广域红外检测结构及红外测温器制造技术

技术编号:30274488 阅读:16 留言:0更新日期:2021-10-09 21:33
本实用新型专利技术公开了广域红外检测结构及红外测温器,其中光宇红外检测结构包括:基体,设置有透光部;第一红外检测单元,设置在基体上;第二红外检测单元,设置在基体上,第一红外检测单元的红外波段检测范围与第二红外检测单元的红外波段检测范围不同或部分重叠;第一分光结构,设置在基体上,第一分光结构能够通过透光部获取外界入射光并且将外界入射光分为第一光路以及第二光路,第一光路照射在第一红外检测单元上,第二光路照射在第二红外检测单元上。第一分光结构将入射光进行分光处理照射在第一红外检测单元与第二红外检测单元上,第一红外检测单元与第二红外检测单元的红外波段检测范围不同或部分重叠,以此提高整体红外波段检测范围。波段检测范围。波段检测范围。

【技术实现步骤摘要】
广域红外检测结构及红外测温器


[0001]本技术涉及红外测温领域,特别涉及广域红外检测结构及红外测温器。

技术介绍

[0002]由于物体的温度与物体向外辐射的红外线存在密切关系,因此可以通过检测物体的红外线达到测温的效果,具有无接触、检测快速等优点。
[0003]现有的红外测温器由于技术限制,对物体同一位置进行检测的红外波段是有限的,例如:单个红外测温器仅能检测红外线长波波段,如8um至14um,长波波段集中检测温度范围为

50℃至510℃;或者单个红外测温器仅能检测红外线短波波段,如0.4um至1.6um,短波波段集中检测温度范围为510℃至3100℃。现有单个红外测温器的红外波段检测范围较窄,难以实现对物体同一位置进行温度范围为

