一种六氟化硫密度继电器校验仪p制造技术

一种六氟化硫密度继电器校验仪p

【技术实现步骤摘要】
一种六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测方法


[0001]本专利技术属于高压电气设备检测领域，具体涉及一种六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测方法。

技术介绍

[0002]目前在各种高压电气设备内广泛使用六氟化硫(简称SF6)作为高压电气设备中的灭弧和绝缘介质。SF6密度继电器是用来对高压电气设备内的SF6气体进行监视的非电量保护元件，其准确与否对于高压电气设备起着极其重要的作用。
[0003]现场运行的SF6密度继电器因工作环境恶劣，经过一段时期后常出现接点动作不灵活、接点接触不良等现象，有时还会出现温度补偿性能变差而造成指示偏差或误动作。为了保证六氟化硫气体密度控制器对SF6气体密度的准确监测，确保设备安全稳定运行，必须定期对其进行校验。
[0004]六氟化硫密度继电器校验仪(简称校验仪)是用于校验SF6密度继电器的专用标准器，其具备压力量值的控制和测量，还能够根据SF6气体的温度特性对所显示的压力量值进行温度补偿。目前对校验仪的测试仅包含压力示值误差，忽视了其p
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示值误差的检测。
[0005]由于现场的SF6密度继电器其压力示值为温度补偿后的压力示值，即p
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示值，所以SF6密度继电器接点动作值测量的是否准确，校验仪的p
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示值误差起到关键作用。校验仪的p
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示值由校验仪测得的压力值和温度值通过公式计算得到，因此对于校验仪的测试除了压力示值，其p
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示值也非常重要。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的是为了填补检测六氟化硫密度继电器校验仪的p
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示值误差检测的空白，提供了一种六氟化硫密度继电器校验仪的p
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示值误差的检测方法。具体检测方法是：利用压力标准器和温度标准器先将校验仪的压力示值和温度示值进行校准，使校验仪的压力和温度示值调整到最佳值，再用压力标准器和温度标准器同时进行p
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示值误差的检测。
[0007]本专利技术采用如下技术方案来实现的：
[0008]一种六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测方法，包括以下步骤：
[0009]1)对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值和温度示值进行检测，压力示值和温度示值均满足要求后，方可进行p
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示值误差的检测；
[0010]2)对六氟化硫密度继电器校验仪的p
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示值误差进行检测，p
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示值误差必须满足其准确度等级的要求。
[0011]本专利技术进一步的改进在于，步骤1)中，压力示值满足其准确度等级的要求。
[0012]本专利技术进一步的改进在于，步骤1)中，温度示值满足工业铂电阻和校验仪准确度等级的综合要求。
[0013]本专利技术进一步的改进在于，步骤1)中，压力示值的具体实现方法如下：
[0014]101)用压力标准器对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值进行检测；
[0015]102)压力示值误差如若超过其准确度等级的要求，利用压力标准器对其压力示值进行校准，使其压力示值在最佳状态；
[0016]103)再次用压力标准器对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值进行检测，压力示值满足其准确度等级要求后方可进行p
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示值误差检测。
[0017]本专利技术进一步的改进在于，步骤1)温度示值的具体实现方法如下：
[0018]101)用二等标准铂电阻温度计和低温恒温槽对六氟化硫密度继电器校验仪的温度示值进行检测；
[0019]102)温度示值误差如若超过工业铂电阻和校验仪准确度等级的综合要求，利用二等标准铂电阻温度计对其温度示值进行校准，使其温度示值在最佳状态；
[0020]103)再次用二等标准铂电阻温度计和低温恒温槽对六氟化硫密度继电器校验仪的温度示值进行检测，温度示值满足铂电阻和校验仪准确度等级的综合要求后方可进行p
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示值误差检测。
[0021]本专利技术进一步的改进在于，步骤2)的具体实现方法如下：
[0022]201)校验仪的测试口与压力标准器连接；
[0023]202)校验仪温度传感器与二等标准铂电阻温度计均插入低温恒温槽工作介质内；
[0024]203)按预先选定的压力点和温度点，用压力标准器和温度标准器同时给出对应量值，检测不同压力和温度下六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差。
[0025]本专利技术进一步的改进在于，温度传感器采用A级工业铂电阻。
[0026]本专利技术至少具有如下有益的技术效果：
[0027]本专利技术是针对六氟化硫密度继电器校验仪的p
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示值误差，提供了一种检测方法。通过该方法检测六氟化硫密度继电器校验仪的p
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示值，使SF6密度继电器的量值得到准确的溯源，确保高压电气设备安全稳定运行。
附图说明
[0028]图1为p
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示值误差检测示意图。
[0029]图2为六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测流程图。
[0030]附图中的标号分别为：
[0031]1、数字多用表，2、二等标准铂电阻温度计，3、工业铂电阻，4、低温恒温槽，5、六氟化硫密度继电器校验仪，6、数字压力计，7、氮气瓶，8、减压阀。
具体实施方式
[0032]下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。
[0033]本专利技术提供的一种六氟化硫密度继电器校验仪误差检测方法，包括：包括压力示值误差和温度示值误差、p
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示值误差。六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测流程图见图2。
[0034]1压力示值误差和温度示值误差
[0035]1.1压力示值误差
[0036]在校验仪量程范围内均匀选取不少于5个压力试验点(包括上、下限)，将数字压力计6的测压口与校验仪5的测试口连接并确认管路无泄漏。依次升压至各试验点直至上限，之后逐点降压进行反行程试验。每个试验点待压力稳定后分别读取数字压力计6和校验仪5的压力示值。压力示值误差应满足校验仪准确度等级的要求，如果超差，应按照校验仪自身的操作说明，用数字压力计进行校准后再重新检测压力示值误差，压力示值误差必须满足校验仪准确度等级要求，方可开展p
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示值误差的检测。
[0037]1.2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值和温度示值进行检测，压力示值和温度示值均满足要求后，进行p
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示值误差的检测；2)对六氟化硫密度继电器校验仪的p
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示值误差进行检测，p
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示值误差必须满足其准确度等级的要求。2.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)中，压力示值满足其准确度等级的要求。3.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)中，温度示值满足工业铂电阻的要求。4.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)中，温度示值满足校验仪准确度等级的要求。5.根据权利要求1所述的一种六氟化硫密度继电器校验仪p
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示值误差检测方法，其特征在于，步骤1)中，压力示值的具体实现方法如下：101)用压力标准器对六氟化硫密度继电器校验仪的压力示值进行检测；102)压力示值误差如若超过其准确度等级的要求，利用压力标准器对其压力示值进行校准，使其压力示值在最佳状态；103)再次用压力标准器对六氟化硫密度继电器校...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨海燕，王志浩，李哲毓，张倩，赵蒙，关建航，韦宣，瞿丽莉，
申请(专利权)人：西安热工研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：