磁共振扫描方法及系统、计算机可读存储介质技术方案

技术编号:30240337 阅读:67 留言:0更新日期:2021-10-09 20:17
本发明专利技术的实施例提供一种磁共振扫描方法和系统,以及计算机可读存储介质。该方法包括:在对象的成像体积处于当前位置时,基于预测的当前位置处的总B0场图对该成像体积执行当前的成像扫描。的成像扫描。的成像扫描。

【技术实现步骤摘要】
磁共振扫描方法及系统、计算机可读存储介质


[0001]本专利技术公开的实施例涉及医学成像技术,更具体地涉及一种用于磁共振扫描方法及系统、计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]磁共振成像(MRI)作为一种医学成像模态,可以在不使用X射线或其他电离辐射的情况下获得人体的图像。MRI利用具有强磁场的磁体来产生静磁场B0。当将患者的待成像部位定位于静磁场B0中时,与待成像部位的组织中的氢原子核(或其它核素)相关联的核自旋产生极化,使待成像部位的组织在宏观上产生纵向磁化矢量。当施加与静磁场B0的方向相交的射频场B1后,质子旋转的方向发生改变,使待成像部位的组织在宏观上产生横向磁化矢量。移除射频场B1后,横向磁化矢量以螺旋状进行衰减直至恢复为零,衰减的过程中产生自由感应衰减信号,该自由感应衰减信号能够作为磁共振信号被采集,并基于采集的该信号可以重建待成像部位的组织图像。
[0003]为保证磁共振图像质量,通常要求静磁场B0具有较好的均匀性。特别是,基于不同的成像目的具有多种应用,其中一些应用对于静磁场B0的均匀性有着非常高的敏感度,也就是说,在这些应用中,静磁场B0的非均匀性会对成像效果产生更大的影响。这些应用包括,例如EPI(Echo Planar Image,平面回波成像)。
[0004]通常在磁共振设备安装或定期维护的过程中会进行B0场的匀场校准,校准后的静磁场B0被认为具有较高的均匀性,然而在对患者进行扫描的过程中,患者身体引起的介电效应通常会对静磁场B0产生不同程度的扰动,使得B0场的均匀度下降,影响图像质量。这样的扰动程度还会由于患者所处的位置的改变而改变,因此,在对患者进行成像扫描的过程中,首先需要通过扫描获取当前扫描位置处的总B0场图,而当支撑床承载患者从当前扫描位置移动到另一个扫描位置时,如果继续使用之前获取的总B0场图,则可能会由于总B0场图不够准确带来一些图像质量位置,否则,需要再次通过扫描获取该另一个扫描位置处的总B0场图,这种方式又会增加患者的扫描时间。

