【技术实现步骤摘要】
一种处理器芯片
[0001]本技术涉及集成电路
,尤其涉及一种处理器芯片。
技术介绍
[0002]随着处理器核数持续增加,处理器裸片的尺寸持续变大,导致良率降低。现有技术主要通过将大尺寸裸片分为相同,或不同的小尺寸的裸片,通过封装完成互联,就能够大幅提高裸片的良率,从而降低成本。另外,大尺寸裸片本质上也受Reticle Size(光照尺寸)的限制,即使不计良率成本,裸片尺寸过大也无法加工。目前高性能计算芯片的裸片之间需要大量数据交互,大量的互联信号亟需通过封装低成本解决,降低计算芯片掩膜的层数。
技术实现思路
[0003]本技术提供了一种处理器芯片,减少封装基板内布线层的层数,降低处理器芯片在封装过程中的掩膜层数,降低封装成本。
[0004]本技术提供了一种处理器芯片,该处理器芯片包括封装基板,该封装基板具有相对的第一面及第二面。封装基板的第一面上设置有至少一个中央处理器裸片,每个中央处理器裸片上具有一个双通道DDR(Double Data Rate,双倍数据速率)焊盘区域、两个PCIE(高速串行计 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种处理器芯片,其特征在于,包括:具有相对的第一面及第二面的封装基板;设置在所述封装基板的第一面上的至少一个中央处理器裸片;每个中央处理器裸片上具有一个双通道DDR焊盘区域、两个PCIE焊盘区域;其中,所述封装基板的第二面上设置有引脚区域,所述引脚区域包括DDR引脚区域和Serdes引脚区域;所述双通道DDR焊盘区域与所述DDR引脚区域电连接,所述两个PCIE焊盘区域与所述Serdes引脚区域电连接;且每个中央处理器裸片具有两个相对的长边和两个相对的短边;所述双通道DDR焊盘区域位于每个中央处理器裸片的长边和短边的交界处,且沿长边延伸;所述两个PCIE焊盘区域中的一个PCIE焊盘区域与所述双通道DDR焊盘区域位于同一长边上,另一个PCIE焊盘区域与所述双通道DDR焊盘区域位于同一短边上;同一边上的所述双通道DDR焊盘区域与所述PCIE焊盘区域之间具有间隔。2.如权利要求1所述的处理器芯片,其特征在于,所述至少一个中央处理器裸片的个数为一个;所述DDR引脚区域的个数为一个,所述Serdes引脚区域的个数为两个;其中,所述DDR引脚区域位于所述封装基板的第二面的左侧或右侧,所述两个Serdes引脚区域分别位于所述封装基板的第二面的上下两侧。3.如权利要求1所述的处理器芯片,其特征在于,所述至少一个中央处理器裸片的个数为两个;所述DDR引脚区域的个数为两个,所述Serdes引脚区域的个数为两个;其中,所述两个DDR引脚区域分别位于所述封装基板的第二面的左右两侧,所述两个Serdes引脚区域分别位于所述封装基板的第二面的上下两侧。4.如权利要求3所述的处理器芯片,其特征在于,所述两个中央处理器裸片沿左右方向并排分布,其中一个中央处理器裸片的长边与...
【专利技术属性】
技术研发人员:于琴,孟凡晓,逯永广,杨光林,于海燕,
申请(专利权)人:成都海光集成电路设计有限公司,
类型:新型
国别省市:
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