面,本专利技术实施例提供了一种量子芯片的控制装置,包括:
[0040]第四确定模块,用于响应于调用量子芯片的控制请求,确定量子芯片的控制服务对应的处理资源;
[0041]第四处理模块,用于利用所述处理资源执行如下步骤:获取用于控制量子芯片进行运算的第一参数和第二参数,所述第一参数能够随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变,所述第二参数不会随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变;确定与所述第一参数相对应的校准数据,所述校准数据是基于所述量子芯片相对应的模拟运行误差本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种参数校准方法,其特征在于,包括:获取待校准的控制参数;确定与量子芯片相对应的模拟运行误差;基于所述模拟运行误差,确定与所述控制参数相对应的校准数据;基于所述校准数据对所述控制参数进行校准,获得校准后控制参数,所述校准后控制参数用于控制所述量子芯片运行。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待校准的控制参数能够随着所述量子芯片的芯片参数的变化而改变。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,确定与所述量子芯片相对应的模拟运行误差,包括:获取所述量子芯片所包括的至少一个量子比特;确定与所述至少一个量子比特相对应的模拟运行误差;基于所述至少一个量子比特相对应的模拟运行误差,确定与所述量子芯片相对应的模拟运行误差。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,确定与所述至少一个量子比特相对应的模拟运行误差,包括:确定所述至少一个量子比特各自对应的模拟性能参数和理论性能参数;基于所述模拟性能参数和理论性能参数,确定与所述至少一个量子比特相对应的模拟运行误差。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,确定所述至少一个量子比特各自对应的模拟性能参数,包括:获取用于对所述量子芯片上至少一个量子比特进行控制的至少一个模拟运行参数;确定所述至少一个模拟运行参数各自对应的量子门精度;基于所述至少一个模拟运行参数各自对应的量子门精度,确定所述至少一个量子比特各自对应的模拟性能参数。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,不同模拟运行参数所对应的模拟运行误差相同或者不同。7.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述模拟运行误差包括以下至少之一:与芯片参数相对应的模拟运行误差、与控制参数相对应的模拟运行误差。8.根据权利要求2或7所述的方法,其特征在于,所述芯片参数包括以下至少之一:与所述量子芯片相对应的电容量、与所述量子芯片相对应的电感量、与所述量子芯片相对应的用于表征约瑟夫森结储存能量的参数。9.根据权利要求1

7中任意一项所述的方法,其特征在于,在获得校准后控制参数之后,所述方法还包括:获取用于对所述量子芯片进行控制的设定控制参数,所述设定控制参数不会随着所述量子芯...

【专利技术属性】
技术研发人员:倪孝彤
申请(专利权)人:阿里巴巴新加坡控股有限公司
类型:发明
国别省市:

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