增强型辅助接口测试系统和方法技术方案

本申请提供了增强型辅助接口测试系统和方法。所呈现的实施例促进测试系统中对不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。所呈现的实施例促进测试系统中对不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，增强型辅助接口测试系统包括负载板、测试电子设备、控制器、和存储器映射接口。负载板被配置为与多个被测设备(DUT)耦合。测试电子设备被配置为测试该多个DUT，其中测试电子设备耦合到负载板。控制器被配置为引导对DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备。存储器映射接口被配置为实现多条路径，来访问控制器上的中央处理单元(CPU)并且使得能够并行测试多个DUT。处理单元(CPU)并且使得能够并行测试多个DUT。处理单元(CPU)并且使得能够并行测试多个DUT。

【技术实现步骤摘要】
增强型辅助接口测试系统和方法
[0001]相关申请
[0002]本申请要求于2020年3月31日提交的题为“Enhanced Auxiliary Interface Test systems and Methods(增强型辅助接口测试系统和方法)”(代理所案号ATSY
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0086)的临时申请63/003,013的权益和优先权，该申请通过引用并入本文。


[0003]本专利技术涉及电子测试领域。

技术介绍

[0004]电子系统和设备对现代社会的进步做出了重大贡献，并促进了在各种商业、科学、教育和娱乐应用中的分析和传送信息方面的生产效率的提高和成本的降低。常规的测试系统和方法常常具有各种限制。
[0005]常规的CPU平台(例如，Intel x86架构平台等)通常在输入输出I/O空间上有限制。I/O空间限制继而限制了可以在同一接口上被并行测试的设备的数目。例如，位于PCIe交换机后面的UART设备通常不允许并行使用10或12个以上的设备。

