用于射频器件的调试组件与滤波器制造技术

本申请公开一种用于射频器件的调试组件与滤波器，用于射频器件的调试组件包括盖板与调试杆件。盖板具有贯穿的螺孔。调试杆件包括固定套件与调试杆，固定套件具有多个螺纹件与环体，多个螺纹件间隔设置于环体，调试杆穿过环体，多个螺纹件螺合于螺孔，多个螺纹件朝向调试杆紧迫固定。又，滤波器的容置槽内具有谐振杆。其中盖板盖住容置槽，螺孔对应谐振杆，调试杆通过固定套件维持相对于谐振杆的高度位置，调试杆可于固定套件内上、下移动调整高度位置。本申请的固定套件可维持调试杆相对于盖板的高度位置，使用者可直接调整调试杆于固定套件内上、下移动。固定套件与调试杆之间为平整接触面，不容易因为移动发生磨损，而产生碎屑影响谐振杆。屑影响谐振杆。屑影响谐振杆。

【技术实现步骤摘要】
用于射频器件的调试组件与滤波器


[0001]本申请涉及射频结构的
，尤其涉及一种用于射频器件的调试组件与滤波器。

技术介绍

[0002]于现有技术中，腔体滤波器的谐振杆设置于腔体内，腔体的顶部具有盖板，调节螺杆螺设于盖板，并调节螺杆一端穿过盖板而位于谐振器内。调节螺杆通过螺纹的上、下旋转的方式调整位置，使用者能够依据需求调整调节螺杆一端位于谐振器内的高度位置，进而改变谐振频率。然，调节螺杆与盖板在调整旋转的过程中，其容易产生摩擦的碎屑，而碎屑会落入谐振杆内，进而影响滤波器的谐振频率的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种用于射频器件的调试组件，可以有效解决目前调节螺杆与盖板在调整旋转的过程产生摩擦的碎屑，进而影响用于射频器件的调试组件的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：
[0005]第一方面提供了一种用于射频器件的调试组件，其包括盖板与调试杆件。外壳具有容置槽。盖板具有贯穿的螺孔。调试杆件包括固定套件与调试杆，固定套件具有多个螺纹件与环体，多个螺纹件间隔设置于环体，调试杆穿过环体，多个螺纹件螺合于螺孔，多个螺纹件朝向调试杆紧靠维持固定。
[0006]在其中一个实施例中，调试杆与环体的互相接触的表面为平整面。
[0007]在其中一个实施例中，每一个螺纹件的外侧为螺纹面，内侧为平整面。
[0008]在其中一个实施例中，固定套件的多个螺纹件相对于环体具有可弯折性。
[0009]在其中一个实施例中，环体具有环口，环口的口径相同于或大于调试杆的外径。
[0010]在其中一个实施例中，环体具有环口，多个螺纹件沿着环口设置。
[0011]在其中一个实施例中，环体的外径大于螺孔的孔径。
[0012]在其中一个实施例中，调试杆可朝向谐振杆伸缩固定。
[0013]第二方面提供了具有第一方面所述用于射频器件的调试组件的滤波器，其包括外壳与谐振杆。外壳具有容置槽。谐振杆设置于容置槽内，其中盖板盖住容置槽，螺孔对应谐振杆，调试杆通过固定套件维持相对于谐振杆的高度位置，调试杆可于固定套件内上、下移动调整高度位置。
[0014]在其中一个实施例中，多个螺纹件是朝向所述谐振杆的方向延伸。
[0015]在其中一个实施例中，固定套件位于盖板的一侧，谐振杆位于盖板的另一侧，固定套件的多个螺纹件朝向谐振杆的方向与盖板的螺孔螺合。
[0016]在本申请实施例中，其通过固定套件螺合于盖板的螺孔，固定套件可维持调试杆相对于盖板的高度位置，不受到外力作用下的调试杆不会产生位移。当使用者需要调整调试杆相对于盖板的高度位置时，使用者只要施力大于多个螺纹件对于调试杆维持固定的作
用力，使用者可直接调整调试杆于固定套件内上、下移动。同时，由于固定套件与调试杆之间的固定接触面是平整面，调试杆因为上下移动造成固定套件与调试杆之间的固定接触面产生摩擦时，其不容易产生摩擦碎屑，如此可以避免因为调整调试杆的高度而产生摩擦碎屑的问题。
附图说明
[0017]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施方式及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0018]图1是本申请的盖板与调试杆件的结构组合示意图；
[0019]图2是本申请的盖板与调试杆件的结构分解示意图；
[0020]图3是本申请的用于射频器件的调试组件的剖视示意图；
[0021]图4是本申请的固定套件的示意图；以及
[0022]图5是本申请的固定套件的另一示意图。
具体实施方式
