一种检测线路结构与检测方法技术

本发明专利技术提供一种快速定位电路断路位置的检测线路结构和检测方法，通过在蛇形电路的两端设置第一级测试点，以及在第一端子和/或第二端子上设置高级测试位的高层级测试点，通过在蛇形电路的两端以及其他测试点接入具有电势差的电压，进行分级测试，能够快速定位出蛇形电路的故障子线路，其测试次数C≤m*n，其中m为单级的高级测试位中高层级测试点的数量；n为高级测试位的级数，提高了测试效率和准确率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种检测线路结构与检测方法


[0001]本专利技术涉及精密电线路设计领域，具体而言，涉及一种检测线路结构与检测方法。

技术介绍

[0002]现有的显示面板、触控面板、柔性线路板(FPC)、覆晶薄膜(chip on film/COF)的电线路设置越来越精密，如图1所示，所述线路结构包括多条电路1，每条电路1包括有主电路10、和端子11，所述端子11位于所述主电路10的两端，通过所述端子11与其他电子器件电连接，但是由于当前线路间距与线宽已经发展到微米级甚至纳米级，线路容易出现断路，以及相邻的线路之间容易出现短路，需要在将产品投入后段生产前对线路结构进行电性能检测，避免有短路或者断路问题的产品流入后段生产工序。行业内通常使用自动光学检测装置(AOI)及精密探针检测装置对上述产品进行线路检测，AOI设备昂贵，测试洁净度要求非常高，但是对于微米级甚至纳米级线路的误判率还是比较高。精密探针检测装置同样价格昂贵，维护困难，而且对所有线路中的各根线路依次进行检测，耗时很长，甚至出现多次对位不准现象，误判率高。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，本专利技术的主要目的在于提供一种检测线路结构与检测方法，以解决现有技术中检测费时，且误判率高的问题。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术提供了一种检测线路结构，包括：多条并排的子线路，每条子线路包括有主线路、第一端子和第二端子，所述第一端子和第二端子分别位于所述主线路的第一端与第二端。本专利技术的检测线路结构与现有的检测线路的差别在于，还包括多条连接线，通过所述连接线交替电连接相邻的两条子线路的两个第一端子和相邻的两条子线路的两个第二端子，形成蛇形连续的电路，也称蛇形电路。
[0005]可选的方案中，在蛇形电路上还设置有可分为数级的测试位，所述测试位包括：第一级测试位与高级测试位，所述第一级测试位包含设于蛇形电路两端的第一级测试点，所述高级测试位包含连接第一端子和/或第二端子的高层级测试点，此处所述高层级测试位包括但不限于第二级测试位。所述第二级测试位中的第二级测试点将第一级测试位点内的蛇形电路分成数片电路区间。
[0006]同理，在具体方案中，还可以将所述相邻的第二级测试点之间的电路由数个第三级测试点分成数片电路区间，以此类推，同一级测试位的相邻的高层级测试点100不断分割成更小的电路区间，直至相邻的高层级测试点连接相邻的第一端子或第二端子。需要说明的是，当子线路的条数比较少的时候，可以仅设置第二级测试点，具体高层级测试点的级数需要根据子线路的条数确定。
[0007]如果蛇形电路中包含的子线路的条数较多，那么可以在相邻的两个第二级测试点中间还设置更高级别的高级测试位，每级的高级测试位中设有数个高层级测试点，以进行更进一步的划分蛇形电路的分组，这样可以能够缩短测试次数。一般地，蛇形电路中的高层
级测试点与线路满足以下关系：S≈m
n
；其中，S为子线路的数量，m为单级的高级测试位中高层级测试点的数量；n为高级测试位的级数，需要说明的是所述高级测试位包括第二级测试位。
[0008]本申请还提供了一种基于上述电路结构用于快速测试电路故障位置的检测方法，包括：
[0009]将两个第一级测试点分别连接第一电源与第二电源，第一电源和第二电源具有电势差，比如使用万用表的两个测试探针分别提供第一电源和第二电源；
[0010]在电路参数异常时，如电流为零时，即确定该蛇形电路中存在断路情况。