50℃至3100℃的广域红外检测效果,不能满足使用需求。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术提出广域红外检测结构,其通过第一分光结构使得第一红外检测单元与第二红外检测单元均能获取外部物体同一位置的入射光,进而扩大红外波段检测范围,实现广域红外检测的效果。
[0005]本技术还提出红外测温器,其能够扩大对物体同一位置进行红外检测的红外波段范围,实现广域红外检测的效果。
[0006]根据本技术第一方面实施例的广域红外检测结构,包括:基体,设置有透光部;第一红外检测单元,设置在所述基体上;第二红外检测单元,设置在所述基体上,所述第一红外检测单元的红外波段检测范围与所述第二红外检测单元的红外波段检测范围不同或部分重叠;第一分光结构,设置在所述基体上,所述第一分光结构能够通过所述透光部获取外界入射光并且将外界入射光分为第一光路以及第二光路,所述第一光路照射在所述第一红外检测单元上,所述第二光路照射在所述第二红外检测单元上。
[0007]根据本技术实施例的广域红外检测结构,至少具有如下有益效果:基体上的透光部容许外部物体辐射的红外线进入,第一分光结构获取外界入射光,第一分光结构将入射光分为照射在第一红外检测单元上的第一光路以及照射在第二红外检测单元上的第二光路,使得第一红外检测单元与第二红外检测单元能够获取外部物体同一位置辐射的红外线,第一红外检测单元的红外波段检测范围与第二红外检测单元的红外波段检测范围不同或部分重叠,以此能够提高整体红外波段检测范围,有利于满足宽范围的红外波段检测需求,实现广域红外检测的效果。
[0008]根据本技术的一些实施例,所述第一分光结构包括设置在所述基体上的第一分光镜,外界入射光能够通过所述透光部照射在所述第一分光镜上,所述第一分光镜的透光面朝向所述第一红外检测单元,所述第一分光镜的反射面朝向所述第二红外检测单元。
[0009]根据本技术的一些实施例,还包括设置在所述基体上的聚光透镜,所述聚光透镜能够将外界入射光聚焦在所述第一红外检测单元上。
[0010]根据本技术的一些实施例,所述第一红外检测单元与所述第一分光镜中心的距离等于所述第二红外检测单元与所述第一分光镜中心的距离。
[0011]根据本技术的一些实施例,还包括设置在所述基体上的第二分光结构以及可视光发射单元,所述第二分光结构能够将所述可视光发射单元发射可视光的光路与所述第一光路或第二光路重合。
[0012]根据本技术的一些实施例,所述第二分光结构包括设置在所述基体上的第二分光镜,所述第二分光镜与所述第一分光镜平行,所述第二分光镜的反射面朝向所述可视光发射单元,所述第二分光镜的透光面朝向所述第一红外检测单元。
[0013]根据本技术的一些实施例,所述第一红外检测单元与所述第二分光镜中心的距离等于所述可视光发射单元与所述第二分光镜中心的距离。
[0014]根据本技术的一些实施例,还包括设置在所述基体上的第一滤光片以及第二滤光片,所述第一滤光片位于所述第一红外检测单元与所述第一分光镜之间,所述第二滤光片为与所述第二红外检测单元与所述第二分光镜之间。
[0015]根据本技术的一些实施例,所述第二红外检测单元至少有两个,所述第一分光镜至少有两个并且不同所述第一分光镜之间平行,所述第一分光镜的反光面一一对应朝向所述第二红外检测单元,所述第一分光镜的透光面均朝向所述第一红外检测单元,不同所述第二红外检测单元的红外波段检测范围不同或部分重叠。
[0016]根据本技术第二方面实施例的红外温度检测器,包括上述的广域红外检测结构,还包括设置在基体上的处理单元,所述处理单元分别与所述第一红外检测单元以及所述第二红外检测单元连接。
[0017]根据本技术实施例的红外测温器,至少具有如下有益效果:通过第一分光结构对基体上透光部的入射光进行分光处理,使得第一红外检测单元与第二红外检测单元能够获取来自外部物体同一位置辐射的红外线,同时,第一红外检测单元的红外波段检测范围与第二红外检测单元的红外波段检测范围不完全重叠,以此扩大红外波段检测范围,实现广域红外检测的效果,处理单元根据第一红外检测单元与第二红外检测单元的检测信号,能够计算获得外部检测物体的温度值,满足使用需求。
[0018]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0019]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
[0020]图1为本技术其中一种实施例的光路图;
[0021]图2为本技术另中一种实施例的光路图。
具体实施方式
[0022]下面详细描述本技术的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始
至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。
[0023]在本技术的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0024]在本技术的描述中,如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0025]本技术的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。
[0026]如图1和图2所示,根据本技术实施例的广域红外检测结构,包括:基体,设置有透光部;第一红外检测单元100,设置在基体上;第二红外检测单元200,设置在基体上,第本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.广域红外检测结构,其特征在于,包括:基体,设置有透光部;第一红外检测单元(100),设置在所述基体上;第二红外检测单元(200),设置在所述基体上,所述第一红外检测单元(100)的红外波段检测范围与所述第二红外检测单元(200)的红外波段检测范围不同或部分重叠;第一分光结构(300),设置在所述基体上,所述第一分光结构(300)能够通过所述透光部获取外界入射光并且将外界入射光分为第一光路以及第二光路,所述第一光路照射在所述第一红外检测单元(100)上,所述第二光路照射在所述第二红外检测单元(200)上。2.根据权利要求1所述的广域红外检测结构,其特征在于:所述第一分光结构(300)包括设置在所述基体上的第一分光镜(310),外界入射光能够通过所述透光部照射在所述第一分光镜(310)上,所述第一分光镜(310)的透光面朝向所述第一红外检测单元(100),所述第一分光镜(310)的反射面朝向所述第二红外检测单元(200)。3.根据权利要求2所述的广域红外检测结构,其特征在于:还包括设置在所述基体上的聚光透镜(400),所述聚光透镜(400)能够将外界入射光聚焦在所述第一红外检测单元(100)上。4.根据权利要求3所述的广域红外检测结构,其特征在于:所述第一红外检测单元(100)与所述第一分光镜(310)中心的距离等于所述第二红外检测单元(200)与所述第一分光镜(310)中心的距离。5.根据权利要求4所述的广域红外检测结构,其特征在于:还包括设置在所述基体上的第二分光结构(500)以及可视光发射单元(600),所述第二分光结构(500)能够将所述可视光发射单元(600)发射可视光的光路与所述第一光路或第二光路...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗锐华
申请(专利权)人:中山艾亚电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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