一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置制造方法及图纸

技术编号:30197989 阅读:23 留言:0更新日期:2021-09-29 08:49
本实用新型专利技术公开了一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,包括粒度仪本体,所述粒度仪本体的下端固定安装有粒度仪底座,所述粒度仪底座等距分布于粒度仪本体的下端,所述粒度仪本体的中部固定安装有测试箱体,所述测试箱体前端的上端固定安装有弧形注料台,所述弧形注料台的上端固定设置有落砂注料口,所述粒度仪本体左端的前端固定安装有数控操作面板,所述测试箱体上端的中部固定安装有弧形盖板。该落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,采用多个落砂均匀分离管可以均匀的分离落砂,落砂分离落在托盘上,便于进行更加细致化的检测工作,还可以配合相关的计算机软件进行颗粒形状、整体分布等属性的计算,使得该装置的检测能力得到进一步的提高。一步的提高。一步的提高。

【技术实现步骤摘要】
一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置


[0001]本技术涉及粒度仪
,具体为一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置。

技术介绍

[0002]粒度仪可分为纳米粒度仪,激光粒度仪,单颗粒光阻法粒度仪和图像粒度仪等,粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器,根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等,颗粒图像仪对颗粒拍照后将图片分析处理,可以测量颗粒形貌,通过此方法可实现原位实时在线测量,颗粒图像仪拥有静态、动态两种测试方法。
[0003]现有的颗粒图像仪使用改装的显微镜系统,配合高清晰摄像机,配合相关的计算机软件可进行颗粒大小、形状等属性的计算,并可以将测试结果输出为报告,这种方式只能对颗粒整体进行研究,而不能均匀的、针对性的进行测试工作,现有的颗粒图像仪不具备均匀分配落砂的功能,而在导入落砂时,对于不同规格的落砂,可能出现卡塞等情况,导致测试出现故障。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,以解决上述背景本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,包括粒度仪本体(1),其特征在于:所述粒度仪本体(1)的下端固定安装有粒度仪底座(2),所述粒度仪底座(2)等距分布于粒度仪本体(1)的下端,所述粒度仪本体(1)的中部固定安装有测试箱体(3),所述测试箱体(3)前端的上端固定安装有弧形注料台(4),所述弧形注料台(4)的上端固定设置有落砂注料口(5),所述粒度仪本体(1)左端的前端固定安装有数控操作面板(6),所述测试箱体(3)上端的中部固定安装有弧形盖板(7)。2.根据权利要求1所述的一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,其特征在于:所述弧形盖板(7)位于落砂注料口(5)的上方,所述弧形盖板(7)的下端固定安装有防漏气橡胶塞(8),所述防漏气橡胶塞(8)与落砂注料口(5)相适配,所述落砂注料口(5)的下端固定安装有落砂传导管(9),所述落砂传导管(9)与落砂注料口(5)固定连接。3.根据权利要求2所述的一种落砂均匀的图像法粒度仪检测装置,其特征在于:所述落砂传导管(9)的下端固定安装有传导延伸管(10),所述传导延伸管(10)的内部固定设置有落砂分离口(11),所述落砂分离口(11)等距分布于传导延伸管(10)的内部,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:柳钟丽杨涛赵小虎
申请(专利权)人:苏州胤煌精密仪器科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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