一种紫外LED封装胶质量的评估方法技术

本发明专利技术提供一种紫外LED封装胶质量的评估方法，包括如下步骤：A1，提供多组实验组，每组实验组均设置标有刻度尺的透明容器，在每组实验组的透明容器内倒入相同高度的透明胶，且多组实验组的透明容器内的透明胶均不相同；A2，待透明胶平稳后，往每组实验组的透明容器的透明胶表面放置相同的荧光粉颗粒；A3，同时加热多组实验组的透明胶；A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒在相同温度下不同时间段的沉降位置，得到同一组实验组中的荧光粉颗粒的沉降速率；A5，对比不同实验组之间荧光粉颗粒的沉降速率，沉降速率越低代表采用这组实验组的透明胶进行制备的封装胶质量越好。实现快速评估和选择哪种透明胶最适合制备紫外LED的封装胶。择哪种透明胶最适合制备紫外LED的封装胶。择哪种透明胶最适合制备紫外LED的封装胶。

【技术实现步骤摘要】
一种紫外LED封装胶质量的评估方法


[0001]本专利技术涉及紫外LED封装工艺领域，具体涉及一种紫外LED封装胶质量的评估方法。

技术介绍

[0002]现有比较普遍运用的白光光源是通过蓝光芯片激发荧光粉形成白光，由于蓝光的生物性危害，影响人的生理健康，现市场采用紫外芯片替代传统蓝光芯片激发荧光粉做照明灯珠，已经得到广泛使用。
[0003]紫外芯片激发荧光粉的方案，能减少蓝光的危害，且特定场合中还能起到杀菌作用。但因紫外LED芯片对荧光粉的激发效率较低，荧光粉分布不均直接影响着产品的良率。
[0004]而在实际生产中，点胶工序，无法及时将点胶后的产品第一时间送入烤箱烘烤，造成荧光粉第一次沉淀，且进入烤箱加热后，胶体流动性增强，增加了荧光粉的沉淀速度，造成第二次沉降；荧光粉的沉降使得荧光粉分布不均，进而影响紫外灯珠产品的打靶集中性。因此，需要提供一个能够快速评估紫外LED封装胶质量的方法。

