光谱测量系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种光谱测量系统，所述光谱测量系统包括：探测器；测量装置，所述测量装置与所述探测器电连接，所述测量装置用于驱动所述探测器测量目标光谱信息；温控装置，所述温控装置与所述探测器连接，所述温控装置用于控制所述探测器的温度。本实用新型专利技术提供的光谱测量系统，通过设置测量装置来驱动探测器稳定工作，通过设置温控装置来控制探测器的温度，能够降低探测器的测量噪声，提高信噪比，从而提高测量精度。提高测量精度。提高测量精度。

【技术实现步骤摘要】
光谱测量系统


[0001]本技术涉及光电
，尤其涉及一种光谱测量系统。

技术介绍

[0002]短波红外主要来源于太阳光源、高温物体主动热辐射以及人工短波红外光源等。很多地物目标在短波红外波段具有丰富的光谱特征和较高的光谱反射率。因此，短波红外探测技术可应用在军事上、深空探测领域、生物医疗、集成电路缺陷检测以及艺术品鉴别等领域。在应用短波红外技术时，需要测量短波红外连续光谱的波长和强度。
[0003]目前的光谱测量系统，具有较大的噪声波动，测量到的光谱信息不准确。

技术实现思路

[0004]本技术提供一种光谱测量系统，用以解决现有技术中高温会使得探测器产生较大的噪声波动，使得光谱测量系统测量结果不准确的缺陷，实现降低探测器的测量噪声，提高信噪比，从而提高测量精度。
[0005]本技术提供一种光谱测量系统，所述光谱测量系统包括：探测器；测量装置，所述测量装置与所述探测器电连接，所述测量装置用于驱动所述探测器测量目标光谱信息；温控装置，所述温控装置与所述探测器连接，所述温控装置用于控制所述探测器的温度。
[0006]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述温控装置包括：第一制冷器，所述第一制冷器用于给所述探测器的外部环境降温；第二制冷器，所述第二制冷器用于给所述探测器的内部环境降温；温控芯片，所述第一制冷器与所述第二制冷器均与所述温控芯片电连接。
[0007]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述温控装置包括：第一温度传感器，所述第一温度传感器设于所述探测器外，所述第一温度传感器与所述温控芯片电连接，所述温控芯片设置为基于所述第一温度传感器获取的所述探测器的外部环境温度，控制所述第一制冷器和所述第二制冷器。
[0008]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述温控芯片设置为若所述探测器的外部环境温度低于预设温度阈值时，启动所述第二制冷器。
[0009]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述温控装置还包括：第一驱动电路，所述第一制冷器通过所述第一驱动电路与所述温控芯片电连接，所述第一驱动电路包括MOS管桥式开关电路。
[0010]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述第一制冷器与所述探测器通过导热金属连接，所述导热金属与所述探测器之间设有导热硅脂。
[0011]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述温控装置还包括：第二温度传感器，所述第二温度传感器设于所述探测器内，所述第二温度传感器与所述温控芯片电连接，所述温控芯片设置为基于所述第二温度传感器获取的所述探测器的外部环境温度，控制所
述第二制冷器。
[0012]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述第二温度传感器为热敏电阻。
[0013]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述温控装置还包括：第二驱动电路，所述第二制冷器通过所述第二驱动电路与所述温控芯片电连接，所述第二驱动电路包括OPA549功率运算放大器。
[0014]根据本技术提供一种的光谱测量系统，所述测量装置包括：模拟信号处理器，所述模拟信号处理器与所述探测器电连接；A/D采集器，所述A/D采集器与所述模拟信号处理器电连接；测量芯片，所述测量芯片的输出端与所述探测器电连接，所述测量芯片的输入端与所述A/D采集器电连接。
[0015]本技术提供的光谱测量系统，通过设置测量装置来驱动探测器稳定工作，通过设置温控装置来控制探测器的温度，能够降低探测器的测量噪声，提高信噪比，从而提高测量精度。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本技术提供的光谱测量系统的结构示意图；
[0018]图2是本技术提供的光谱测量系统的测量装置的结构示意图；
[0019]图3是本技术提供的光谱测量系统的温控装置的结构示意图；
[0020]图4是本技术提供的光谱测量系统的温控装置的运行流程图之一；
[0021]图5是本技术提供的光谱测量系统的温控装置的运行流程图之二。
[0022]附图标记：
[0023]10：探测器；
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20：测量装置；
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21：模拟信号处理器；
[0024]22：A/D采集器；
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23：测量芯片；
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24：测量驱动电路；
[0025]30：温控装置；
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31：第一制冷器；
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32：第一温度传感器；
[0026]33：第一驱动电路；
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34：第二制冷器；
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35：第二温度传感器；
[0027]36：第二驱动电路；
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37：温控芯片；
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39：导热金属；
[0028]40：供电模块。
具体实施方式
[0029]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术中的附图，对本技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0030]下面结合图1
‑
图5描述本技术的光谱测量系统。
[0031]本技术实施例的光谱测量系统能够用于测量短波红外，短波红外是波长范围
为1.1μm～2.5μm的红外辐射，主要来源于太阳光源、高温物体主动热辐射和人工短波红外光源等。短波红外波段的观测表现出诸多优势：(1)在恶劣环境下，仍然具有良好的成像能力；(2)短波红外适用性广泛，在白天可避免可见光强光的干扰，在夜晚探测灵敏度高，可用于全天候监控；(3)很多地物目标在短波红外波段具有丰富的光谱特征和较高的光谱反射率。因此，短波红外探测技术可应用在军事上、深空探测领域、生物医疗、集成电路缺陷检测、艺术品鉴别等。
[0032]如图1所示，本技术实施例提供一种光谱测量系统，所述光谱测量系统包括：探测器10、测量装置20、温控装置30和供电模块40。
[0033]其中，探测器10、测量装置20以及温控装置30均与供电模块40电连接，供电模块40能够给探测器10、测量装置20以及温控装置30供电。
[0034]测量装置20与探测器10电连接，测量装置20用于驱动探测器10测量目标光谱信息。
[0035]可以理解的是，测量装置20和探测器10电连接，用于和探测器10实现数据交换，从而驱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光谱测量系统，其特征在于，包括：探测器；测量装置，所述测量装置与所述探测器电连接，所述测量装置用于驱动所述探测器测量目标光谱信息；温控装置，所述温控装置与所述探测器连接，所述温控装置用于控制所述探测器的温度。2.根据权利要求1所述的光谱测量系统，其特征在于，所述温控装置包括：第一制冷器，所述第一制冷器用于给所述探测器的外部环境降温；第二制冷器，所述第二制冷器用于给所述探测器的内部环境降温；温控芯片，所述第一制冷器与所述第二制冷器均与所述温控芯片电连接。3.根据权利要求2所述的光谱测量系统，其特征在于，所述温控装置包括：第一温度传感器，所述第一温度传感器设于所述探测器外，所述第一温度传感器与所述温控芯片电连接，所述温控芯片设置为基于所述第一温度传感器获取的所述探测器的外部环境温度，控制所述第一制冷器和所述第二制冷器。4.根据权利要求3所述的光谱测量系统，其特征在于，所述温控芯片设置为若所述第一温度传感器获取的所述探测器的外部环境温度低于预设温度阈值时，启动所述第二制冷器。5.根据权利要求2所述的光谱测量系统，其特征在于，所述温控装置还包括：第一驱动电路，所述第一制冷器通过所述第一驱动电路与所述温控芯片电连接，所述第一驱动电路包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：周安萌，
申请(专利权)人：科大讯飞股份有限公司，
类型：新型
国别省市：