试样测定装置及测定试样鉴定方法制造方法及图纸

本发明专利技术的试样测定装置(100)包括：测定部(10)，依照包含多个参数(31)的测定条件(30)进行包含多个成分的试样的测定；以及数据处理部(20)，获取测定数据，数据处理部构成为：基于测定数据(40)来获取与测定条件相应的测定品质指标(42)的分布(43)，并基于测定品质指标的分布以及测定试样时的参数来鉴定测定数据中的各个成分的波峰(41)。各个成分的波峰(41)。各个成分的波峰(41)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试样测定装置及测定试样鉴定方法


[0001]本专利技术涉及一种试样测定装置及测定试样鉴定方法。

技术介绍

[0002]以往，已知有一种试样测定装置。此种试样测定装置例如在日本专利特表2006
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502414号公报中有所公开。
[0003]在日本专利特表2006
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502414号公报中，公开了一种试样测定装置，其包括：将样本分离成多个等分样品(aliquot)(分割单位)的色谱分析组件(chromatography assembly)、获得等分样品各自的质量分析的质量分析组件、对多个等分样品进一步进行分析的紫外线(Ultraviolet，UV)检测组件、以及计算机。
[0004]色谱分析组件包含固定相以及流动相，基于样本中所包含的每个成分对固定相的亲和性与对流动相的亲和性的不同，将样本中所包含的各成分分离。与对流动相的亲和性高的成分相比，对固定相的亲和性高的成分更长时间保持在固定相中。即，色谱分析组件构成为：基于样本中所包含的成分保持在固定相中的时间(保持时间)的差，来将样本分离成多个等分样品。日本专利特表2006
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502414号公报中所记载的装置公开了根据保持时间将样本中所包含的各成分的波峰分离的结构。
[0005][现有技术文献][0006][专利文献][0007]专利文献1：日本专利特表2006
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502414号公报