[0023]以下将以图式揭露本申请的多个实施方式，为明确说明起见，许多实施上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实施上的细节不应用以限制本申请。也就是说，在本申请的部分实施方式中，这些实施上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单的示意的方式绘示。在以下各实施例中，将以相同的标号表示相同或相似的组件。
[0024]请参阅图1与图2，图1是本申请的盖板与调试杆件的结构组合示意图与图2是结构分解示意图。如图所示，本实施方式提供一种用于射频器件的调试组件1，其可用于射频结构，如滤波器、双工器、合路器、塔顶放大器等。用于射频器件的调试组件1包括盖板11与调试杆件13。盖板11具有贯穿的螺孔110。调试杆件13包括固定套件131与调试杆133，固定套件131具有多个螺纹件1311与环体1313，多个螺纹件1311间隔设置于环体1313，调试杆133穿过环体1313，多个螺纹件1311螺合于螺孔110，多个螺纹件1311朝向调试杆133紧靠维持固定。
[0025]承上所述，固定套件131与盖板11的螺孔110的互相接触面为螺纹面，固定套件131螺合于盖板11的螺孔110。固定套件131的环体1313的外径大于螺孔110的孔径，如此限制固定套件131螺合于螺孔110内的深度。又，固定套件131与调试杆133互相接触的表面为平整面，即螺纹件1311的内侧与环体1313的内侧接触于调试杆133的表面皆为平整面，螺纹件1311的外侧为螺纹面。又，环体1313具有环口1314，环口1314的口径相同于或大于调试杆133的外径，多个螺纹件1311沿着环口1314的边缘设置。固定套件131的多个螺纹件1311相对于环体1313具有可弯折性。
[0026]于本实施方式中，先将固定套件131的多个螺纹件1311螺合于盖板11的螺孔110，固定套件131的多个螺纹件1311会受到螺孔110的影响，使多个螺纹件1311会相对于环体1313向内弯折，多个螺纹件1311彼此集中抵靠，使多个螺纹件1311内侧的平整面互相靠近，即多个螺纹件1311的彼此间隙缩小，螺纹件1311围住的空间也变小。使用者未完全旋紧固定套件131于螺孔110内，调试杆133可容易穿设过固定套件131的环体1313与多个螺纹件
1311之间。将调试杆133移动至相对于盖板11的适当高度位置后，再旋紧固定套件131，多个螺纹件1311与螺孔110螺合，使多个螺纹件1311的平整面能够紧靠固定调试杆133的表面，环体1313抵靠于盖板11的表面以能够限制固定套件131的位移；其中，多个螺纹件1311通过摩擦力能够维持调试杆133的高度位置，换言之，调试杆133于不受外力作用的情况下，并不会因为调试杆133本身的重量而导致松脱位移。
[0027]在其他实施方式中，调试杆133先套设于固定套件131内，使用者在将调试杆133与固定套件131一起装入盖板11的螺孔110中，再旋紧固定套件131，使多个螺纹件1311与螺孔110螺合以夹持调试杆133，使维持调试杆133的高度位置，其中，调试杆133与固定套件131装入螺孔110的方向，能够依据使用者需求调整。
[0028]又，固定套件131可维持调试杆133相对于盖板11的高度位置，不受到外力作用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于射频器件的调试组件，其特征在于，包括：盖板，具有贯穿的螺孔；以及调试杆件，其包括固定套件与调试杆，所述固定套件具有多个螺纹件与环体，所述多个螺纹件间隔设置于所述环体，所述调试杆穿过所述环体，所述多个螺纹件螺合于所述螺孔，所述多个螺纹件朝向所述调试杆紧靠维持固定。2.如权利要求1所述的用于射频器件的调试组件，其特征在于，所述固定套件与所述调试杆互相接触的表面为平整面。3.如权利要求1所述的用于射频器件的调试组件，其特征在于，每一个所述螺纹件的内侧为平整面，外侧为螺纹面。4.如权利要求1所述的用于射频器件的调试组件，其特征在于，所述固定套件的所述多个螺纹件相对于所述环体具有可弯折性。5.如权利要求1所述的用于射频器件的调试组件，其特征在于，所述环体具有环口，所述环口的口径相同于或大于所述调试杆的外径。6.如权利要求1所述的用于射频器件的调试组件，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋振国，高贵平，孙兴华，
申请(专利权)人：昆山立讯射频科技有限公司，
类型：新型
国别省市：