一种多功能外花键综合检具制造技术

技术编号:30367994 阅读:25 留言:0更新日期:2021-10-16 17:41
本发明专利技术公开了一种多功能外花键综合检具,涉及花键检测领域,包括光面环规和花键环规,花键环规的两侧各设置一只光面环规,光面环规的中心开设有大径检测孔,花键环规的中心开设有齿测检测孔,花键环规与二只光面环规三者同轴布置,使得大径检测孔和齿测检测孔同心;沿每只光面环规背离花键环规一侧的表面圆周均布有若干腰型锁紧孔,花键环规上与腰型锁紧孔相对应位置处开设相同数量的螺纹孔,锁紧螺栓依次穿过腰型锁紧孔和螺纹孔,并将光面环规和花键环规锁紧固定。本发明专利技术可以对被检件作花键齿形、齿向、累积误差、花键与外径同心度等的检测,以提高产品的配合精度,对花键与外径不同心问题能起到有效防错。心问题能起到有效防错。心问题能起到有效防错。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能外花键综合检具


[0001]本专利技术涉及花键检测的领域,具体涉及一种多功能外花键综合检具。

技术介绍

[0002]现有的外花键检具因设计上仅考虑了花键最基本的检测要求,仅能对花键的齿侧大小、花键直径(小径、大径或成型圆直径)做控制,无法满足实际生产中如花键齿向、花键齿侧与花键外圆同心度等检测要求。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术存在的不足,而提供一种多功能外花键综合检具,解决花键齿侧与花键大径不同心、花键齿向的检测问题。
[0004]本专利技术的目的是通过如下技术方案来完成的:这种多功能外花键综合检具,包括光面环规和花键环规,所述花键环规的两侧各设置一只光面环规,光面环规的中心开设有用于检测花键大径的大径检测孔,花键环规的中心开设有用于检测花键齿侧的齿测检测孔,花键环规与二只光面环规三者同轴布置,使得大径检测孔和齿测检测孔同心;沿每只光面环规背离花键环规一侧的表面圆周均布有若干腰型锁紧孔,花键环规上与腰型锁紧孔相对应位置处开设相同数量的螺纹孔,锁紧螺栓依次穿过腰型锁紧孔和螺纹孔,并将光面环规和花键环规锁紧固定。
[0005]作为进一步的技术方案,所述腰型锁紧孔共有三个。
[0006]作为进一步的技术方案,所述锁紧螺栓在腰型锁紧孔上的固定位置随着光面环规的转动而调整,从而改变大径检测孔与待测花键的接触位置。
[0007]本专利技术的有益效果为:通过使用此多功能外花键综合检具,对工件因中心孔不一致或其它原因造成的花键齿与花键外径不同心问题,能起到有效的防错识别;检具的花键部分加长设计可对花键齿向做到有效控制,同时具备传统花键环规应有的检测功能。
附图说明
[0008]图1为本专利技术的主视图。
[0009]图2为本专利技术的侧剖视图。
[0010]附图标记说明:光面环规1、花键环规2、腰型锁紧孔3、螺纹孔4、锁紧螺栓5、大径检测孔6、齿测检测孔7。
具体实施方式
[0011]下面将结合附图对本专利技术做详细的介绍:
[0012]实施例:如附图1、2所示,这种多功能外花键综合检具,包括光面环规1和花键环规2,所述花键环规2的两侧各设置一只光面环规1,光面环规1的中心开设有用于检测花键大径的大径检测孔6,花键环规2的中心开设有用于检测花键齿侧的齿测检测孔7,花键环规2
与二只光面环规1三者同轴布置,使得大径检测孔6和齿测检测孔7同心;沿每只光面环规1背离花键环规2一侧的表面圆周均布有三个腰型锁紧孔3,花键环规2上与腰型锁紧孔3相对应位置处开设相同数量的螺纹孔4,锁紧螺栓5依次穿过腰型锁紧孔3和螺纹孔4,并将光面环规1和花键环规2锁紧固定。
[0013]所述锁紧螺栓5在腰型锁紧孔3上的固定位置随着光面环规1的转动而调整,从而改变大径检测孔6与待测花键的接触位置。
[0014]本专利技术的工作过程:检测时,将待测花键依次通过大径检测孔6和齿测检测孔7,同时检测待测花键的齿形、齿向、花键累积误差和花键大径等尺寸,并对工件因中心孔不一致或其它原因造成的花键齿与花键外径不同心问题,起到有效的防错识别。当检具使用到一定周期后,光面环规1出现磨损时,可以松开锁紧螺栓5将光面环规1旋转一个齿距进行调整,避开磨损区域(此调整需借助于花键校对塞规完成),然后再次锁紧光面环规1和花键环规2,即可再次使用,延长检具的使用寿命。
[0015]通过使用此多功能外花键综合检具,对工件因中心孔不一致或其它原因造成的花键齿与花键外径不同心问题,能起到有效的防错识别;检具的花键部分加长设计可对花键齿向做到有效控制,同时具备传统花键环规应有的检测功能。
[0016]可以理解的是,对本领域技术人员来说,对本专利技术的技术方案及专利技术构思加以等同替换或改变都应属于本专利技术所附的权利要求的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多功能外花键综合检具,其特征在于:包括光面环规(1)和花键环规(2),所述花键环规(2)的两侧各设置一只光面环规(1),光面环规(1)的中心开设有用于检测花键大径的大径检测孔(6),花键环规(2)的中心开设有用于检测花键齿侧的齿测检测孔(7),花键环规(2)与二只光面环规(1)三者同轴布置,使得大径检测孔(6)和齿测检测孔(7)同心;沿每只光面环规(1)背离花键环规(2)一侧的表面圆周均布有若干腰型锁紧孔(3),花键环规(2)上...

【专利技术属性】
技术研发人员:李永华孙金相曹向阳
申请(专利权)人:万向集团公司
类型:发明
国别省市:

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