技术实现思路

[0008][专利技术所要解决的问题][0009]此处，在将试样(样本)中所包含的成分的波峰分离时，在与各成分对应的波峰的位置重叠或者过近的情况下，难以将各个成分分离。因此，虽然在日本专利特表2006
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502414号公报中未记载，但为了将各成分分离，可考虑通过变更分析时的条件来调整波峰的位置。然而，在为了调整波峰的位置而变更了分析条件的情况下，波峰的位置如何变化不明，因此为了鉴定哪个波峰是哪个成分，需要检查者对变更分析条件的前后的实际数据进行比较。在检查者通过对实际数据进行比较来鉴定各成分的情况下，存在视检查者的熟练度而难以进行准确的鉴定的问题。
[0010]本专利技术是为了解决如上所述的问题而成，本专利技术的目的之一在于提供一种无论检查者的熟练度如何均能够鉴定试样中所包含的成分的波峰的试样测定装置及测定试样鉴定方法。
[0011][解决问题的技术手段][0012]为了达成所述目的，本专利技术的第一方面的试样测定装置包括：测定部，依照包含多个参数的测定条件进行包含多个成分的试样的测定；以及数据处理部，基于测定部的输出来获取测定数据，数据处理部构成为：基于测定数据来获取与测定条件相应的测定品质指
标的分布，基于测定品质指标的分布以及测定试样时的参数，来鉴定测定数据中的各个成分的波峰。
[0013]本专利技术的第二方面的测定试样鉴定方法包括：获取依照包含多个参数的测定条件测定包含多个成分的试样而获得的测定数据的步骤；基于测定数据来获取与测定条件相应的测定品质指标的分布的步骤；以及基于测定品质指标的分布以及测定试样时的参数，来鉴定测定数据中的各个成分的波峰的步骤。
[0014][专利技术的效果][0015]在基于本专利技术的第一方面的试样测定装置中，如上所述，包括数据处理部，所述数据处理部基于测定数据来获取与测定条件相应的测定品质指标的分布，并基于测定品质指标的分布以及测定试样时的参数，来鉴定测定数据中的各个成分的波峰。此处，所谓测定品质指标，是在分析装置等中，基于在参数不同的多个测定条件下获得的结果而算出的值。测定品质指标的分布(响应局面)中的设计上容许的参数的范围被确定为设计空间。所谓设计空间，是指不管如何组合选择参数，均获得所容许的测定品质(测定品质得到确保)的参数的范围。因此，通过在设计空间的范围内变更参数，可在确保了测定品质的状态下，进行分析条件的研究。因此，能够基于测定品质指标的分布以及测定试样时的参数，来预测测定数据中的各个成分的波峰的位置，因此即便在变更了测定条件的情况下，也可预测各成分的波峰的位置。其结果，能够基于测定条件来鉴定各成分的波峰，因此无论检查者的熟练度如何，均可鉴定试样中所包含的成分的波峰。
[0016]另外，本专利技术的第二方面的测定试样鉴定方法如上所述，包括基于测定品质指标的分布以及测定试样时的参数，来鉴定测定数据中的各个成分的波峰的步骤。由此，可提供一种与第一方面的试样测定装置同样地，无论检查者的熟练度如何，均能够鉴定试样中所包含的成分的波峰的测定试样鉴定方法。
附图说明
[0017]图1是表示基于一实施方式的试样测定装置的概略的框图。
[0018]图2是表示试样测定装置的结构例的框图。
[0019]图3是表示参数为α的情况下的色谱图的图。
[0020]图4是表示参数为β的情况下的色谱图的图。
[0021]图5是用于说明测定品质指标的图。
[0022]图6是作为测定品质指标的分布的一例示出了保持时间的响应图形的图。
[0023]图7是在图6所示的响应图形的二维显示中例示了设计空间的图。
[0024]图8是用于说明第二成分中的模型式以及第三成分中的模型式的图形。
[0025]图9是将鉴定结果与实际测定试样的测定结果的分布一并显示的示意图。
[0026]图10是用于说明基于试样测定装置的测定试样的鉴定顺序的流程图。
[0027]图11是用于说明基于试样测定装置的设计空间的构建顺序的流程图。
具体实施方式
[0028]以下，基于附图对将本专利技术具体化的实施方式进行说明。
[0029]参照图1～图9，对基于一实施方式的试样测定装置100的结构进行说明。
[0030]试样测定装置100是依照包含多个参数31的测定条件30进行试样的测定，并基于测定结果来获取测定数据40的装置。
[0031]试样测定装置100测定例如包含多个成分的试样，并提供通过测定而获得的测定数据40。试样的测定优选为在能够将多个成分的每一个分离的条件下进行。
[0032]以下，对试样测定装置100的具体例进行说明。
[0033]如图1所示，试样测定装置100包括测定部10以及数据处理部20。试样测定装置100构成为：利用测定部10对试样中的成分进行检测，利用数据处理部20进行测定部10的输出(检测信号)的分析。测定部10构成为进行试样的测定。另外，数据处理部20构成为对测定部10的测定结果(检测信号)进行分析。
[0034]测定部10构成为：基于规定的测定原理，依照包含多个参数31的测定条件30进行包含多个成分的试样的测定。测定原理无特别限定。测定部10至少接收试样，依照测定条件30执行测定动作，并输出反映了试样中的成分的检测信号。测定部10例如为色谱仪。色谱仪具有气相色谱仪、液相色谱仪等多个种类，但无特别限定。此处作为一例，测定部10为图2所示的液相色谱仪。液相色谱仪为使用液体作为搬运试样中成分的流动相，利用物质所具有的性质的不本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种试样测定装置，包括：测定部，依照包含多个参数的测定条件进行包含多个成分的试样的测定；以及数据处理部，基于所述测定部的输出来获取测定数据，所述数据处理部构成为：基于所述测定数据来获取与所述测定条件相应的测定品质指标的分布，基于所述测定品质指标的分布以及测定所述试样时的所述参数，来鉴定所述测定数据中的各个所述成分的波峰。2.根据权利要求1所述的试样测定装置，其中，所述测定部包括色谱仪，所述数据处理部构成为：基于所述测定品质指标的分布，来推定用于鉴定所述测定数据中的各个所述成分的成分鉴定指标，由此鉴定作为所述测定数据的色谱图中的每个所述成分的波峰。3.根据权利要求2所述的试样测定装置，其中，所述成分鉴定指标至少包含所述波峰的保持时间，所述数据处理部构成为：基于所述测定品质指标的分布以及测定所述试样时的所述参数，来推定所述波峰的保持时间，并且基于推测出的所述波峰的保持时间，来鉴定...

【专利技术属性】
技术研发人员：渡辺覚，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：