技术实现思路

[0005]本专利技术的一个实施例提供了一种磁共振扫描方法,包括:
[0006]在对象的成像体积处于当前位置时,基于预测的当前位置处的总B0场图对所述成像体积执行当前的成像扫描。
[0007]可选地,所述预测的总B0场图是基于背景B0场图以及先前成像扫描中所述成像体积所在的先前位置处的总B0场图得到的。
[0008]可选地,执行当前的成像扫描包括:基于所述预测的当前位置处的总B0场图获取当前的成像扫描的匀场值。
[0009]可选地,执行当前的成像扫描包括:基于前的成像扫描的匀场值调整所述当前的成像扫描的扫描参数。
[0010]可选地,所述先前位置处的总B0场图是基于所述先前成像扫描中对所述成像体积执行的B0场扫描获得的。
[0011]可选地,所述背景B0场图包括所述先前位置处的背景B0场图和所述当前位置处的背景B0场图,所述预测的总B0场图是基于所述当前位置处的背景B0场图、所述先前位置处的扰动B0场图以及所述先前位置处的背景B0场图预测的,其中,所述先前位置处的扰动B0场图是基于所述先前位置处的总B0场图和先前位置处的背景B0场图得到的。
[0012]可选地,所述先前位置包括所述成像体积的预设层所在的第一位置,所述当前位置包括所述预设层所在的第二位置,所述预测的总B0场图包括所述第二位置处的总B0场图,所述方法还包括以下步骤以得到预测的总B0场图:
[0013]获取所述成像体积的预设层在第一位置时该第一位置处的总B0场图和第一位置处的扰动B0场图,其中,所述第一位置处的扰动B0场图是所述第一位置处的总B0场图与第一位置处的背景B0场图之差;以及,
[0014]预测所述预设层在所述第二位置时所述第二位置处的总B0场图,所述预测是基于所述第一位置处的扰动B0场图、所述第一位置处的背景B0场图以及第二位置处的背景B0场图进行的。
[0015]可选地,所述预测包括:
[0016]获取与所述预设层相关的关系系数,其中所述关系系数是基于所述第一位置处的扰动B0场图和第一位置处的背景B0场图获取的;
[0017]将所述关系系数关联至所述第二位置处的背景B0场图以获取所述第二位置处的扰动B0场图;
[0018]基于所述第二位置处的扰动B0场图和第二位置处的背景B0场图计算所述第二位置处的总B0场图。
[0019]可选地,所述预测包括:将所述第二位置处的扰动B0场图和第二位置处的背景B0场图相加以获得所述第二位置处的总B0场图。
[0020]可选地,所述关系系数包括与所述第一位置处的扰动B0场图和第一位置处的背景B0场图之间的线性关系相关的系数。
[0021]可选地,所述关系系数包括所述线性关系中的斜率值。
[0022]可选地,所述先前位置还包括所述成像体积的预设层所在的第三位置,所述方法还包括以下步骤以得到预测的总B0场图:
[0023]获取所述预设层在第三位置时该第三位置处的总B0场图和扰动B0场图,其中,所述第三位置处的扰动B0场图是所述第三位置处的总B0场图与第三位置处的背景B0场图之差;以及,
[0024]基于所述第一位置处的扰动B0场图、第一位置处的背景B0场图、所述第三位置处的扰动B0场图、第三位置处的背景B0场图以及所述第二位置处的背景B0场图预测所述预设层在所述第二位置时所述第二位置处的总B0场图。
[0025]可选地,所述关系系数是基于所述第一位置处的扰动B0场图、第一位置处的背景B0场图、第三位置处的扰动B0场图和第三位置处的背景B0场图获得的,所述关系系数还包括所述线性关系中的截距值。
[0026]可选地,获取所述关系系数包括:基于所述第一位置处的扰动B0场图的多个扰动
B0场场强和所述第一位置处的背景B0场图中相应的多个背景B0场场强获取与所述预设层的多个像素点相关的多个关系系数,所述预测包括:基于所述多个关系系数和所述第二位置处的背景B0场图中相应的多个背景B0场场强计算在所述第二位置处的多个扰动B0场场强,并基于第二位置处的所述多个背景B0场场强和所述第二位置处的所述多个扰动B0场场强计算第二位置处的多个总B0场场强。
[0027]可选地,该方法还包括:
[0028]对所述先前位置处的总B0场图进行低通滤波以获取背景B0场参考图;
[0029]判断所述背景B0场参考图与背景B0场图之差是否小于第一预设值,若否,发出警告信息。
[0030]可选地,该方法还包括:
[0031]获取与所述成像体积所在的身体部位相关的背景B0场标准图;
[0032]基于所述背景B0场标准图对所述背景B0场图进行校准以获取背景B0场校准图;
[0033]对所述先前位置处的总B0场图进行低通滤波以获取背景B0场参考图;
[0034]判断所述背景B0场参考图与所述背景B0场校准图之间的差异是否小于第二预设值,若是,将所述本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁共振扫描方法,包括:在对象的成像体积处于当前位置时,基于预测的当前位置处的总B0场图对所述成像体积执行当前的成像扫描。2.如权利要求1所述的扫描方法,其中,所述预测的总B0场图是基于背景B0场图以及先前成像扫描中所述成像体积所在的先前位置处的总B0场图得到的。3.如权利要求1所述的扫描方法,其中,执行当前的成像扫描包括:基于所述预测的当前位置处的总B0场图获取当前的成像扫描的匀场值。4.如权利要求3所述的扫描方法,其中,执行当前的成像扫描包括:基于当前的成像扫描的匀场值调整所述当前的成像扫描的扫描参数。5.如权利要求2所述的扫描方法,其中,所述先前位置处的总B0场图是基于所述先前成像扫描中对所述成像体积执行的B0场扫描获得的。6.如权利要求2所述的扫描方法,其中,所述背景B0场图包括所述先前位置处的背景B0场图和所述当前位置处的背景B0场图,所述预测的总B0场图是基于所述当前位置处的背景B0场图、所述先前位置处的扰动B0场图以及所述先前位置处的背景B0场图预测的,其中,所述先前位置处的扰动B0场图是基于所述先前位置处的总B0场图和先前位置处的背景B0场图得到的。7.如权利要求6所述的方法,其中,所述先前位置包括所述成像体积的预设层所在的第一位置,所述当前位置包括所述预设层所在的第二位置,所述预测的总B0场图包括所述第二位置处的总B0场图,所述方法还包括以下步骤以得到预测的总B0场图:获取所述成像体积的预设层在第一位置时该第一位置处的总B0场图和第一位置处的扰动B0场图,其中,所述第一位置处的扰动B0场图是所述第一位置处的总B0场图与第一位置处的背景B0场图之差;以及,预测所述预设层在所述第二位置时所述第二位置处的总B0场图,所述预测是基于所述第一位置处的扰动B0场图、所述第一位置处的背景B0场图以及第二位置处的背景B0场图进行的。8.如权利要求7所述的方法,其中,所述预测包括:获取与所述预设层相关的关系系数,其中所述关系系数是基于所述第一位置处的扰动B0场图和第一位置处的背景B0场图获取的;将所述关系系数关联至所述第二位置处的背景B0场图以获取所述第二位置处的扰动B0场图;基于所述第二位置处的扰动B0场图和第二位置处的背景B0场图计算所述第二位置处的总B0场图。9.如权利要求8所述的方法,其中,所述预测包括:将所述第二位置处的扰动B0场图和第二位置处的背景B0场图相加以获得所述第二位置处的总B0场图。10.如权利要求9所述的方法,其中,所述关系系数包括与所述第一位置处的扰动B0场图和第一位置处的背景B0场图之间的线性关系相关的系数。11.如权利要求10所述的方法,所述关系系数包括所述线性关系中的斜率值。12.如权利要求10所述的方法,其中,所述先前位置还包括所述成像体积的预设层所在的第三位置,所述方法还包括以下步骤以得到预测的总B0场图:
获取所述预设层在第三位置时该第三位置处的总B0场图和扰动B0场图,其中,所述第三位置处的扰动B0场图是所述第三位置处的总B0场图与第三位置处的背景B0场图之差;以及,基于所述第一位置处的扰动B0场图、第一位置处的背景B0场图、所述第三位置处的扰动B0场图、第三位置处的背景B0场图以及所述第二位置处的背景B0场图预测所述预...

【专利技术属性】
技术研发人员:靳丽媛葛雅安鹿麒麟戴擎宇王坤
申请(专利权)人:通用电气精准医疗有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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