一种自修复材料电气性能恢复程度的评价方法技术

本发明专利技术公开了一种自修复材料电气性能恢复程度的评价方法，包括：采用高阻法获取自修复材料进行切割处理后的多个试样品的电阻率；采用切割处理将所述试样品进行切割并获取多个自愈合试样品的电阻率；获取多个所述试样品的电阻率的平均值以及多个所述自愈合试样品的电阻率的平均值的百分比确定自愈合效率；若所述自愈合效率满足预设的评价条件，则确定所述自修复材料的电气性能自修复能力合格。本发明专利技术通过获取切割材料与自愈材料的电阻率，进一步剔除离群值，获取自愈合效率并进一步评价自修复能力，有效判断该材料的自愈合能力，提高判断的效率。判断的效率。判断的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种自修复材料电气性能恢复程度的评价方法


[0001]本专利技术涉及高分子材料
，尤其涉及一种自修复材料电气性能恢复程度的评价方法。

技术介绍

[0002]自修复电缆绝缘材料是新兴的材料，现有电缆修复主要依靠热焊、热缩管等简单技术，需采用定位技术从端部对故障电缆进行检查并寻找故障点，并且还需要挖开覆土、拆线、停电，耗费人力物力，再进一步评估该材料的自愈能力时，会导致不能间断作业造成评估的效率低且准确度不高。

