用于校准激光扫平仪的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种用于校准激光扫平仪的装置，包括：底座平台，被构造用于在第一位置处支撑待安装在其上的激光扫平仪；激光探测器，被设置在底座平台的第二位置处并且被构造用于接收激光；光路延长装置，被设置在激光扫平仪和所述激光探测器之间的第三位置处且被构造用于接收激光扫平仪所发射出的激光并将其经光路延长装置调节后投射到激光探测器上。借助于光路延长装置能够实现激光扫平仪和激光探测器之间的物理距离进行光学延长，能够在激光扫平仪和激光探测器之间的物理距离不变的情况下，能够模拟出激光扫平仪和激光探测器之间的光学光路距离被放大的技术效果，从而能够根据被放大后的光学光路距离来实现激光扫平仪的校准，提高校准精度。提高校准精度。提高校准精度。

【技术实现步骤摘要】
用于校准激光扫平仪的装置


[0001]本技术涉及激光测量领域，更为具体地涉及一种用于校准激光扫平仪的装置。

技术介绍

[0002]传统的对激光水平仪进行校准方法之中通常使用定距离，例如5米或者10米的固定距离，然后将激光水平仪和激光探测器分别固定在预设的位置，以固定的距离来对激光水平仪进行校准，但是这样的方案将使得激光水平仪和探测器之间的距离较大，对于空间的要求较高，而且干扰因素也较多。

技术实现思路

[0003]有鉴于对于
技术介绍
中所存在的问题的深刻理解，本技术的专利技术人想到设计一种借助于光学器件将激光水平仪和激光探测器之间的物理距离进行光学放大，从而能够做到在有限的空间内将物理距离放大，从而提高校准精度的目的。
[0004]具体而言，本技术提出了一种用于校准激光扫平仪的装置，其特征在于，所述装置包括：
[0005]底座平台，所述底座平台被构造用于在第一位置处支撑待安装在其上的激光扫平仪；
[0006]激光探测器，所述激光探测器被设置在所述底座平台的第二位置处并且被构造用于接收激光；以及
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于校准激光扫平仪的装置，其特征在于，所述装置包括：底座平台，所述底座平台被构造用于在第一位置处支撑待安装在其上的激光扫平仪；激光探测器，所述激光探测器被设置在所述底座平台的第二位置处并且被构造用于接收激光；以及光路延长装置，所述光路延长装置被设置在所述激光扫平仪和所述激光探测器之间的第三位置处并且被构造用于接收所述激光扫平仪所发射出的激光并将其经所述光路延长装置调节后投射到所述激光探测器上。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光路延长装置包括：物镜，所述物镜被构造用于接收所述激光扫平仪所发射出的激光；物镜调焦透镜，所述物镜调焦透镜被构造用于对所述物镜所接收到的激光进行调焦处理；以及目镜，所述目镜被构造用于将经过所述物镜调焦透镜所调节的激光投射到所述激光探测器上。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述光路延长装置还包括十字丝分划板，其中，所述十字丝分划板被设置在所述物镜调焦透镜和所述目镜之间。4.根据权利要求2或3所述的装置，其特征在于，所述物镜为包括一组物镜的物镜组。5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光路延长装置具有第一倍数的光路延长倍数。6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光路延长装置被构造为水准仪，其中，所述水准仪的光路中心与所述激光扫平仪所发射出的激光对准。7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述底座平台还包括：控制装置，所述控制装置被构造为基于由所述第一位置、所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：石昕，邢星，
申请(专利权)人：美国西北仪器公司，
类型：新型
国别省市：