技术实现思路

[0005]为此，本专利技术为解决上述问题，提供一种紫外LED封装胶质量的评估方法。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供的技术方案如下：
[0007]一种紫外LED封装胶质量的评估方法，包括如下步骤：
[0008]A1，提供多组实验组，每组实验组均设置标有刻度尺的透明容器，在每组实验组的透明容器内倒入相同高度的透明胶，且多组实验组的透明容器内的透明胶均不相同；
[0009]A2，待透明胶平稳后，往每组实验组的透明容器的透明胶表面放置相同的荧光粉颗粒；
[0010]A3，同时加热多组实验组的透明胶；
[0011]A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒在相同温度下不同时间段的沉降位置，得到同一组实验组中的荧光粉颗粒的沉降速率；
[0012]A5，对比不同实验组之间荧光粉颗粒的沉降速率，沉降速率越低代表采用这组实验组的透明胶进行制备的封装胶质量越好。
[0013]进一步的，步骤A3和步骤A4是一个重复循环的步骤，用于检测不同加热温度下荧光粉颗粒的沉降速率，当完成所有温度下的测试后再进入步骤A5。
[0014]进一步的，步骤A3中，先将透明胶加热至紫外LED封装时点胶环境温度，进入步骤A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒在点胶环境温度下不同时间段的沉降位置，得到沉降速率；完成后再返回步骤A3，再将透明胶加热至LED封装时烘烤环境温度，进入步骤A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒在烘烤环境温度下不同时间段的沉降位置，得到沉降速率；最后再进入步骤A5，对比不同实验组之间荧光粉颗粒的沉降速率，只有在两个温度下沉降速率均低的，才代表采用这组实验组的透明胶进行制备的封装胶质量越好。
[0015]进一步的，紫外LED封装时点胶环境温度为25℃；LED封装时烘烤环境温度为100℃。
[0016]进一步的，步骤A3和A4之间还包括步骤A3
‑
4，提供激发光源，通过激发光源照射荧光粉颗粒，以激发荧光粉颗粒发光。
[0017]进一步的，所述激发光源为蓝光光源，所述激发光源发出蓝光以激发荧光粉颗粒发出白光。
[0018]进一步的，所述激发光源为蓝光LED光源。
[0019]进一步的，步骤A3中，提供一个带有温控的恒温加热装置，通过所述恒温加热装置同时加热多组实验组的透明胶。
[0020]进一步的，所述透明容器为玻璃烧杯。
[0021]通过本专利技术提供的技术方案，具有如下有益效果：
[0022]通过该方法进行检测荧光粉颗粒在不同透明胶中的沉降速率来判断哪种透明胶最适合制备紫外LED的封装胶，实现快速评估和选择。
附图说明
[0023]图1所示为实施例中紫外LED封装胶质量的评估方法的流程框图；
[0024]图2所示为实施例中测试装置示意图。
具体实施方式
[0025]为进一步说明各实施例，本专利技术提供有附图。这些附图为本专利技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本专利技术的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
[0026]现结合附图和具体实施方式对本专利技术进一步说明。
[0027]如图1所示为本实施例提供一种紫外LED封装胶质量的评估方法，如图2所示为实现该方法的测试装置。评估方法包括如下步骤：
[0028]A1，提供多组实验组，如图2中，每组实验组均设置标有刻度尺21的透明容器20，具体的，刻度尺21的刻度值为0
‑
5cm，且由下往上递增；在每组实验组的透明容器20内倒入相同高度的透明胶(未示出)，且多组实验组的透明容器20内的透明胶均不相同。
[0029]如本实施例中，提供二组实验组，分别为第一实验组和第二实验组；每组实验组的透明容器20的数量优选设置二个以上，以防出现误差。往第一实验组的透明容器20内倒入A胶，往第二实验组的透明容器20内倒入B胶，且二组实验组的透明容器20内的透明胶的高度相同，即保持在同一刻度值上，如均保持在5cm的刻度值上。
[0030]A2，待透明胶平稳后，往每组实验组的透明容器20的透明胶表面放置相同的荧光粉颗粒1；如本具体实施例中，均滴入颗粒径为50
‑
60um的荧光粉颗粒1。
[0031]A3，同时加热多组实验组的透明胶；
[0032]具体的，本实施例中，将上述二组实验组的透明容器20均放置在一个带有温控的恒温加热装置10，如电烤盘或烤箱，通过所述恒温加热装置10同时加热二组实验组的透明胶。使得每组实验组的受热条件相同，且温度可控。
[0033]A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒1在相同温度下不同时间段的沉降位置，得到同一组实验组中的荧光粉颗粒1的沉降速率；
[0034]具体的，该记录的数据为荧光粉颗粒1位置所对应的刻度数值。
[0035]A5，对比不同实验组之间荧光粉颗粒1的沉降速率，沉降速率越低代表采用这组实验组的透明胶进行制备的封装胶质量越好。
[0036]通过该方法进行检测荧光粉颗粒在不同透明胶中的沉降速率来判断哪种透明胶最适合制备紫外LED的封装胶，实现快速评估和选择。
[0037]更为优选的，为了数据更为准确，需要检测在不同温度下的沉降速率；因此，步骤A3和步骤A4是一个重复循环的步骤，用于检测不同加热温度下荧光粉颗粒1的沉降速率，当完成所有温度下的测试后再进入步骤A5。
[0038]具体的，优选采用模拟紫外LED封装的环境温度，即紫外LED封装的环境温度有二个温度，包括点胶时的点胶环境温度，该环境温度为25℃，以及烘烤硬化时的烘烤环境温度，该温度为100℃。
[0039]其具体的方式为：步骤A3中，先将透明胶加热至紫外LED封装时点胶环境温度，即25℃，进入步骤A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒1在点胶环境温度下不同时间段的沉降位置，得到沉降速率；如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种紫外LED封装胶质量的评估方法，其特征在于，包括如下步骤：A1，提供多组实验组，每组实验组均设置标有刻度尺的透明容器，在每组实验组的透明容器内倒入相同高度的透明胶，且多组实验组的透明容器内的透明胶均不相同；A2，待透明胶平稳后，往每组实验组的透明容器的透明胶表面放置相同的荧光粉颗粒；A3，同时加热多组实验组的透明胶；A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒在相同温度下不同时间段的沉降位置，得到同一组实验组中的荧光粉颗粒的沉降速率；A5，对比不同实验组之间荧光粉颗粒的沉降速率，沉降速率越低代表采用这组实验组的透明胶进行制备的封装胶质量越好。2.根据权利要求1所述的紫外LED封装胶质量的评估方法，其特征在于：步骤A3和步骤A4是一个重复循环的步骤，用于检测不同加热温度下荧光粉颗粒的沉降速率，当完成所有温度下的测试后再进入步骤A5。3.根据权利要求2所述的紫外LED封装胶质量的评估方法，其特征在于：步骤A3中，先将透明胶加热至紫外LED封装时点胶环境温度，进入步骤A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒在点胶环境温度下不同时间段的沉降位置，得到沉降速率；完成后再返回步骤A3，再将透明胶加热至LED封装时烘烤环境温度，进入步骤A4，记录同一实验组的...

【专利技术属性】
技术研发人员：高春瑞，郑剑飞，涂舒，苏水源，
申请(专利权)人：厦门多彩光电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：