本实用新型专利技术关于一种探针装置及探针装置组。探针装置具有一针头、一针管、一针尾、及一弹性体，针头及针尾用以接收及送出电流讯号，而弹性体则设置于针管内，并位于针头及针尾之间。其中的针头及针尾各设有电连接部，各电连接部具有凸出块并且与针管的内壁接触，使探针保持连通的状态。于针尾上将尾体设置偏离针管的中心轴延伸线，让探针装置并排使用时，能缩短相邻探针之间的距离，进而适用于更多接脚变化的封装组件。化的封装组件。化的封装组件。
【技术实现步骤摘要】
探针装置及探针装置组
[0001]本技术是关于一种探针，特别是关于一种利用针头及针尾的特殊结构，使探针增加稳定性。
技术介绍
[0002]探针技术于科技产业中属于不可或缺的一环，探针被广泛的使用于电流连接等相关领域，尤其是关于半导体或芯片等高科技组件，而这些组件为了确保良率，皆须经过一些测试及检验等。
[0003]目前市面上的测试方法之一为使用一种半导体测试装置来检测受测物A的导电及相关等数据。如图7及8所示，该测试装置包含针头91、针管92、及针尾94，而针管92内以弹性体95连接针头91及针尾94。当针头91触碰受测物A时，内部的弹性体95被挤压，同时针头91及针尾94偏移并触碰于针管92的内壁93。此时，针尾94接收电流讯号后藉由针管92传至针头91，再由针头91传导至受测物A。然而，现有技术中的针头91及针尾94在偏移时与针管92未能够确实的接触，导致电流讯号的传输不稳定并影响测试的质量，使测试效果不佳的情形发生。
[0004]有鉴于此，提出一种更佳的改善方案，乃为业界亟待解决的问题。
技术实现思路
[0005]本技术的主要目的在于提出一种探针装置，其能保持稳定连通的状态，增加稳定性。
[0006]为达上述目的，本技术所提出的探针装置具有：
[0007]一针管；
[0008]一针头，其能移动地设置于该针管，并具有：
[0009]一针体部，其具有一尖端，该尖端凸出于该针管外；及
[0010]一第一电连接部，其位于该针管内并相邻连接该针体部，该第一电连接部与该针管的内壁接触形成电连接；
[0011]一针尾，其能移动地设置于该针管，并具有：
[0012]一尾体部，其位于该针管外，并能移入该针管内；
[0013]一第二电连接部，其位于该针管内并相邻连接该尾体部，该第二电连接部与该针管的内壁接触形成电连接；
[0014]一弹性体，其位于该针管内，并连接该针头及该针尾。
[0015]如前述的探针装置，该第一电连接部具有一第一凸出块，其相对于该针管的中心轴延伸线为偏心凸出而接触该针管的内壁；且该第二电连接部具有一第二凸出块，其相对于该针管的中心轴延伸线为偏心凸出而接触该针管的内壁。
[0016]如前述的探针装置，该第一凸出块的截面为圆形，且该针管的中心轴延伸线不通过该第一凸出块的圆心；且该第二凸出块的截面为圆形，且该针管的中心轴延伸线不通过
该第二凸出块的圆心。
[0017]如前述的探针装置，该第一凸出块的截面为弓形，且该针管的中心轴延伸线通过该第一凸出块的圆心；且该第二凸出块的截面为弓形，且该针管的中心轴延伸线通过该第二凸出块的圆心。
[0018]如前述的探针装置，该第一电连接部具有一第一连接块，其固设于该针体部与该第一凸出块之间；且该第二电连接部具有一第二连接块，其固设于该尾体部与该第二凸出块之间。
[0019]如前述的探针装置，该第一连接块的直径小于该针管的内径；且该第二连接块的直径小于该针管的内径。
[0020]如前述的探针装置，该尾体部的中心轴延伸线偏离该针管的中心轴延伸线。
[0021]因此，本技术的优点在于，该针头及该针尾与该针管内壁接触。因此在挤压的过程中，该针头及该针尾不需偏移，也能够使电流通过该探装置。
[0022]本技术更提出一种探针装置组，其具有如前述的二探针装置，且各该探针装置的该尾体部的中心轴延伸线偏离该针管的中心轴延伸线；该二个探针装置中，该二针管的中心轴延伸线的间距大于该二尾体部的中心轴延伸线的间距。
附图说明
[0023]图1为本技术的探针装置的第一实施例的剖面示意图。
[0024]图2为本技术的探针装置的第一实施例的针头及针尾的放大图。
[0025]图3为本技术的探针装置的第二实施例的剖面示意图。
[0026]图4为本技术的探针装置的第二实施例的针头及针尾的放大图。
[0027]图5为本技术的探针装置组的剖面示意图。