技术实现思路

[0006]所呈现的实施例促进对测试系统中不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实现。在一个实施例中，一种增强型辅助接口测试系统包括负载板、测试电子设备、控制器、和存储器映射接口。负载板被配置为与多个被测设备(DUT)耦合。测试电子设备被配置为测试多个DUT，其中测试电子设备耦合到负载板。控制器被配置为引导对DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备。存储器映射接口被配置为实现多条路径，来访问控制器上的中央处理单元(CPU)并且使得能够并行测试多个DUT。
[0007]在一个实施例中，DUT是具有通用异步接收器
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发送器(UART)UART接口的NVMe设备。DUT可以是PCIe非易失性存储器快速(NVMe)固态驱动器(SSD)。UART增强型辅助接口可被用于调试目的。PCIe NVMe设备可以具有通过PCIe的通用异步接收器
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发送器(UART)辅助接口。该控制器能用于具有多功能设备的测试系统，这些多功能设备可以在针对每CPU具有多个DUT的环境中工作。存储器映射接口通过对FPGA、驱动和用户空间的修改来得到支持。存储器映射接口使得串行总线的数目能够增加到超过控制器的I/O空间地址的限制，这继而使得更多的设备能够至少部分并发或并行地被连接和测试。
[0008]在一个实施例中，一种增强型接口方法包括：将多个DUT耦合到负载板；测试耦合到负载板的多个DUT；配置多条路径，该多条路径用于访问CPU和并行测试多个DUT，其中所述配置利用灵活的增强型辅助接口；以及根据多条路径来引导对多个DUT的测试。在一个实施例中，DUT是具有通用异步接收器
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发送器(UART)UART接口的NVMe设备。引导对多个DUT的测试包括引导调试操作。引导对多个DUT的测试包括提供具有多功能设备的测试系统，这些多功能设备可以在针对每CPU具有多个DUT的环境中工作。配置用于访问CPU的多条路径使
得串行总线的数目能够增加到超过CPU的I/O空间地址的限制。在配置用于访问CPU的多条路径时，新颖的灵活存储器映射接口被利用，而不是受限I/O空间途径。DUT是非易失性存储器快速(NVMe)固态驱动器(SSD)。
[0009]在一个实施例中，一种增强型接口系统包括：负载板，被配置为与多个被测设备(DUT)耦合，其中，这多个DUT是具有通用异步接收器
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发送器(UART)接口的NVMe设备；测试电子设备，被配置为多个DUT，其中该测试电子设备耦合到负载板；控制器，被配置为引导对DUT的测试，其中控制器耦合到测试电子设备；以及灵活的增强型辅助接口，被配置为实现多条路径，来访问控制器上的中央处理单元(CPU)并使得能够并行测试多个NVMe设备。在一个示例性实现方式中，多个NVMe设备通过PCIe实现通用异步接收器
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发送器(UART)UART接口。DUT可以是非易失性存储器快速(NVMe)固态驱动器(SSD)。在一个示例性实现方式中，DUT是PCIe非易失性存储器快速(NVMe)固态驱动器(SSD)。灵活的增强型辅助接口包括存储器映射接口。要被并行测试的DUT的数目不受CPU I/O空间限制约束。灵活的增强型辅助接口提供具有多功能设备的测试系统，这些多功能设备可以在针对每CPU具有多个DUT的环境中工作。
附图说明
[0010]包括附图是为了对本专利技术的原理进行示例性说明，而不是旨在将本专利技术限制于其中所示的特定实现方式，这些附图被并入到本说明书中并形成其一部分。除非另有特别说明，否则附图不是按比例绘制的。
[0011]图1是根据一个实施例的示例性测试环境或系统的框图。
[0012]图2是根据一个实施例的增强型接口系统的框图。
[0013]图3是根据一个实施例的示例性存储器映射的框图。
[0014]图4是根据一个实施例的示例性增强型接口方法的流程图。
[0015]图5是根据一个实施例的示例性测试系统的框图。
[0016]图6是根据一个实施例的示例性测试系统的框图。
[0017]图7是根据一个实施例的另一示例性测试系统的框图。
具体实施方式
[0018]现在将详细参考本专利技术的优选实施例，在附图中示出了这些实施例的示例。虽然本专利技术将结合优选实施例进行描述，但是将理解的是，它们并不旨在将本专利技术限于这些实施例。相反，本专利技术旨在涵盖替换、修改和等同物，所述替换、修改和等同物可以被包括在由所附权利要求书限定的本专利技术的精神和范围内。此外，在本专利技术的以下详细描述中，为了提供对本专利技术的透彻理解，提出了许多具体细节。然而，对于本领域普通技术人员来说明显的是，本专利技术可以在没有这些具体细节的情况下被实践。在其他情况下，未详细描述公知的方法、过程、组件和电路，以免不必要地模糊本专利技术的各方面。
[0019]所呈现的实施例促进对电子设备进行方便且高效的测试。所呈现的系统和方法涉及增强型辅助接口系统和方法，这些增强型辅助接口系统和方法促进对大量被测设备(DUT)进行高效且有效的测试。增强型辅助接口系统和方法在DUT和系统(例如，CPU、计算机系统等)之间提供新颖的通信路径，这些通信路径允许增大的并行度(例如，针对每CPU测试
更多的DUT等)。在一个实施例中，DUT可以是非易失性存储器快速(NVMe)固态驱动器(SSD)。NVMe设备可以具有通用异步接收器
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发送器(UART)辅助接口。在一个实施例中，增强型辅助接口系统和方法包括存储器映射接口方案，以克服I/O空间限制并提高I/O并行度。
[0020]图1是根据一个实施例的示例性增强型辅助接口测试系统100的框图。增强型辅助接口测试环境或系统100包括被测设备(例如，110、111、112等)、负载板120、测试系统130、和用户测试接口140。被测设备(例如110、111、112等)耦合到测试板或负载板120，测试板或负载板120耦本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种增强型辅助接口测试系统，包括：负载板，被配置为与多个被测设备(DUT)耦合；测试电子设备，被配置为测试所述多个DUT，其中所述测试电子设备耦合到所述负载板；控制器，被配置为引导对所述DUT的测试，其中所述控制器耦合到所述测试电子设备；以及存储器映射接口，被配置为实现多条路径，来访问所述控制器上的中央处理单元(CPU)并使得能够并行测试多个DUT。2.如权利要求1所述的增强型辅助接口测试系统，其中，所述DUT是具有通用异步接收器
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发送器(UART)UART接口的NVMe设备。3.如权利要求2所述的增强型辅助接口测试系统，其中，所述NVMe设备具有通过PCIe的UART接口。4.如权利要求1所述的增强型辅助接口测试系统，其中，所述DUT是PCIe非易失性存储器快速(NVMe)固态驱动器(SSD)。5.如权利要求1所述的增强型辅助接口测试系统，其中，所述控制器能用于具有多功能设备的测试系统，所述多功能设备能够在针对每CPU具有多个DUT的环境中工作。6.如权利要求1所述的增强型辅助接口测试系统，其中，所述存储器映射接口是通过对FPGA、驱动和用户空间的修改来得到支持的。7.如权利要求1所述的增强型辅助接口测试系统，其中，所述存储器映射接口使得串行总线的数目能够增加到超过所述控制器的I/O空间地址的限制，所述串行总线的数目的增加继而使得更多的设备能够至少部分并发或并行地被连接和测试。8.一种增强型辅助接口测试方法，包括：将多个DUT耦合到负载板；测试耦合到所述负载板的所述多个DUT；配置多条路径，该多条路径用于访问CPU和并行测试所述多个DUT，其中所述配置利用灵活的增强型辅助接口；以及根据所述多条路径来引导对所述多个DUT的测试。9.如权利要求8所述的增强型辅助接口测试方法，其中，所述DUT是具有通用异步接收器
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发送器(UART)UA...

【专利技术属性】
技术研发人员：元驰，斯德詹，
申请(专利权)人：爱德万测试公司，
类型：发明
国别省市：