[0011]将连接第一级测试点的电源断开后，将相邻的第二级测试点分别连接第一电源与第二电源，在电路参数异常时，即确定该相邻的第二级测试点之间存在断路情况。
[0012]可选地，检测方法还包括：
[0013]检测若干级高层级测试点的检测方法，先将低一级的测试位的相邻的测试点分别连接第一电源与第二电源，以确定电路参数异常的相邻的测试点；其后，将电路参数异常的相邻的测试点之间的高一级测试位中的相邻的测试点分别连接第一电源与第二电源，以确定电路参数异常的高一级测试位中的相邻的测试点，直至确定电路参数异常的子线路。例如，要测试相邻的第三级测试点中故障电路位置，需要先测试所属的相邻的第二级测试点中故障电路位置。
[0014]上述用于快速定位电路断路位置的检测线路结构和检测方法，通过在蛇形电路的两端设置第一级测试点，以及在第一端子和/或第二端子上设置高级测试位的高层级测试点，通过在蛇形电路的两端以及其他测试点接入具有电势差的电压，进行分级测试，能够快速定位出蛇形电路的故障子线路，其测试次数C≤m*n，其中m为单级的高级测试位中高层级测试点的数量；n为高级测试位的级数，提高了测试效率和准确率。
附图说明
[0015]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0016]图1示出了现有的检测线路结构的结构示意图；
[0017]图2示出了本专利技术的检测线路结构的第一实施例的结构示意图
[0018]图3示出了本专利技术的检测线路结构的第二实施例的结构示意图；
[0019]图4示出了本专利技术的检测线路结构的第三实施例的结构示意图。
[0020]其中，上述附图包括以下附图标记：
[0021]1、电路；2、子线路；10、主电路；11、端子；
[0022]20、主线路；21、第一端子；22、第二端子；
[0023]100、高层级测试点；101、第一级测试点；102、第二级测试点；
[0024]103、第三级测试点；104、第四级测试点；200、连接线。
具体实施方式
[0025]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。
[0026]需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
[0027]需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0028]为了实现上述目的，请参考图2至图3，本专利技术提供了一种检测线路结构。
[0029]如图2所示，本实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测线路结构，包括：多条并排的子线路(2)，每条子线路(2)包括有主线路(10)、第一端子(21)和第二端子(22)，所述第一端子(21)和第二端子(22)分别位于所述主线路(10)的第一端与第二端，所述检测线路结构还包括多条连接线(200)，通过所述连接线(200)交替电连接相邻的两条子线路(2)的两个第一端子(21)和相邻的两条子线路(2)的两个第二端子(22)，形成蛇形电路；其特征在于，所述蛇形电路上设置有数级的测试位。2.如权利要求1所述的检测线路结构，其特征在于，所述测试位包括：第一级测试位与高级测试位，所述第一级测试位包含设于蛇形电路两端的第一级测试点(101)，所述高级测试位包含连接第一端子(21)和/或第二端子(22)的高层级测试点(100)。3.如权利要求2所述的检测线路结构，其特征在于，所述高层级测试点(100)与子线路(2)满足以下关系：S≈m
n
；其中，S为子线路(2)的数量，m为单级的高级测试位中高层级测试点(100)的数量；n为高级测试位的级数。4.如权利要求3所述的检测线路结构，其特征在于，所述m与n之间的差值|m
‑
n|≤2。5.如权利要求3所述的检测线路结构，其特征在于，所述m＝n。6.如权利要求1所述的检测线路结构，其特征在于，所述检测电路参数为电阻值...

【专利技术属性】
技术研发人员：李威，周威云，李计考，宋小来，朱泽力，王士敏，
申请(专利权)人：深圳莱宝高科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：