[0028]图6为本技术的探针装置组的针头及针尾的放大图。
[0029]图7为先前技术的剖面示意图。
[0030]图8为先前技术的使用状态剖面示意图。
[0031]10,91:针头
[0032]11:针体部
[0033]111:尖端
[0034]12,12A:第一电连接部
[0035]121,121A:第一凸出块
[0036]122,122A:第一连接块
[0037]20,92:针管
[0038]21,93:内壁
[0039]30,94:针尾
[0040]31,31B:尾体部
[0041]32,32A:第二电连接部
[0042]321,321A:第二凸出块
[0043]322,322A:第二连接块
[0044]40,95:弹性体
[0045]A:受测物
具体实施方式
[0046]以下配合图式及本技术的较佳实施例，进一步阐述本技术为达成预定技术目的所采取的技术手段。
[0047]首先请参考图1及图2，本技术提供一种探针装置，其用以测试芯片、电路板等电子产品的良率的探针装置。
[0048]本技术的第一实施例中，探针装置具有一针头10、一针管20、一针尾30、及一弹性体40。针头10能于针管20内移动并具有一针体部11及一第一电连接部12。针体部11具有一尖端111并凸出于针管20外，尖端111选择性地与受测物A接触，而当尖端111与受测物A接触时，电流便能由探针装置传至受测物A或者由受测物A传至探针装置。第一电连接部12位于针管20内并具有一第一凸出块121及一第一连接块122。第一凸出块121相对于针管20的中心轴延伸线为偏心凸出而接触针管20的内壁21，借此第一凸出块121与针管20的内壁21接触形成电连接，并使电流能够于针头10及针管20之间流动。第一连接块122固设于针体部11与第一凸出块121之间，但由于第一连接块122的直径小于针管20的内径，且第一连接块122的中心位于针管20的中心轴延伸在线，因此第一连接块122则不与针管20接触。
[0049]针尾30能移动地设置于针管20，并具有一尾体部31及一第二电连接部32。尾体部31位于针管20外并于受挤压时能移入针管20内，而第二电连接部32位于针管20内并相邻连接尾体部31。第二电连接部32具有一第二凸出块321及一第二连接块322。第二凸出块321相对于针管20的中心轴延伸线为偏心凸出而接触针管20的内壁21，并与针管20的内壁21接触形成电连接。第二连接块322固设于尾体部31与第二凸出块321之间，而第二连接块322的直径小于针管20的内径，且其中心位于针管20的中心轴延伸在线，因此第二连接块322则不与针管20接触。
[0050]于第一实施例中，第一凸出块121的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种探针装置，其特征在于，该探针装置具有：一针管；一针头，其能移动地设置于该针管，并具有：一针体部，其具有一尖端，该尖端凸出于该针管外；及一第一电连接部，其位于该针管内并相邻连接该针体部，该第一电连接部与该针管的内壁接触形成电连接；一针尾，其能移动地设置于该针管，并具有：一尾体部，其位于该针管外，并能移入该针管内；一第二电连接部，其位于该针管内并相邻连接该尾体部，该第二电连接部与该针管的内壁接触形成电连接；一弹性体，其位于该针管内，并连接该针头及该针尾。2.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于：该第一电连接部具有一第一凸出块，其相对于该针管的中心轴延伸线为偏心凸出而接触该针管的内壁；且该第二电连接部具有一第二凸出块，其相对于该针管的中心轴延伸线为偏心凸出而接触该针管的内壁。3.根据权利要求2所述的探针装置，其特征在于：该第一凸出块的截面为圆形，且该针管的中心轴延伸线不通过该第一凸出块的圆心；且该第二凸出块的截面为圆形，且该针管的中心轴延伸线不通过该第二凸出块的圆心。4.根据权利要求2所述的探针装置，其特征在于：该第一凸出块的截面为半圆形，且该针管的...
【专利技术属性】
技术研发人员：林合茂，
申请(专利权)人：精贺科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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