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一种用于辅助电子天平检定的检定平台制造技术

技术编号:30152679 阅读:23 留言:0更新日期:2021-09-25 15:02
本实用新型专利技术涉及电子天平检定技术领域,且公开了一种用于辅助电子天平检定的检定平台,包括检定平台、支撑轴以及U形板,所述检定平台的内部开设有固定槽,所述固定槽的内部固定设有半圆固定块,所述半圆固定块的上表面固定设有蜗轮,所述半圆固定块的两端均固定连接有半圆固定板,所述U形板的两端内部通过第一轴承转动连接有蜗杆,所述蜗杆的左端穿过U形板的内部,且其左端杆壁上开设有限位槽,所述U形板的左端固定设有限位机构,所述U形板的上端固定设有电子天平,所述U形板的下端固定设有水平仪。本实用新型专利技术能够将电子天平整体调整至水平状态,从而能够避免电子天平在使用过程中出现测量误差。现测量误差。现测量误差。

【技术实现步骤摘要】
一种用于辅助电子天平检定的检定平台


[0001]本技术涉及电子天平检定
,尤其涉及一种用于辅助电子天平检定的检定平台。

技术介绍

[0002]人们把用电磁力平衡被称物体重力的天平称为电子天平,其特点是称量准确可靠、显示快速清晰并且具有自动检测系统、简便的自动校准装置以及超载保护等装置,电子天平在使用一段时间后需要对其进行检定。
[0003]现有的用于辅助电子天平检定的检定平台无法保障其本身一直处于水平状态,若电子天平放置在倾斜的检定平台上,会影响电子天平的检定结果,从而会降低电子天平本身的精准性,因此,本技术设计了一种用于辅助电子天平检定的检定平台。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中用于辅助电子天平检定的检定平台无法保障其本身一直处于水平状态,若电子天平放置在倾斜的检定平台上,会影响电子天平的检定结果,从而会降低电子天平本身的精准性的问题,而提出的一种用于辅助电子天平检定的检定平台。
[0005]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:
[0006]一种用于辅助电子天平检定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于辅助电子天平检定的检定平台,包括检定平台(1)、支撑轴(2)以及U形板(3),其特征在于,所述检定平台(1)的内部开设有固定槽,所述固定槽的内部固定设有半圆固定块(4),所述半圆固定块(4)的上表面固定设有蜗轮(5),所述半圆固定块(4)的两端均固定连接有半圆固定板(6),所述U形板(3)的两端内部通过第一轴承转动连接有蜗杆(7),所述蜗杆(7)的左端穿过U形板(3)的内部,且其左端杆壁上周向开设有限位槽,所述U形板(3)的左端固定设有限位机构,所述U形板(3)的上端固定设有电子天平(8),所述U形板(3)的下端固定设有水平仪(9)。2.根据权利要求1所述的一种用于辅助电子天平检定的检定平台,其特征在于,所述限位机构包括固定块(10)、螺纹转杆(11)以及弧形压块(12),所述固定块(10)固定于U形板(3)的左端,所述螺纹转杆(11)螺纹连接于固定块(10)的内部,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:何祖娟
申请(专利权)人:何祖娟
类型:新型
国别省市:

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