技术实现思路

[0003]本专利技术目的在于，提供一种自修复材料电气性能恢复程度的评价方法，以解决现有技术中自修复材料修复评价不准确且效率低的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供一种自修复材料电气性能恢复程度的评价方法，包括：
[0005]采用高阻法获取自修复材料进行切割处理后的多个试样品的电阻率；
[0006]采用切割处理将所述试样品进行切割并获取多个自愈合试样品的电阻率；
[0007]获取多个所述试样品的电阻率的平均值以及多个所述自愈合试样品的电阻率的平均值的百分比确定自愈合效率；
[0008]若所述自愈合效率满足预设的评价条件，则确定所述自修复材料的电气性能自修复能力合格。
[0009]优选地，所述自愈合效率满足预设的评价条件，具体按照以下公式进行计算：
[0010][0011]式中，η表示所述自愈合效率，t表示95％的置信水平下，自由度为nk
‑
1的t值，s表示k次获取所述自愈合试样品的方差，表示n个所述试样品的电阻率的平均值，k表示所述自愈合试样品测量的次数。
[0012]优选地，多个所述试样品的电阻率的平均值，具体为：
[0013]采用高阻法获取n个所述试样品的体积电阻率，分别计算n个所述试样品的体积电阻率的平均值及标准差，剔除根据所述试样品的体积电阻率、所述试样品的体积电阻率的平均值及所述标准差确定含第一离群值的平均值，获取所述试样品的电阻率的平均值。
[0014]优选地，所述剔除根据所述试样品的体积电阻率、所述试样品的体积电阻率的平均值及所述标准差确定含第一离群值的平均值，具体为：
[0015]获取所述试样品的体积电阻率ρ
n0
与所述平均值的差值；
[0016]根据所述差值与所述标准差S0确定比值G
n
；
[0017]若满足所述比值G
n
大于预设的第一临界值G
n(α)
，则按照以下公式，剔除含第一离群值的所述平均值；
[0018][0019]G
n
>G
n(α)
；
[0020]式中，α表示显著度，α＝0.05。
[0021]优选地，所述自愈合试样品，具体为：
[0022]将n个所述试样品分别切割成两部分并将切割处相互接触，放置室温下2小时至8小时自修复后，获取自愈合试样品。
[0023]优选地，多个所述自愈合试样品的电阻率的平均值，具体为：
[0024]计算每个所述自愈合试样品k次测量体积电阻率的平均值和方差，剔除根据所述方差与预设的第二临界值确定含第二离群值的平均值，获取所述自愈合试样品的电阻率的平均值。
[0025]优选地，所述计算每个所述自愈合试样品k次测量体积电阻率的平均值和方差，具体按照以下公式进行计算：
[0026][0027][0028]式中，ρ
nk
表示任一自愈合试样品任一次测定的电阻率，其中，n表示所有试样品的测定次数，k表示任一样本测定次数，表示任一自愈试样品k次测量的体积电阻率平均值，表示任一自愈试样品k次测量的方差。
[0029]优选地，所述剔除根据所述方差与预设的第二临界值确定含第二离群值的平均值，具体为：
[0030]获取某一自愈试样品k次测量的方差的最大方差
[0031]根据所述最大方差与总方差确定比值C
n,k
；
[0032]若满足所述比值C
n,k
大于所述预设的第二临界值C
n,k(α)
，则按照以下公式，剔除所述含第二离群值的所述平均值；
[0033][0034]G
n,k
>G
n,k(α)
。
[0035]优选地，所述获取所述自愈合试样品的电阻率的平均值，具体为：
[0036]根据剔除离群值后的所述自愈合试样品的体积电阻率的平均值与所述自愈合试样品测量次数k，按照以下公式，计算所述自愈合试样品的电阻率的平均值
[0037][0038]优选地，所述自愈合效率是根据所述试样品的电阻率的平均值与所述自愈合试样品的电阻率的平均值而计算获得，具体根据以下公式计算：
[0039][0040]式中，η表示所述自愈合效率，表示所述试样品的电阻率的平均值，表示所述自愈合试样品的电阻率的平均值。
[0041]相对于现有技术，本专利技术的有益效果在于：
[0042]通过对自修复材料先进行切断，然后在室温并且无外界刺激条件下使其自修复，经过测定损伤前的体积电阻率与自愈合后体积电阻来计算出材料的自修复效率，评价方法简单易行、易于推广，评价准确度较高，可以有效的判断该种材料的自修复能力，可以根据修复评价结果对自修复材料进行改进，使材料不仅具备自修复性能，还具有良好满足生产需要的电气性能，进一步的，电缆绝缘材料的自修复性能有利于延长材料的使用寿命，降低输电线路运维和检修成本。
附图说明
[0043]为了更清楚地说明本专利技术的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0044]图1是本专利技术某一实施例提供的自修复材料电气性能恢复程度的评价方法的流程示意图；
[0045]图2是本专利技术另一实施例提供的高电阻测试仪测试原理图；
[0046]图3是本专利技术又一实施例提供的测量电极有效面积图。
具体实施方式
[0047]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0048]应当理解，文中所使用的步骤编号仅是为了方便描述，不对作为对步骤执行先后顺序的限定。
[0049]应当理解，在本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0050]术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自修复材料电气性能恢复程度的评价方法，其特征在于，包括：采用高阻法获取自修复材料进行切割处理后的多个试样品的电阻率；采用切割处理将所述试样品进行切割并获取多个自愈合试样品的电阻率；获取多个所述试样品的电阻率的平均值以及多个所述自愈合试样品的电阻率的平均值的百分比确定自愈合效率；若所述自愈合效率满足预设的评价条件，则确定所述自修复材料的电气性能自修复能力合格。2.根据权利要求1所述的自修复材料电气性能恢复程度的评价方法，其特征在于，所述自愈合效率满足预设的评价条件，具体按照以下公式进行计算：式中，η表示所述自愈合效率，t表示95％的置信水平下，自由度为nk
‑
1的t值，s表示k次获取所述自愈合试样品的方差，表示n个所述试样品的电阻率的平均值，k表示所述自愈合试样品测量的次数。3.根据权利要求1所述的自修复材料电气性能恢复程度的评价方法，其特征在于，多个所述试样品的电阻率的平均值，具体为：采用高阻法获取n个所述试样品的体积电阻率ρ
n0
，分别计算n个所述试样品的体积电阻率的平均值及标准差，剔除根据所述试样品的体积电阻率、所述试样品的体积电阻率的平均值及所述标准差确定含第一离群值的平均值，获取所述试样品的电阻率的平均值。4.根据权利要求3所述的自修复材料电气性能恢复程度的评价方法，其特征在于，所述剔除根据所述试样品的体积电阻率、所述试样品的体积电阻率的平均值及所述标准差确定含第一离群值的平均值，具体为：获取所述试样品的体积电阻率ρ
n0
与所述平均值的差值；根据所述差值与所述标准差S0确定比值G
n
；若满足所述比值G
n
大于预设的第一临界值G
n(α)
，则按照以下公式，剔除含第一离群值的所述平均值；G
n
>G
n(α)
；式中，α表示显著度，α＝0.05。5.根据权利要求1所述的自修复材料电气性能恢复程度的评价方法，其特征在于，所述自愈合试样品，具体为：将n个所述试样品分别切割成两部分并将切割处相互接触，放置室温下2小时至8小时自修...

【专利技术属性】
技术研发人员：林木松，李智，唐念，付强，彭磊，
申请(专利权)人：广东电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：