一种电子计量装置检测方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术属于数据处理技术领域，尤其涉及一种电子计量装置的检测方法、装置、存储介质及电子设备。所述方法包括：先获取所述电容触控屏的坏点，其中，坏点是指所述电容触控屏中电容值不满足标准条件的电容点，然后当以所述坏点为检测起点，在电容点的排列顺序上连续预设数量的电容点均为坏点时，确定电子计量装置为电容触控屏不合格产品。通过获取电容触控屏找那个电容值不正常的坏点，并以检测到的首个坏点为基点，连续检测排列顺上的其他电容点，以确定电子计量装置是否为合格产品。解决了通过人工检测所述电容触控屏是否损坏，检测效率低，且误差较高这一技术问题，进而能够提高所述检测效率以及提高电子计量装置的计量精度等技术效果。等技术效果。等技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种电子计量装置检测方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请属于数据处理
，尤其涉及一种电子计量装置的检测方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]随着计算机技术的发展，电子计量装置的使用率逐渐提高，且所述电子计量装置也越来越智能化，部分电子计量装置包括用于显示和触控的电容触控屏。而所述电容触控屏的是否良好直接决定了所述电子计量装置的产品合格是否。因此，所述电子计量装置的电容触控屏的检测尤为重要。
[0003]传统的对所述电子计量装置的电容触控屏的检测，多数采用人工检测的方式，通过人工检测所述电容触控屏是否损坏，检测效率低，且误差较高。

技术实现思路

[0004]本申请实施方式提供了一种电子计量装置的检测方法、装置、存储介质及电子设备，以解决传统通过人工检测所述电容触控屏是否损坏，检测效率低，且误差较高这一技术问题。
[0005]本申请实施方式第一方面提供了一种电子计量装置的检测方法，所述电子计量装置包括电容触控屏，所述方法包括：获取所述电容触控屏的坏点，其中，所述坏点是指所述电容触本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子计量装置的检测方法，所述电子计量装置包括电容触控屏，其特征在于，所述方法包括：获取所述电容触控屏的坏点，其中，所述坏点是指所述电容触控屏中电容值不满足标准条件的电容点，所述电容值是通过电容值计算公式进行计算，所述电容值计算公式为，其中，为真空介电常数，为缘介质层的介电常数；S为电极片正相对的部分的面积；d为绝缘介质层的厚度，当所述电容值C不满足标准条件时，确定当前电容点为坏点；当以所述坏点为检测起点，在所述电容点的排列顺序上连续预设数量的所述电容点均为坏点时，确定所述电子计量装置为电容触控屏不合格产品。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述坏点包括第一坏点与第二坏点，对应地，所述获取所述电容触控屏的坏点，其中，所述坏点是指所述电容触控屏中电容值不满足标准条件的电容点，具体包括：当所述电容值小于最低阈值时，确定所述电容值对应的被检测电容点为第一坏点；当所述电容值大于最高阈值时，确定所述电容值对应的所述被检测电容点为第二坏点。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当以所述坏点为检测起点，在所述电容点的排列顺序上连续预设数量的所述电容点均为坏点时，确定所述电子计量装置为电容触控屏不合格产品，具体包括：当所述被检测电容点为第一坏点或者第二坏点时，根所述电容点的排列顺序，判断以所述被检测电容点为起点，向所述排列顺序的起始方向进行检测，判断预设个数的所述电容点是否为第一坏点或第二坏点；若是，确定所述电子计量装置为坏点聚集类型的电容触控屏不合格产品。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当以所述坏点为检测起点，在所述电容点的排列顺序上连续预设数量的所述电容点均为坏点时，确定所述电子计量装置为电容触控屏不合格产品，具体包括：当被检测电容点为第一坏点时，根所述电容点的排列顺序，判断以所述被检测电容点为起点，向所述排列顺序的起始方向进行检测，判断预设个数的所述电容点是否均为第一坏点；若是，确定所述电子计量装置为断线类型的电容触控屏不合格产品。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当以所述坏点为检测起点，在所述电容点的排...

【专利技术属性】
技术研发人员：于浩，刘立斌，
申请(专利权)人：佛山市墨纳森智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：